Imaging of InGaN inhomogeneities using visible apertureless near-field scanning optical microscope

Journal of Applied Physics

Volumn 101, Issue 12, 2007, Pages

  Stebounova, Larissa V ^d   Romanyuk, Yaroslav E ^d   Chen, Dongxue ^c   Leone, Stephen R ^a,b  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

^c Luminescent Technologies Inc   (United States)

^d NONE

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CANTILEVER OSCILLATIONS; NANOMETER-SCALE SPATIAL RESOLUTION; OPTICAL MAPPING; OSCILLATION FREQUENCY;

EPITAXIAL GROWTH; INDIUM ALLOYS; NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY; OPTICAL PROPERTIES; STRAIN; TOPOGRAPHY; WAVELENGTH;

TERNARY ALLOYS;

EID: 34547285843     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2748871     Document Type: Article

References (48)

1. S. Nakamura, M. Senoh, N. Iwasa, and S. Nagahama, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 34, L797 (1995).
2. S. Nakamura, M. Senoh, S. Nagahama, T. Matsushita, H. Kiyoku, Y. Sugimoto, T. Kozaki, H. Umemoto, M. Sanoh, and T. Mukai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 38, L226 (1999).
3. N. Yamamoto, H. Itoh, V. Grill, S. F. Chichibu, S. Keller, J. S. Speck, S. P. DenBaars, U. K. Mishra, S. Nakamura, and G. Salviati, J. Appl. Phys. 94, 4315 (2003).
4. I-hsiu Ho and G. B. Stringfellow, Appl. Phys. Lett. 69, 2701 (1996).
5. A. Wakahara, T. Tokuda, X. Dang, S. Noda, and A. Sasaki, Appl. Phys. Lett. 71, 906 (1997).
6. Z. Liliental-Weber, D. N. Zakharov, K. M. Yu, J. W. Ager III, W. Walukiewicz, E. E. Haller, H. Lu, and W. J. Schaff, Physica B 376-377, 468 (2006).
7. R. Singh, D. Doppalapudi, T. D. Moustakas, and L. T. Romano, Appl. Phys. Lett. 70, 1089 (1997).
8. N. A. Al-Masry, E. L. Piner, S. X. Liu, and S. M. Bedair, Appl. Phys. Lett. 72, 40 (1998).
9. S. Chichibu, T. Azuhata, T. Sota, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 70, 2822 (1997).
10. L. Nistor, H. Bender, A. Vantomme, M. F. Wu, J. Van Landuyt, K. P. O'Donnell, R. Martin, K. Jacobs, and I. Moerman, Appl. Phys. Lett. 77, 507 (2000).
11. Y. Narukawa, Y. Kawakami, M. Funato, S. Fujita, S. Fujita, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 70, 981 (1997).
12. P. Chen, S. J. Chua, and Z. L. Miao, J. Appl. Phys. 93, 2507 (2003).
13. C. Adelmann, J. Simon, G. Feuillet, N. T. Pelekanos, B. Daudin, and G. Fishman, Appl. Phys. Lett. 76, 1570 (2000).
14. K. P. O'Donnell, S. Pereira, R. W. Martin, P. R. Edwards, M. J. Tobin, and J. F. W. Mosselmans, Phys. Status Solidi A 195, 532 (2003).
15. D. Courjon and C. Bainier, Rep. Prog. Phys. 57, 989 (1994).
16. J. Wessel, J. Opt. Soc. Am. B 2, 1538 (1985).
17. F. Zenhausern, Y. Martin, and H. K. Wickramasinghe, Science 269, 1083 (1995).
18. B. Knoll and F. Keilmann, Nature (London) 399, 134 (1999).
19. Z. H. Kim, B. Liu, and S. R. Leone, J. Phys. Chem. B 109, 8503 (2005).
20. Z. H. Kim and S. R. Leone, J. Phys. Chem. B 110, 19804 (2006).
21. M. Labardi, P. G. Gucciardi, M. Allegrini, and C. Pelosi, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 66, S397 (1998).
