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Volumn 55, Issue 8, 2016, Pages

Tip-enhanced Raman scattering microscopy: Recent advance in tip production

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PRECIOUS METALS; RAMAN SCATTERING; SCANNING PROBE MICROSCOPY;

EID: 84983738234     PISSN: 00214922     EISSN: 13474065     Source Type: Journal    
DOI: 10.7567/JJAP.55.08NA02     Document Type: Conference Paper
Times cited : (27)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.