Covalently attached monolayers on crystalline hydrogen-terminated silicon: Extremely mild attachment by visible light

Journal of the American Chemical Society

Volumn 127, Issue 8, 2005, Pages 2514-2523

  Sun, Qiao Yu ^a   De Smet, Louis C P M ^a   Van Lagen, Barend ^a   Giesbers, Marcel ^a   Thüne, Peter C ^b   Van Engelenburg, Johan ^a   De Wolf, Frits A ^a   Zuilhof, Han ^a   Sudhölter, Ernst J R ^a  

^a WAGENINGEN UNIVERSITY   (Netherlands)

^b EINDHOVEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION SPECTROSCOPY; CONTACT ANGLE; CRYSTALLINE MATERIALS; DOPING (ADDITIVES); HYDROGEN; INFRARED RADIATION; INFRARED SPECTROSCOPY; LIGHT ABSORPTION; LIGHT REFLECTION; LIGHT SOURCES; OLEFINS; REACTION KINETICS; SILICON WAFERS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

1-ALKENES; 1-ALKYNES; INFRARED REFLECTION; VISIBLE LIGHT;

MONOLAYERS;

ALKENE; ALKYNE; HYDROGEN; SILICON;

ARTICLE; CHEMICAL COMPOSITION; CONTACT ANGLE; COVALENT BOND; EVALUATION; INFRARED SPECTROSCOPY; LIGHT; REACTION ANALYSIS; ROOM TEMPERATURE; ULTRAVIOLET RADIATION; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 14744269444     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja045359s     Document Type: Article

References (54)

