Electrical measurements in molecular electronics

Chemistry of Materials

Volumn 16, Issue 23, 2004, Pages 4423-4435

  James, Dustin K ^a   Tour, James M ^a  

^a RICE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELECTRIC WIRE; MECHANICAL CONTROL EQUIPMENT; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SILICON; TRANSPORT PROPERTIES;

CROSSED-WIRE JUNCTIONS; MOLECULAR ELECTRONICS;

MICROELECTRONICS;

BENZENE 1,4 DITHIOL; SILICON; THIOL DERIVATIVE; UNCLASSIFIED DRUG;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CONDUCTANCE; CONJUGATION; ELECTROCHEMISTRY; ELECTRODE; ELECTRON TRANSPORT; ELECTRONICS; MOLECULAR DYNAMICS; MOLECULAR ELECTRONICS; MOLECULAR INTERACTION; NANOPARTICLE; REVIEW; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

EID: 8444235418     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm049648r     Document Type: Review

References (72)

1. Tour, J. M. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 791-804.
2. Tour, J. M.; James, D. K. Handbook of Nanoscience, Engineering and Technology; Goddard, W. A., III, Brenner, D. W., Lyshevski, S. E., Iafrate, G. J., Eds.; CRC Press: New York, 2003; pp 4.1-4.28.
3. Tour, J. M. Molecular Electronics: Commercial Insights, Chemistry, Devices, Architecture and Programming; World Scientific: River Edge, NJ, 2003.
4. Hwang, J.-J.; Tour, J. M. Tetrahedron 2002, 58, 10387-10405.
5. Dirk, S. M.; Tour, J. M. Tetrahedron 2003, 59, 287-293.
6. Price, D. W., Jr.; Tour, J. M. Tetrahedron 2003, 59, 3131-3156.
7. Flatt, A. K.; Dirk, S. M.; Henderson, J. C.; Shen, D. E.; Su, J.; Reed, M. A.; Tour, J. M. Tetrahedron 2003, 59, 8555-8570.
8. Flatt, A. K.; Tour, J. M. Tetrahedron Lett. 2003, 44, 6699-6702.
9. Stewart, M. P.; Maya, F.; Kosynkin, D. V.; Dirk, S. M.; Stapleton, J. J.; McGuiness, C. L.; Allara, D. L.; Tour, J. M. J. Am. Chem Soc. 2004, 126, 370-378.
10. Ciszek, J. W.; Tour, J. M. Tetrahedron Lett. 2004, 45, 2801-2803.
11. Metzger, R. M. Chem. Rev. 2003, 103, 3803-3834.
12. Carroll, R. L.; Gorman, C. B. Angew. Chem., Int. Ed. 2002, 41, 4378-4400.
13. Mantooth, B. A.; Weiss, P. S. Proc. IEEE 2003, 91, 1785-1802.
14. Salomen, A.; Cahen, D.; Lindsay, S.; Tomfohr, J.; Engelkes, V. B.; Frisbie, C. D. Adv. Mater. 2003, 15, 1881-1890.
15. Stapleton, J. J.; Harder, P.; Daniel, T. A.; Reinard, M. D.; Yao, Y.; Price, D. W.; Tour, J. M.; Allara, D. L. Langmuir 2003, 19, 8245-8255.
16. Cai, L.; Yao, Y.; Yang, J.; Price, D. W., Jr.; Tour, J. M. Chem. Mater. 2002, 14, 2905-2909.
17. Kushmerick, J. G.; Naciri, J.; Yang, J. C.; Shashidhar, R. Nano Lett. 2003, 3, 897-900.
18. Lee, T.; Wang. W.; Reed, M. A. Ann. N.Y. Acad. Sci. 2003, 1006, 21-35.
19. Weiss, P. S. Science 2004, 303, 1136-1137.
20. Kushmerick, J. G.; Holt, D. B.; Yang, J. C.; Naciri, J.; Moore, M. H.; Shashidar, R. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 086802-1-086802-4.
21. Pollack, S. K.; Naciri, J.; Mastrangelo, J.; Patterson, C. H.; Torres, J.; Moore, M.; Shashidar, R.; Kushmerick, J. G. Langmuir 2004, 20, 1838-1842.
22. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1766-1770.
23. Price, D. W., Jr.; Dirk, S. M.; May, F.; Tour, J. M. Tetrahedron 2003, 59, 2497-2518.
24. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252-254.
25. Reichert, J.; Ochs, R.; Beckman, D.; Weber, H. B.; Mayor, M.; Löhneysen, H. v. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 176804-1-176804-4.
26. Reichert, J.; Weber, H. B.; Mayor, M.; Löhneysen, H. v. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 4137-4139.
27. Weber, H. B.; Reichert, J.; Weigend, F.; Ochs, R.; Beckmann, D.; Mayor, M.; Ahlrichs, R.; Löhneysen, H. v. Chem. Phys. 2002, 281, 113-125.
28. Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 2970-2971.
29. Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5549-5556.
30. Wold, D. J.; Haag, R.; Rampi, M. A.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2813-2816.
31. Rawlett, A. M.; Hopson, T. J.; Nagahara, L. A.; Tsui, R. K.; Ramachandran, G. K.; Lindsay, S. M. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 3043-3045.
32. Cui, X. D.; Zarate, X.; Tomforh, J.; Sankey, O. F.; Primak, A.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Nanotechnology 2002, 13, 5-14.
33. Slowinski, K.; Chamberlain, R. V.; Miller, C. J.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 910-911.
34. Xu, B.; Xiao, X.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 16164-16165.
35. Samori, P.; Rabe, J. P. J. Phys. Condens. Matter 2002, 14, 9955-9973.
36. Chen, J.; Reed, M. A.; Asplund, C. L.; Cassell, A. M.; Myrick, M. L.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M.; Van Patten, P. G. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 624-626.
37. Dunbar, T. D.; Cygan, M. T.; Bumm, L. A.; McCarty, G. S.; Burgin, T. P.; Reinerth, W. A.; Jone, L., II; Jackiw, J. J.; Tour, J. M.; Weiss, P. S.; Allara, D. L. J. Phys. Chem. 2000, 104, 4880-4893.
38. Donhauser, Z. J.; Price, D. W., II; Tour, J. M.; Weiss, P. S. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 11462-11463.
39. Donhauser, Z. J.; Mantooth, B. A.; Kelly, K. F.; Bumm, L. A.; Monnell, J. D.; Stapleton, J. J.; Price, D. W., Jr.; Rawlett, A. M.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 2001, 292, 2303-2307.
40. Ishida, T. I.; Mizutani, W.; Choi, N.; Akiba, U.; Fujihira, M.; Tokumoto, H. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 11680-11688.
41. Ishida, T.; Mizutani, W.; Akiba, U.; Umemura, K.; Inoue, A.; Choi, N.; Fujihara, M.; Tokumoto, H. J. Phys. Chem. B 1999, 193, 1686-1690.
42. Yang, G.; Qian, Y.; Engtrakul, C.; Sita, L. R.; Liu, G. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 9059-9062.
43. Gorman, C. B.; Carroll, R. L.; Fuierer, R. R. Langmuir 2001, 17, 6923-6930.
44. Patrone, L.; Palacin, S.; Bourgoin, J. P.; Lagoute, J.; Zambelli, T.; Gauthier, S. Chem. Phys. 2002, 281, 325-332.
45. Seminario, J. M.; Zacarias, A. G.; Tour, J. M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 411-416.
46. Yasuda, S.; Nakamura, T.; Matsumoto, M.; Shigekawa, H. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 16430-16433.
47. Wassel, R. A.; Fuierer, R. R.; Kim, H.; Gorman, C. B. Nano Lett. 2003, 3, 1617-1620.
48. Wassel, R. A.; Credo, G. M.; Fuierer, R. R.; Feldheim, D. L.; Gorman, C. B. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 295-300.
