Structural Effects on Electrical Conduction of Conjugated Molecules Studied by Scanning Tunneling Microscopy

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 104, Issue 49, 2000, Pages 11680-11688

  Ishida, Takao ^a,b,c   Mizutani, Wataru ^a,f   Choi, Nami ^d   Akiba, Uichi ^e   Fujihira, Masamichi ^e   Tokumoto, Hiroshi ^a  

^a NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY AIST   (Japan)

^b NATL INST FOR ADV INTERDISC RES   (Japan)

^c JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY   (Japan)

^d JRCAT Atom Technology Partnership   (Japan)

^e TOKYO INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Japan)

^f ELECTROTECHNICAL LABORATORY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001321068     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0018450     Document Type: Article

References (50)

1. Carter, F. L. Molecular Electric Devices; Marcel Dekker: New York, 1982.
2. Iijima, S. Nature 1991, 354, 56.
3. Tour, J. M.; Jones, L., II.; Pearson, D. L.; Lamba, J. J.; Burgin, T. P.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Parkh, A. N.; Atre, S. V. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9529.
4. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Jones, L., II.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271, 1705. Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Arnold, J. J.; Bumm, L. A.; Shedlock, N. F.; Burgin, T. P.; Jones, L., II.; Allara, D. L.; Tour J. M.; Weiss P. S. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 2721.
5. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Jones, L., II.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271, 1705. Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Arnold, J. J.; Bumm, L. A.; Shedlock, N. F.; Burgin, T. P.; Jones, L., II.; Allara, D. L.; Tour J. M.; Weiss P. S. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 2721.
6. Leatherman, G.; Durantini, E. N.; Gust, D.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Stone. S.; Zhou, Z.; Lez, P.; Liu, Y. Z.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. 1999, B103, 4006.
7. Kelly, K. F.; Shom, T.-S.; Lee, T. R.; Halas, N. J. J. Phys. Chem. 1999, B103, 8639.
8. Kergueris, C.; Bourgoin, J. P.; Palacin, S. Nanotechnology 1999, 10, 8.
9. Salmeron, M.; Neubauer, G.; Folch, A.; Tomitori, M.; Ogletree, D. F.; Sautet, P. Langmuir 1993, 8, 3600.
10. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Dunbar, T. D.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. 1999, B103, 8122.
11. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252.
12. Epstein, A. J. MRS Bulletin 1997, 22, 16.
13. Stranick, S. J.; Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. 1994, 98, 11136.
14. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Charles, L. S.; Dunbar, T. D.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 8017.
15. Tamada, K.; Hara, M.; Sasabe H.; Knoll, W. Langmuir 1997, 13, 1558.
16. Ishida, T.; Yamamoto, S.-I.; Mizutani, W.; Motomatsu, M.; Tokumoto, H.; Hokari, H.; Azehara, H.; Fujihira, M. Langmuir 1997, 13, 3261.
17. Hobara, D.; Sasaki, T.; Imabayashi, S.; Kakiuchi, T. Langmuir 1999, 15, 5073.
18. Nishida, N.; Hara, M.; Sasabe, H.; Knoll, W. Jpn J. Appl. Phys. 1997, 36, 2379.
19. Ishida T.; Mizutani, W.; Akiba, U.; Umemura, K.; Inoue, A.; Choi, N.; Fujihira, M.; Tokumoto, H. J. Phys. Chem. 1999, B103, 1686.
20. Mizutani, W.; Ishida, T.; Tokumoto, H.; Jpn. J. Appl. Phys. 1999, 38, 3892.
21. Ishida, T.; Mizutani, W.; Tokumoto, H.; Choi, N.; Akiba, U.; Fujihira, M. J. Vac. Sci. Technol. 2000, A18, 1437.
