-
2
-
-
80053581128
-
-
Su, L.; Jing, Y.; Zhou, Z. Nanoscale 2011, 3, 3967-3983
-
(2011)
Nanoscale
, vol.3
, pp. 3967-3983
-
-
Su, L.1
Jing, Y.2
Zhou, Z.3
-
3
-
-
66149156506
-
-
Deng, Y. H.; Deng, C. H.; Qi, W.; Liu, C.; Liu, J.; Zhang, X. M.; Zhao, D. Adv. Mater. 2009, 21, 1377-1382
-
(2009)
Adv. Mater.
, vol.21
, pp. 1377-1382
-
-
Deng, Y.H.1
Deng, C.H.2
Qi, W.3
Liu, C.4
Liu, J.5
Zhang, X.M.6
Zhao, D.7
-
4
-
-
80053492637
-
-
Li, W.; Deng, Y.; Wu, Z.; Qian, X.; Yang, J.; Wang, Y.; Gu, D.; Zhang, F.; Tu, B.; Zhao, D. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 15830-15833
-
(2011)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.133
, pp. 15830-15833
-
-
Li, W.1
Deng, Y.2
Wu, Z.3
Qian, X.4
Yang, J.5
Wang, Y.6
Gu, D.7
Zhang, F.8
Tu, B.9
Zhao, D.10
-
5
-
-
79958773688
-
-
Deng, Y. H.; Cai, Y.; Sun, Z. K.; Zhao, D. Chem. Phys. Lett. 2011, 510, 1-13
-
(2011)
Chem. Phys. Lett.
, vol.510
, pp. 1-13
-
-
Deng, Y.H.1
Cai, Y.2
Sun, Z.K.3
Zhao, D.4
-
6
-
-
77956091482
-
-
Wu, Z.; Li, Q.; Feng, D.; Webley, P. A.; Zhao, D. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 12042-12050
-
(2010)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.132
, pp. 12042-12050
-
-
Wu, Z.1
Li, Q.2
Feng, D.3
Webley, P.A.4
Zhao, D.5
-
7
-
-
40449090496
-
-
Kelzenberg, M. D.; Evans, D. B. T.; Kayes, B. M.; Filler, M. A.; Putnam, M. C.; Lewis, N. S.; Atwater, H. A. Nano Lett. 2008, 8, 710-714
-
(2008)
Nano Lett.
, vol.8
, pp. 710-714
-
-
Kelzenberg, M.D.1
Evans, D.B.T.2
Kayes, B.M.3
Filler, M.A.4
Putnam, M.C.5
Lewis, N.S.6
Atwater, H.A.7
-
8
-
-
15744368237
-
-
Hyden, O.; Greytak, A. B.; Bell, D. C. Adv. Mater. 2005, 17, 701-704
-
(2005)
Adv. Mater.
, vol.17
, pp. 701-704
-
-
Hyden, O.1
Greytak, A.B.2
Bell, D.C.3
-
9
-
-
31044449712
-
-
Seo, K.; Sharma, S.; Yasseri, A. Y.; Stewart, D. R.; Kamins, T. I. Electrochem. Solid State Lett. 2006, 9, G69-G72
-
(2006)
Electrochem. Solid State Lett.
, vol.9
-
-
Seo, K.1
Sharma, S.2
Yasseri, A.Y.3
Stewart, D.R.4
Kamins, T.I.5
-
11
-
-
38849201700
-
-
Xie, T.; Schmidt, V.; Pippel, E.; Senz, S.; Gçsele, U. Small 2008, 4, 64-68
-
(2008)
Small
, vol.4
, pp. 64-68
-
-
Xie, T.1
Schmidt, V.2
Pippel, E.3
Senz, S.4
Gçsele, U.5
-
12
-
-
79959649259
-
-
Shia, X.; Kurstjensb, R.; Vosb, I.; Everaertb, J.; Schaekersc, M. ECS Trans. 2011, 34, 535-540
-
(2011)
ECS Trans.
