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Volumn 102, Issue 2, 1997, Pages 197-206

Scanning LLL x-ray interferometry II. Aberration analysis

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EID: 0009380949     PISSN: 07223277     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s002570050280     Document Type: Article
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References (61)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.