Synthesis and characterization of mixed methyl/allyl monolayers on Si(111)

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 114, Issue 45, 2010, Pages 14298-14302

  O'Leary, Leslie E ^a   Johansson, Erik ^a   Brunschwig, Bruce S ^a   Lewis, Nathan S ^a  

^a CALIFORNIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALKYLATION; INFRARED SPECTROSCOPY; MONOLAYERS; OXIDATION; SYNTHESIS (CHEMICAL); X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

ALKYL GROUPS; ALKYLATION REACTIONS; FUNCTION OF TIME; MICROWAVE CONDUCTIVITY MEASUREMENT; MIXED MONOLAYERS; SI (1 1 1); SURFACE FUNCTIONALIZATION; SURFACE OXIDATIONS; SURFACE RECOMBINATION VELOCITIES; SYNTHESIS AND CHARACTERIZATIONS;

SILICON;

EID: 78650135989     PISSN: 15206106     EISSN: 15205207     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp911379c     Document Type: Article

References (43)

1. Buriak, J. M. Chem. Commun. 1999, 1051-1060.
2. Buriak, J. M. Chem. Rev. 2002, 102, 1271-1308.
3. Yates, J. T. Science 1998, 279, 335-336.
4. Teplyakov, A. V.; Kong, M. J.; Bent, S. F. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 11100-11101.
5. Linford, M. R.; Chidsey, C E. D. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 12631-12632.
6. Linford, M. R.; Fenter, P.; Eisenberger, P. M.; Chidsey, C E. D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 3145-3155.
7. Sieval, A. B.; Demirel, A. L.; Nissink, J. W. M.; Linford, M. R.; van der Maas, J. H.; de Jeu, W. H.; Zuilhof, H.; Sudholter, E. J. R. Langmuir 1998, 14, 1759-1768.
8. Terry, J.; Linford, M. R.; Wigren, C.; Cao, R. Y.; Pianetta, P.; Chidsey, C. E. D. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 1056-1058.
9. Stewart, M. P.; Buriak, J. M. Angew. Chem., Int. Ed. 1998, 37, 3257-3260.
10. Lewis, L. N. J. Am. Chem. Soc 1990, 112, 5998-6004.
11. Bansal, A.; Li, X. L.; Lauermann, I.; Lewis, N. S.; Yi, S. I.; Weinberg, W. H. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 7225-7226.
12. Allongue, P.; Delamar, M.; Desbat, B.; Fagebaume, O.; Hitmi, R.; Pinson, J.; Saveant, J. M. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 201-207.
13. Niederhauser, T. L.; Jiang, G. L.; Lua, Y. Y.; Dorff, M. J.; Woolley, A. T.; Asplund, M. C.; Berges, D. A.; Linford, M. R. Langmuir 2001, 17, 5889-5900.
14. Pike, A. R.; Lie, L. H.; Eagling, R. A.; Ryder, L. C.; Patole, S. N.; Connolly, B. A.; Horrocks, B. R.; Houlton, A. Angew. Chem., Int. Ed 2002, 41, 615-617.
15. Strother, T.; Cai, W.; Zhao, X. S.; Hamers, R. J.; Smith, L. M. J. Am. Chem. Soc 2000, 122, 1205-1209.
16. Fabre, B.; Lopinski, G. P.; Wayner, D. D. M. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 14326-14335.
17. Royea, W. J.; Juang, A.; Lewis, N. S. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 1988-1990.
18. Hunger, R.; Fritsche, R.; Jaeckel, B.; Jaegermann, W.; Webb, L. J.; Lewis, N. S. Phys. Rev. B 2005, 72, 045317.
19. Yu, H. B.; Webb, L. J.; Ries, R. S.; Solares, S. D.; Goddard, W. A.; Heath, J. R.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 671-674.
20. Nemanick, E. J.; Solares, S. D.; Goddard, W. A.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 14842-14848.
21. Maldonado, S.; Plass, K. E.; Knapp, D.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 17690-17699.
22. Juang, A.; Scherman, O. A.; Grabbs, R. H.; Lewis, N. S. Langmuir 2001, 17, 1321-1323.
23. Plass, K. E.; Liu, X. L.; Brunschwig, B. S.; Lewis, N. S. Chem. Mater. 2008, 20, 2228-2233.
24. Rohde, R. D.; Agnew, H. D.; Yeo, W. S.; Bailey, R. C.; Heath, J. R. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 9518-9525.
25. Dutta, S.; Perring, M.; Barrett, S.; Mitchell, M.; Kenis, P. J. A.; Bowden, N. B. Langmuir 2006, 22, 2146-2155.
26. Faucheux, A.; Gouget-Laemmel, A. C.; de Villeneuve, C H.; Boukherroub, R.; Ozanam, F.; Allongue, P.; Chazalviel, J. N. Langmuir 2006, 22, 153-162.
27. Sun, Q. Y.; de Smet, L.; van Lagen, B.; Giesbers, M.; Thune, P. C.; van Engelenburg, J.; de Wolf, F. A.; Zuilhof, H.; Sudholter, E. J. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 2514-2523.
28. Liu, Y. J.; Navasero, N. M.; Yu, H. Z. Langmuir 2004, 20, 4039-4050.
29. Boukherroub, R.; Wayner, D. D. M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 11513-11515.
30. Offord, D. A.; Griffin, J. H. Langmuir 1993, 9, 3015-3025.
31. Mathauer, K.; Frank, C. W. Langmuir 1993, 9, 3002-3008.
32. Heise, A.; Stamm, M.; Rauscher, M.; Duschner, H.; Menzel, H. Thin Solid Films 1998, 327, 199-203.
33. Fabre, B.; Hauquier, F. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 6848-6855.
34. Nemanick, E. J.; Hurley, P. T.; Brunschwig, B. S.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 14800-14808.
35. Amy, S. R.; Michalak, D. J.; Chabal, Y. J.; Wielunski, L.; Hurley, P. T.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 13053-13061.
36. Higashi, G. S.; Chabal, Y. J.; Trucks, G. W.; Raghavachari, K. Appl. Phys. Lett. 1990, 56, 656-658.
37. Bansal, A.; Li, X. L.; Yi, S. I.; Weinberg, W. H.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 10266-10277.
38. Webb, L. J.; Rivillon, S.; Michalak, D. J.; Chabal, Y. J.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 7349-7356.
39. Milosevic, M.; Milosevic, V.; Berets, S. L. Appl. Spectrosc. 2007, 61, 530-536.
40. Johansson, E.; Hurley, P. T.; Brunschwig, B. S.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. C 2009, 115, 15239-15245.
41. Cicero, R. L.; Linford, M. R.; Chidsey, C. E. D. Langmuir 2000, 16, 5688-5695.
42. Neuwald, U.; Hessel, H. E.; Feltz, A.; Memmert, U.; Behm, R. J. Appl. Phys. Lett. 1.992, 60, 1307-1309.
43. Webb, L. J.; Michalak, D. J.; Biteen, J. S.; Brunschwig, B. S.; Chan, A. S. Y.; Knapp, D. W.; Meyer, H. M.; Nemanick, E. J.; Traub, M. C.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 23450-23459.