, vol.34
, pp. 535-540
-
-
Shia, X.1
Kurstjensb, R.2
Vosb, I.3
Everaertb, J.4
Schaekersc, M.5
-
13
-
-
60349122551
-
-
Krylyuk, S.; Davydov, A. V.; Levin, I.; Motayed, A.; Vaudin, M. D. Appl. Phys. Lett. 2009, 94 (6) 063113
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.94
, Issue.6
, pp. 063113
-
-
Krylyuk, S.1
Davydov, A.V.2
Levin, I.3
Motayed, A.4
Vaudin, M.D.5
-
14
-
-
56849117783
-
-
Cui, H.; Wang, C. X.; Yang, G. W. Nano Lett. 2008, 8, 2731-2737
-
(2008)
Nano Lett.
, vol.8
, pp. 2731-2737
-
-
Cui, H.1
Wang, C.X.2
Yang, G.W.3
-
15
-
-
77953298736
-
-
Stan, G.; Krylyuk, S.; Davydov, A. V.; Cook, R. F. Nano Lett. 2010, 10 (6) 2031-2037
-
(2010)
Nano Lett.
, vol.10
, Issue.6
, pp. 2031-2037
-
-
Stan, G.1
Krylyuk, S.2
Davydov, A.V.3
Cook, R.F.4
-
16
-
-
70349671631
-
-
Sivakov, V. A.; Scholz, R.; Syrowatka, F.; Falk, F.; Gosele, U.; Christiansen, S. H. Nanotechnology 2009, 20, 405607-405607-8
-
(2009)
Nanotechnology
, vol.20
, pp. 405607-4056078
-
-
Sivakov, V.A.1
Scholz, R.2
Syrowatka, F.3
Falk, F.4
Gosele, U.5
Christiansen, S.H.6
-
17
-
-
80051937507
-
-
Fazzini, P. F.; Bonafos, C.; Claverie, A.; Hubert, A.; Ernst, T.; Respaud, M. J. Appl. Phys. 2011, 110, 033524
-
(2011)
J. Appl. Phys.
, vol.110
, pp. 033524
-
-
Fazzini, P.F.1
Bonafos, C.2
Claverie, A.3
Hubert, A.4
Ernst, T.5
Respaud, M.6
-
18
-
-
77956539683
-
-
Swain, B. S.; Swain, B. P.; Hwang, N. M. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 15274-15279
-
(2010)
J. Phys. Chem. C
, vol.114
, pp. 15274-15279
-
-
Swain, B.S.1
Swain, B.P.2
Hwang, N.M.3
-
19
-
-
77955303387
-
-
Swain, B. S.; Lee, S. S.; Lee, S. H.; Swain, B. P.; Hwang, N. M. Chem. Phys. Lett. 2010, 494, 269-273
-
(2010)
Chem. Phys. Lett.
, vol.494
, pp. 269-273
-
-
Swain, B.S.1
Lee, S.S.2
Lee, S.H.3
Swain, B.P.4
Hwang, N.M.5
-
21
-
-
80052161490
-
-
Swain, B. S.; Swain, B. P.; Lee, S. S.; Hwang, N. M. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 16745-16752
-
(2011)
J. Phys. Chem. C
, vol.115
, pp. 16745-16752
-
-
Swain, B.S.1
Swain, B.P.2
Lee, S.S.3
Hwang, N.M.4
-
22
-
-
77958197516
-
-
Swain, B. S.; Swain, B. P.; Hwang, N. M. J. Appl. Phys. 2010, 108, 073709
-
(2010)
J. Appl. Phys.
, vol.108
, pp. 073709
-
-
Swain, B.S.1
Swain, B.P.2
Hwang, N.M.3
-
23
-
-
79960156528
-
-
Swain, B. S.; Lee, S. S.; Lee, S. H.; Swain, B. P.; Hwang, N. M. J. Cryst. Growth 2011, 327, 276-280
-
(2011)
J. Cryst. Growth
, vol.327
, pp. 276-280
-
-
Swain, B.S.1
Lee, S.S.2
Lee, S.H.3
Swain, B.P.4
Hwang, N.M.5
-
26
-
-
56949098509
-
-
Swain, B. P.; Swain, B. S.; Hwang, N. M. Appl. Surf. Sci. 2008, 255, 2557-2560
-
(2008)
Appl. Surf. Sci.