1. Wayner, D. D. M.; Wolkow, R. A. J. Chem. Soc., Perkin Trans. 2 2002, 23-34.
2. Buriak, J. M. Chem. Rev. 2002, 102, 1271-1308.
3. Sieval, A. B.; Linke, R.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Adv. Mater. 2000, 12, 1457-1460.
4. Linford, M. R.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 12631-12632.
5. Linford, M. R.; Fenter, P.; Eisenberger, P. M.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 3145-3155.
6. Sieval, A. B.; Demirel, A. L.; Nissink, J. W. M.; Linford, M. R.; van der Maas, J. H.; de Jeu, W. H.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Langmuir 1998, 14, 1759-1768.
7. Sieval, A. B.; van den Hout, B.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Langmuir 2001, 17, 2172-2181.
8. Sieval, A. B.; Opitz, R.; Maas, H. P. A.; Schoeman, M. G.; Meijer, G.; Vergeldt, F. J.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Langmuir 2000, 16, 10359-10368.
9. Cicero, R. L.; Linford, M. R.; Chidsey, C. E. D. Langmuir 2000, 16, 5688-5695.
10. Effenberger, F.; Gotz, G.; Bidlingmaier, B.; Wezstein, M. Angew. Chem., Int. Ed. 1998, 37, 2462-2464.
11. Strother, T.; Hamers, R. J.; Smith, L. M. Nucleic Acid Res. 2000, 28, 3535-3541.
12. Strother, T.; Cai, W.; Zhao, X.; Hamers, R. J.; Smith, L. M. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 1205-1209.
13. de Villeneuve, C. H.; Pinson, J.; Bernard, M. C.; Allongue, P. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 2415-2420.
14. Gurtner, C.; Wun, A. W.; Sailor, M. J. Angew. Chem., Intl. Ed. 1999, 38, 1966-1968.
15. Robins, E. G.; Stewart, M. P.; Buriak, J. M. Chem. Commun. 1999, 2479-2480.
16. Boukherroub, R.; Morin, S.; Bensebaa, F.; Wayner, D. D. M. Langmuir 1999, 15, 3831-3835.
17. Buriak, J. M.; Allen, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 1339-1340.
18. Buriak, J. M.; Stewart, M. P.; Geders, T. W.; Allen, M. J.; Choi, H. C.; Smith, J.; Raftery, D.; Canham, L. T. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 11491-11502.
19. Holland, J. M.; Stewart, M. P.; Allen, M. J.; Buriak, J. M. J. Solid State Chem. 1999, 147, 251-258.
20. Niederhauser, T. L.; Jiang, G.; Lua, Y.-Y.; Dorff, M. J.; Woolley, A. T.; Asplund, M. C.; Berges, D. A.; Linford, M. R. Langmuir 2001, 17, 5889-5900.
21. Niederhauser, T. L.; Lua, Y.-Y.; Sun, Y.; Jiang, G.; Strossman, G. S.; Pianetta, P.; Linford, M. R. Chem. Mater. 2002, 14, 27-29.
22. Niederhauser, T. L.; Lua, Y.-Y.; Jiang, G.; Davis, S. D.; Matheson, R.; Hess, D. A.; Mowat, I. A.; Linford, M. R. Angew. Chem., Int. Ed. 2002, 41, 2353-2356.
23. Sieval, A. B.; van den Hout, B.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Langmuir 2000, 16, 2987-2990.
24. Lin, Z.; Strother, T.; Cai, W.; Cao, X.; Smith, L. M.; Hamers, R. J. Langmuir 2002, 18, 788-796.
25. Pike, A. R.; Patole, S. N.; Murray, N. C.; Ilyas, T.; Connolly, B. A.; Horrocks, B. R.; Houlton, A. Adv. Mater. 2003, 15, 254-257.
26. Pike, A. R.; Lie, L. H.; Eagling, R. A.; Ryder, L. C.; Patole, S. N.; Connolly, B. A.; Horrocks, B. R.; Houlton, A. Angew. Chem., Int. Ed. 2002, 41, 615-617.
27. Wei, F.; Sun, B.; Guo, Y.; Zhao, X. S. Biosens. Bioelectron. 2003, 18, 1157-1163.
28. Stewart, M. P.; Buriak, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 7821-7830.
29. Reboredo, F. A.; Schwegler, E.; Galli, G. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 15243-15249.
30. Cai, W.; Lin, Z.; Strother, T.; Smith, L. M.; Hamers, R. J. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2656-2664.
31. Sun, Q.-Y.; de Smet, L. C. P. M.; van Lagen, B.; Wright, A.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 1352-1355.
32. de Smet, L. C. P. M.; Stork, G. A.; Hurenkamp, G. H. F.; Sun, Q.-Y.; Topal, H.; Vronen, P. J. E.; Sieval, A. B.; Wright, A.; Visser, G. M.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 13916-13917.
33. Arafat, A.; Schröen, K.; de Smet, L. C. P. M.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8600-8601.
34. Bansal, A.; Li, X.; Yi, S. I.; Weinberg, W. H.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 10266-10277.
35. Zhang, J.; Cui, C. Q.; Lim, T. B.; Rang, E.-T.; Neoh, K. G.; Lim, S. L.; Tan, K. L. Chem. Mater. 1999, 11, 1061-1068.
36. Bergerson, W. F.; Mulder, J. A.; Hsung, R. P.; Zhu, X.-Y. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 454-455.
37. Kim, N. Y.; Laibinis, P. E. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 4516-4517.
38. Lee, E. J.; Bitner, T. W.; Ha, J. S.; Shane, M. J.; Sailor, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 5375-5382.
39. Hong, L.; Sugimura, H.; Furukawa, T.; Takai, O. Langmuir 2003, 19, 1966-1969.
40. Linford, M. R.; Chidsey, C. E. D. Langmuir 2002, 18, 6217-6221.
41. Sieval, A. B.; Linke, R.; Heij, G.; Meijer, G.; Zuilriof, H.; Sudhölter, E. J. R. Langmuir 2001, 17, 7554-7559.
42. This value was obtained via a semiempirical calculation (MOPAC, PM3, closed-shell-restricted) in Chem3D Pro.
43. Cattaruzza, F.; Cricenti, A.; Flamini, A.; Girasole, M.; Longo, G.; Mezzi, A.; Prosperi, T. J. Mater. Chem. 2004, 14, 1461-1468.
44. Cornelisse, J. Chem. Rev. 1993, 93, 615-669.
45. Liu, Y.-J.; Navasero, N. M.; Yu, H.-Z. Langmuir 2004, 20, 4039-4050.
46. Boukherroub, R.; Wayner, D. D. M.; Wojtyk, J. U.S. Patent 6677163, Jan 13, 2004.
47. Jennings, G. K.; Laibinis, P. E. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 5208-5214.
48. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 1990-1995.
49. Boukherroub, R.; Wayner, D. D. M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 11513-11515.
50. Brunner, H.; Mayer, U.; Hoffmann, H. Appl. Spectrosc. 1997, 51, 209-217.
51. Sieval, A. B.; Vleeming, V.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Langmuir 1999, 15, 8288-8291.
52. Snyder, R. G.; Strauss, H. L.; Elliger, C. A. J. Phys. Chem. 1982, 86, 5145-5150.
53. Eves, B. J.; Sun, Q.-Y.; Lopinski, G. P.; Zuilhof, H. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14318-14319.
54. Cassie, A. B. D. Discuss. Faraday Soc. 1948, 3, 11-16.