49. Blum, A. S.; Yang, J. C.; Shashidar, R.; Ratna, B. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 3322-3324.
50. Kosynkin, D. V.; Tour, J. M. Org. Lett. 2001, 3, 993.
51. Stewart, M. P.; Maya, F.; Kosynkin, D. V.; Dirk, S. M.; Stapleton, J. J.; McGuiness, C. L.; Allara, D. L.; Tour, J. M. J. Am. Chem Soc. 2004, 126, 370-378.
52. Wang, W.; Lee, T.; Kamdar, M.; Reed, M. A.; Stewart, M. P.; Huang, J. J.; Tour, J. M. Ann. N.Y. Acad. Sci. 2003, 1006, 36-47.
53. Wang, W.; Lee, T.; Reed, M. A.; Stewart, M. P.; Huang, J. J.; Tour, J. M. Superlattices Microstruct. 2003, 33, 213.
54. Guisinger, N. P.; Greene, M. E.; Basu, R.; Baluch, A. S.; Hersam, M. C. Nano Lett. 2004, 4, 55-59.
55. Tour, J. M.; Cheng, L.; Nackashi, D. P.; Yao, Y.; Flatt, A. K.; St. Angelo, S. K.; Mallouk, T. E.; Franzon, P. D. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 13279-13283.
56. Tour, J. M.; Van Zandt, W. L.; Husband, C. P.; Husband, S. M.; Wilson, L. S.; Franzon, P. D.; Nackashi, D. P. IEEE Trans. Nanotechnol. 2002, 1, 100.
57. Chen J.; Wang, W.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Price, D. W.; Tour, J. M. Mater. Res. Soc. Proc. 2001, 582, H3.2.1-H3.2.5.
58. Reed, M. A.; Chen, J.; Rawlett, A. M.; Price, D. W.; Tour, J. M. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 3735-3737.
59. Chen, J.; Reed, M. A.; Chem. Phys. 2002, 281, 127-145.
60. Amlani, I.; Rawlett, A. M.; Nagahara, L. A.; Tsui, R. K. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 2761-2763.
61. Amlani, I.; Rawlett, A. M.; Nagahara, L. A.; Tsui, R. J. Vac. Sci. Technol. B 2002, 20, 2802-2805.
62. Shen, J.; Kramer, G.; Tehrani, S.; Goronkin, H.; Tsui, R. IEEE Electron Device Lett. 1995, 16, 178.
63. Fan, F.-R. F.; Yang, J.; Cai, L.; Price, D. W., Jr.; Dirk, S. M.; Kosynkin, D. V.; Yao, Y.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5550-5560.
64. Karrai, K.; Grober, R. D. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 1842-1844.
65. Stewart, D. R.; Ohlberg, D. A. A.; Beck, P. A.; Chen, Y.; Williams, R. S.; Jeppesen, J. O.; Nielsen, K. A.; Stoddart, J. F. Nano Lett. 2004, 4, 133-136.
66. Haag, R.; Rampi, M. A.; Holmlin, R. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 7895-7906.
67. Holmlin, R. E.; Haag, R.; Chabinye, M. L.; Ismagilov, R. F.; Cohen, A. E.; Terfort, A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5075-5085.
68. Chabinyc, M. L.; Chen, X.; Holmlin, R. E.; Jacobs, H.; Skulason, H.; Frisbie, C. D.; Mujica, V.; Ratner, M. A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 11730-11736.
69. Mbindyo, J. K. N.; Mallouk, T. E.; Mattzela, J. B.; Kratochvilova, I.; Razavi, R.; Jackson, T. N.; Mayer, T. S. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 4020-4026.
70. Kratochvilova, I.; Kocirik, M.; Zambova, A.; Mbindyo, J.; Mallouk, T. E.; Mayer, T. S. J. Mater. Chem. 2002, 12, 2927-2930.
71. Cai, L. T.; Skulason, H.; Kushmerick, J. G.; Pollack, S. K.; Naciri, J.; Shashidhar, R.; Allara, D. L.; Mallouk, T. E.; Mayer, T. S. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 2827-2832.
72. De Boer, B.; Frank, M. M.; Chabal, Y. J.; Jianh, W.; Garfunkel, E.; Bao, Z. Langmuir 2004, 20, 1539-1542.