, vol.255
, pp. 2557-2560
-
-
Swain, B.P.1
Swain, B.S.2
Hwang, N.M.3
-
28
-
-
79958863321
-
-
Ruqeishi, M. S. A.; Nor, R. M.; Amin, Y. M.; Azri, K. A. Silicon 2011, 3, 145-151
-
(2011)
Silicon
, vol.3
, pp. 145-151
-
-
Ruqeishi, M.S.A.1
Nor, R.M.2
Amin, Y.M.3
Azri, K.A.4
-
29
-
-
77952952419
-
-
Ruqeishi, M. S. A.; Nor, R. M.; Amin, Y. M.; Azri, K. A. Silicon 2010, 2, 19-24
-
(2010)
Silicon
, vol.2
, pp. 19-24
-
-
Ruqeishi, M.S.A.1
Nor, R.M.2
Amin, Y.M.3
Azri, K.A.4
-
30
-
-
34547379219
-
-
Noe, P.; Guignard, J.; Gentile, P.; Delamadeleine, E.; Calvo, V.; Ferret, P.; Dhalluin, F.; Baron, T. J. Appl. Phys. 2007, 102, 016103
-
(2007)
J. Appl. Phys.
, vol.102
, pp. 016103
-
-
Noe, P.1
Guignard, J.2
Gentile, P.3
Delamadeleine, E.4
Calvo, V.5
Ferret, P.6
Dhalluin, F.7
Baron, T.8
-
31
-
-
34247262721
-
-
Fukata, N.; Chen, J.; Sekiguchi, T.; Matsushita, S.; Oshima, T.; Uchida, N.; Murakami, K.; Tsurui, T.; Ito, S. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 153117
-
(2007)
Appl. Phys. Lett.
, vol.90
, pp. 153117
-
-
Fukata, N.1
Chen, J.2
Sekiguchi, T.3
Matsushita, S.4
Oshima, T.5
Uchida, N.6
Murakami, K.7
Tsurui, T.8
Ito, S.9
-
32
-
-
34047263831
-
-
Niu, J. J.; Wang, J. N.; Chen, Y. X. Mater. Sci. Eng. B 2007, 139, 95-98
-
(2007)
Mater. Sci. Eng. B
, vol.139
, pp. 95-98
-
-
Niu, J.J.1
Wang, J.N.2
Chen, Y.X.3
-
33
-
-
79955422806
-
-
Faraci, G.; Gibilisco, S.; Pennisi, A. R.; Faraci, C. J. Appl. Phys. 2011, 109, 074311-074311-4
-
(2011)
J. Appl. Phys.
, vol.109
, pp. 074311-0743114
-
-
Faraci, G.1
Gibilisco, S.2
Pennisi, A.R.3
Faraci, C.4
-
34
-
-
0037175936
-
-
Narayanan, V.; Guha, S.; Copel1, M.; Bojarczuk, N. A.; Flaitz, P. L.; Gribelyuk, M. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 4183-4185
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.81
, pp. 4183-4185
-
-
Narayanan, V.1
Guha, S.2
Copel, M.3
Bojarczuk, N.A.4
Flaitz, P.L.5
Gribelyuk, M.6
-
36
-
-
0041880452
-
-
Hoshino, T.; Hata, M.; Neya, S.; Nishioka1, Y.; Watanabe, T.; Tatsumura, K.; Ohdomari, I. J. Appl. Phys. 2003, 42, 3560-3565
-
(2003)
J. Appl. Phys.
, vol.42
, pp. 3560-3565
-
-
Hoshino, T.1
Hata, M.2
Neya, S.3
Nishioka, Y.4
Watanabe, T.5
Tatsumura, K.6
Ohdomari, I.7
-
38
-
-
34347374500
-
-
Dovrat, M.; Arad, N.; Zhang, X. H.; Lee, S. T.; Saar, A. Phys. Rev. B 2007, 75, 205343-205347
-
(2007)
Phys. Rev. B
, vol.75
, pp. 205343-205347
-
-
Dovrat, M.1
Arad, N.2
Zhang, X.H.3
Lee, S.T.4
Saar, A.5
|