-
1
-
-
0142037327
-
-
(a) Chou, S. Y.; Krauss, P. R.; Renstrom, P. J. Appl. Phys. Lett. 1996, 67, 3114.
-
(1996)
Appl. Phys. Lett.
, vol.67
, pp. 3114
-
-
Chou, S.Y.1
Krauss, P.R.2
Renstrom, P.J.3
-
2
-
-
0030570065
-
-
(b) Chou, S. Y.; Krauss, P. R.; Renstrom, P. J. Science 1996, 272, 85.
-
(1996)
Science
, vol.272
, pp. 85
-
-
Chou, S.Y.1
Krauss, P.R.2
Renstrom, P.J.3
-
5
-
-
0035860303
-
-
(b) Suh, K. Y.; Kim, Y. S.; Lee, H. H. Adv. Mater. 2001, 13, 1386.
-
(2001)
Adv. Mater.
, vol.13
, pp. 1386
-
-
Suh, K.Y.1
Kim, Y.S.2
Lee, H.H.3
-
6
-
-
4444292550
-
-
(c) Choi, D.-G.; Jang, S. G.; Yu, H. K.; Yang, S.-M. Chem. Mater. 2004, 16, 3410.
-
(2004)
Chem. Mater.
, vol.16
, pp. 3410
-
-
Choi, D.-G.1
Jang, S.G.2
Yu, H.K.3
Yang, S.-M.4
-
7
-
-
3042638039
-
-
Schneider, D.; Rabe, T.; Riedl, T.; Dobbertin, T.; Werner, O.; Kröger, M.; Becker, E.; Johannes, H.-H.; Kowalsky, W.; Weimann, T.; Wang, J.; Hinze, P.; Gerhard, A.; Stössel, P.; Vestweber, H. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 4693.
-
(2004)
Appl. Phys. Lett.
, vol.84
, pp. 4693
-
-
Schneider, D.1
Rabe, T.2
Riedl, T.3
Dobbertin, T.4
Werner, O.5
Kröger, M.6
Becker, E.7
Johannes, H.-H.8
Kowalsky, W.9
Weimann, T.10
Wang, J.11
Hinze, P.12
Gerhard, A.13
Stössel, P.14
Vestweber, H.15
-
8
-
-
4544323425
-
-
Guo, Q.; Teng, S.; Yang, H. Adv. Mater. 2004, 16, 1337.
-
(2004)
Adv. Mater.
, vol.16
, pp. 1337
-
-
Guo, Q.1
Teng, S.2
Yang, H.3
-
9
-
-
7544221688
-
-
Falconnet, D.; Pasqui, D.; Park, S.; Eckert, R.; Schift, H.; Gobrecht, J.; Barbucci, R.; Textor, M. Nano Lett. 2004, 4, 1909.
-
(2004)
Nano Lett.
, vol.4
, pp. 1909
-
-
Falconnet, D.1
Pasqui, D.2
Park, S.3
Eckert, R.4
Schift, H.5
Gobrecht, J.6
Barbucci, R.7
Textor, M.8
-
10
-
-
3142774823
-
-
Pisignano, D.; Persano, L.; Gigli, G.; Visconti, P.; Stomeo, T.; De. Vittorio, M.; Barbarella, G.; Favaretto, L.; Cingolani, R. Nanotechnology 2004, 15, 766.
-
(2004)
Nanotechnology
, vol.15
, pp. 766
-
-
Pisignano, D.1
Persano, L.2
Gigli, G.3
Visconti, P.4
Stomeo, T.5
De Vittorio, M.6
Barbarella, G.7
Favaretto, L.8
Cingolani, R.9
-
11
-
-
0142248286
-
-
(a) Kim, Y. S.; Lee, H. H.; Hammond, P. T. Nanotechnology 2003, 14, 1140.
-
(2003)
Nanotechnology
, vol.14
, pp. 1140
-
-
Kim, Y.S.1
Lee, H.H.2
Hammond, P.T.3
-
12
-
-
0037121046
-
-
(b) Kim, S.-R.; Teixeira, A. I.; Nealey, P. F.; Wendt,; N. L. Abbott, A. E. Adv. Mater. 2002, 14, 1468.
-
(2002)
Adv. Mater.