22. P. A. Crowell, D. K. Young, S. Keller, E. L. Hu, and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 72, 927 (1998).
23. M. S. Jeong, J. Y. Kim, Y.-W. Kim, J. O. White, E.-K. Suh, C.-H. Hong, and H. J. Lee, Appl. Phys. Lett. 79, 976 (2001).
24. A. Kaneta, K. Okamoto, Y. Kawakami, S. Fujita, G. Marutsuki, Y. Narukawa, and T. Mukai, Appl. Phys. Lett. 81, 4353 (2002).
25. A. Kaneta, T. Mutoh, S. Fujita, G. Marutsuki, Y. Narukawa, and T. Mukai, Appl. Phys. Lett. 83, 3462 (2003).
26. G. Marutsuki, Y. Narukawa, T. Mitani, T. Mukai, G. Shinomiya, A. Kaneta, Y. Kawakami, and S. Fujita, Phys. Status Solidi A 192, 110 (2002).
27. G. Xu, W. Zhang, X. Zhu, H. Liang, Y.-D. Qi, and K. M. Lau, J. Korean Phys. Soc. 47, S109 (2005).
28. B. Liu, T. Kitajima, D. Chen, and S. R. Leone, J. Vac. Sci. Technol. A 23, 304 (2005).
29. K. P. O'Donnell, J. F. W. Mosselmans, R. W. Martin, S. Pereira, and M. E. White, J. Phys.: Condens. Matter 13, 6977 (2001).
30. S. Srinivasan, F. Bertram, A. Bell, F. A. Ponce, S. Tanaka, H. Omiya, and Y. Nakagawa, Appl. Phys. Lett. 80, 550 (2002).
31. K. P. O'Donnell, R. W. Martin, C. Trager-Cowan, M. E. White, K. Esona, C. Deatcher, P. G. Middleton, K. Jacobs, W. Van der Stricht, C. Merlet, B. Gil, A. Vantomme, and J. F. W. Mosselmans, Mater. Sci. Eng., B 82, 194 (2001).
32. S. Pereira, Thin Solid Films 515, 164 (2006).
33. B. Knoll and F. Keilmann, Nature (London) 399, 134 (1999).
34. B. B. Akhremitchev, Y. Sun, L. Stebounova, and G. C. Walker, Langmuir 18, 5325 (2002).
35. L. Billot, M. Lamy de la Chapelle, D. Barchiesi, S.-H. Chang, S. K. Gray, J. A. Rogers, A. Bouhelier, P.-M. Adam, J.-L. Bijeon, G. P. Wiederrecht, R. Bachelot, and P. Royer, Appl. Phys. Lett. 89, 023105 (2006).
36. A. Bek, R. Vogelgesang, and K. Kern, Appl. Phys. Lett. 87, 163115 (2005).
37. M. B. Raschke and C. Lienau, Appl. Phys. Lett. 83, 5089 (2003).
38. T. Taubner, F. Keilmann, and R. Hillenbrand, Opt. Express 13, 8893 (2005).
39. H. Chen, R. M. Feenstra, J. Northrup, J. Neugebauer, and D. W. Greve, MRS Internet J. Nitride Semicond. Res. 6, 11 (2001).
40. T.-S. Kim, S.-W. Kim, H.-K. Kim, and J.-M. Lee, Superlattices Microstruct. 40, 545 (2006).
41. T. Kanto and K. Yamaguchi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 44, 7690 (2005).
42. H. Chen, R. M. Feenstra, J. E. Northrup, T. Zywietz, J. Neugebauer, and D. W. Greve, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 2284 (2000).
43. R. Goldhahn, Acta Phys. Pol. A 104, 123 (2003).
44. Z. H. Kim, S.-H. Ahn, B. Liu, and S. R. Leone, Nano Lett. (submitted).
45. H.-J. Butt, R. Guckenberger, and J. P. Rabe, Ultramicroscopy 46, 735 (1992).
46. J. M. Gerton, L. A. Wade, G. A. Lessard, Z. Ma, and S. R. Quake, Phys. Rev. Lett. 93, 180801 (2004).
47. A. Ishizumi, K. Matsuda, T. Saiki, C. W. White, and Y. Kanemitsu, Appl. Phys. Lett. 87, 133104 (2005).
48. N. Anderson, A. Bouhelier, and L. Novotny, J. Opt. A, Pure Appl. Opt. 8, S227 (2006).