22. Ishida, T.; Choi, N.; Mizutani, W.; Tokumoto, H.; Kojima, I.; Azehara, H.; Akiba, U.; Hokari, H.; Fujihira, M. Langmuir 1999, 15, 6799.
23. Samanta, M. P.; Tian, W.; Datta, S.; Henderson, J. I.; Kubiak, C. P. Phys. Rev. 1996, B53, R7626.
24. Magoga, M.; Joachim, C. Phys. Rev. 1999, B59, 16011.
25. Tao, Y.-T.; Wu, C.-C.; Eu, J.-Y.; Lin, W.-L.; Wu, K.-C; Chen, C. Langmuir 1997, 13, 4018.
26. Sabatani, E.; Cohne-Boulakia, J.; Bruening, M.; Rubinstein, I. Langmuir 1993, 9, 2974.
27. Himmel, H.-J.; Terfort, A.; Wöll, Ch. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 12069.
28. 2) 127.01-127.46 (benzene ring) 128.79 (ring), 128.86 (ring), 138.27 (ring) 139.88-140.71 (ring).
29. Sasaki, M.; Komai, M.; Ozawa, R.; Yamamoto, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, 6186.
30. Poirier, G. E.; Tarlov, M. J. Langmuir 1994, 10, 2853.
31. Delamarche, E.; Michel, B.; Gerber, C.; Anselmetti, D.; Guntherodt, H.-J.; Wolf, H.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 2869.
32. Wöll, Ch.; Chiang, S.; Wilson, R. J.; Lippel, P. H. Phys. Rev. 1989, B39, 7988.
33. Sellers, H.; Ulman, A.; Shindman, Y.; Eilers, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 9389.
34. Poirier, G. E. Langmuir 1997, 13, 2019.
35. Hara, M.; Sasabe, H.; Knoll, W. Thin Solid Films 1996, 273, 66.
36. Bain, C. D.; Troughton, E. B.; Tao Y.-T.; Evall, J.; Whitesides, G. M.; Nuzzo; J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321.
37. Nakanishi, S.; Tsukada, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, 3805. Nakanishi, S.; Tsukada, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, L1400. Nakanishi, S.; Tsukada, M. Surf. Sci. 1999, 438, 305.
38. Nakanishi, S.; Tsukada, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, 3805. Nakanishi, S.; Tsukada, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, L1400. Nakanishi, S.; Tsukada, M. Surf. Sci. 1999, 438, 305.
39. Nakanishi, S.; Tsukada, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, 3805. Nakanishi, S.; Tsukada, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, L1400. Nakanishi, S.; Tsukada, M. Surf. Sci. 1999, 438, 305.
40. Zeppenfeld, P.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M. Ultramicroscopy 1992, 42-44, 128.
41. Campbell, I. H.; Rubin, S.; Zawodzinski, T. A.; Kress, J. D.; Martin, R. L.; Smith, D. L.; Barashkov, N. N.; Ferraris, J. P. Phys. Rev. 1996, B54, R14321. Campbell, I. H.; Kress, J. D.; Martin, R. L.; Smith, D. L. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 3528.
42. Campbell, I. H.; Rubin, S.; Zawodzinski, T. A.; Kress, J. D.; Martin, R. L.; Smith, D. L.; Barashkov, N. N.; Ferraris, J. P. Phys. Rev. 1996, B54, R14321. Campbell, I. H.; Kress, J. D.; Martin, R. L.; Smith, D. L. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 3528.
43. Zehner, R. W.; Parsons, B. F.; Hsung, R. P.; Sita, L. R. Langmuir 1999, 15, 1121.
44. Narioka, S.; Ishii, H.; Yoshimura, D.; Sei, M.; Ouchi, Y.; Seki, K.; Hasegawa, S.; Miyazaki, T.; Harima, Y.; Yamashita, K. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 1899.
45. Benning, P. J.; Poirier, D. M.; Ohno, T. R.; Chen, Y.; Jost, M. B.; Stepniak, F.; Kroll, G. H.; Weaver, J. H.; Fure, J.; Smalley, R. E. Phys. Rev. 1992, B45, 6899.
46. Enkvist, Ch.; Lunell, S.; Söjgren, B.; Brühwiler, P. A.; Svensson, S. J. Chem. Phys. 1997, 103, 6333.
47. Onoe, J.; Nakao, A.; Takeuchi, K. Phys. Rev. 1997, B55, 10051.
48. Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1989, 93, 1670.
49. Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550.
50. Seminario, J. M.; Zacarias, A. G.; Tour, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 3015.