메뉴 건너뛰기




Volumn 44, Issue 3, 2015, Pages

A more accurate measurement of the 28Si lattice parameter

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

SILICON;

EID: 84991812648     PISSN: 00472689     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4917488     Document Type: Article
Times cited : (49)

References (36)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.