, vol.14
, pp. 1468
-
-
Kim, S.-R.1
Teixeira, A.I.2
Nealey, P.F.3
Wendt, N.L.4
Abbott, A.E.5
-
13
-
-
2342484965
-
-
(a) Khang, D.-Y.; Kang, H.; Kim, T.-I.; Lee, H. H. Nano Lett. 2004, 4, 633.
-
(2004)
Nano Lett.
, vol.4
, pp. 633
-
-
Khang, D.-Y.1
Kang, H.2
Kim, T.-I.3
Lee, H.H.4
-
16
-
-
0037173312
-
-
(b) Odom, T. W.; Love, J. C.; Wolfe, D. B.; Paul, K. E.; Whitesides, G. M. Langmuir 2002, 18, 5314.
-
(2002)
Langmuir
, vol.18
, pp. 5314
-
-
Odom, T.W.1
Love, J.C.2
Wolfe, D.B.3
Paul, K.E.4
Whitesides, G.M.5
-
18
-
-
3042694518
-
-
(a) Choi, S. J.; Yoo, P. J.; Baek, S. J.; Kim, T. W.; Lee, H. H. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 7744.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 7744
-
-
Choi, S.J.1
Yoo, P.J.2
Baek, S.J.3
Kim, T.W.4
Lee, H.H.5
-
19
-
-
9244242087
-
-
(b) Yoo, P. J.; Choi, S.-J.; Kim, J. H.; Suh, D.; Baek, S. J.; Kim, T. W.; Lee, H. H. Chem. Mater. 2004, 16, 5000.
-
(2004)
Chem. Mater.
, vol.16
, pp. 5000
-
-
Yoo, P.J.1
Choi, S.-J.2
Kim, J.H.3
Suh, D.4
Baek, S.J.5
Kim, T.W.6
Lee, H.H.7
-
20
-
-
12844275924
-
-
Ge, H.; Wu, W.; Li, Z.; Jung, G.-Y.; Olynick, D.; Chen, Y.; Liddle, J. A.; Wang, S.-Y.; Willams, R. S. Nano Lett. 2005, 5, 179.
-
(2005)
Nano Lett.
, vol.5
, pp. 179
-
-
Ge, H.1
Wu, W.2
Li, Z.3
Jung, G.-Y.4
Olynick, D.5
Chen, Y.6
Liddle, J.A.7
Wang, S.-Y.8
Willams, R.S.9
-
21
-
-
1542375006
-
-
Rolland, J. P.; Van Dam, R. M.; Schorzman, D. A.; Quake, S. R.; DeSimone, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 2322.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 2322
-
-
Rolland, J.P.1
Van Dam, R.M.2
Schorzman, D.A.3
Quake, S.R.4
Desimone, J.M.5
-
22
-
-
12744262872
-
-
Kim, W.-S.; Kim, K.-S.; Eo, Y.-C.; Yoon, K. B.; Bae, B.-S. J. Mater. Chem. 2005, 15, 465.
-
(2005)
J. Mater. Chem.
, vol.15
, pp. 465
-
-
Kim, W.-S.1
Kim, K.-S.2
Eo, Y.-C.3
Yoon, K.B.4
Bae, B.-S.5
-
24
-
-
3242676271
-
-
(b) Austin, M. D.; Ge, H.; Wu, W.; Li, M.; Yu, Z.; Wasserman, D.; Lyon, S. A.; Chou, S. Y. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 5299.
-
(2004)
Appl. Phys. Lett.
, vol.84
, pp. 5299
-
-
Austin, M.D.1
Ge, H.2
Wu, W.3
Li, M.4
Yu, Z.5
Wasserman, D.6
Lyon, S.A.7
Chou, S.Y.8
-
25
-
-
3142660496
-
-
Jeong, J. H.; Sim, Y. S.; Sohn, H. K.; Lee, E. S. Microelectron. Eng. 2004, 75, 165.
-
(2004)
Microelectron. Eng.
, vol.75
, pp. 165
-
-
Jeong, J.H.1
Sim, Y.S.2
Sohn, H.K.3
Lee, E.S.4
-
26
-
-
13844296949
-
-
Kim, W.-S.; Kim, K.-S.; Kim, Y.-C.; Bae, B.-S. Thin Solid Fims 2005, 476, 181.
-
(2005)
Thin Solid Fims
, vol.476
, pp. 181
-
-
Kim, W.-S.1
Kim, K.-S.2
Kim, Y.-C.3
Bae, B.-S.4
|