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Volumn 12, Issue 5, 2002, Pages 1415-1418

Atomic layer deposition of Al2O3 films using AlCl3 and Al(OiPr)3 as precursors

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ALUMINUM OXIDE; SILICON;

EID: 0036092097     PISSN: 09599428     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/b201385c     Document Type: Article
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References (42)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.