Scratching the surface: Fundamental investigations of tribology with atomic force microscopy

Chemical Reviews

Volumn 97, Issue 4, 1997, Pages 1163-1194

  Carpick, Robert W ^a   Salmeron, Miquel ^b  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0043039452     PISSN: 00092665     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cr960068q     Document Type: Article

References (289)

1. Binnig, G.; Quate, C. F.; Gerber, C. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 930.
2. Mate, C. M.; McClelland, G. M.; Erlandsson, R.; Chiang, S. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 1942.
3. Bhushan, B.; Israelachvili, J. N.; Landman, U. Nature 1995, 374, 607.
4. Krim, J. Comments Condens. Matter. Phys. 1995, 17, 263.
5. Krim, J. Sci. Am. 1996, 275, 74.
6. Fundamentals of Friction: Macroscopic and Microscopic Processes; Singer, I. L., Pollock, H. M., Eds.; Kluwer: Dordrecht, 1992.
7. Physics of Sliding Friction; Persson, B. N. J., Tosatti, E., Eds.; Kluwer: Dordrecht, 1996.
8. Langmuir 1996, 12, 4481.
9. Dowson, D. History of Tribology; Longman: London, 1979.
10. Jost, H. P. Wear 1990, 136, 1.
11. Hutchings, I. M. Tribology; CRC press: Boca Raton, 1992.
12. Howe, R. T.; Muller, R. S.; Gabriel, K. J.; Trimmer, W. S. N. IEEE Spectrum 1990, 27, 29.
13. Grochowski, E.; Hoyt, R. F. IEEE Trans. Magr. 1995, 32, 1850.
14. Maboudian, R.; Howe, R. T. J. Vac. Sci. Technol. B 1997, 15, 1.
15. Bowden, F. P.; Tabor, D. Friction and Lubrication of Solids: Part I; Oxford University Press, 1950.
16. Bowden, F. P.; Tabor, D. Friction and Lubrication of Solids: Part II; Oxford University Press, 1964.
17. Bhushan, B. Handbook of Micro/Nanotribology; Chemical Rubber: Boca Rotan, 1995.
18. Greenwood, J. A.; Williamson, J. B. P. Proc. R. Soc. London A 1966, 295, 300.
19. Greenwood, J. A. Fundamentals of Friction; Singer, I. L., Pollock, H. M., Eds.; Kluwer: Dordrecht, 1992; p 37.
20. Kim, D. E.; Suh, N. P. Wear 1991, 149, 199.
21. Daly, C.; Krim, J. Surf. Sci. 1996, 368, 49.
22. Persson, B. N. J. Comments Condens. Matter. Phys. 1995, 17, 281.
23. Sokoloff, J. B. Phys. Rev. B 1995, 52, 5318.
24. Persson, B. N. J.; Volokitin, A. I. J. Chem. Phys. 1995, 103, 8679.
25. Persson, B. N. J.; Nitzan, A. Surf. Sci. 1996, 367, 261.
26. Sokoloff, J. B. Wear 1993, 167, 59.
27. Krim, J.; Solina, D. H.; Chiarello, R. Phys. Rev. Lett. 1991, 66, 181.
28. Watts, E. T.; Krim, J.; Widom, A. Phys. Rev. B 1990, 41, 3466.
29. Daly, C.; Krim, J. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 803.
30. Tabor, D.; Winterton, R. H. S. Proc. R. Soc. London A 1969, 312, 435.
31. Israelachvili, J. N.; Tabor, D. Proc. R. Soc. London A 1972, 331, 19.
32. Israelachvili, J. N.; McGuiggan, P. M.; Homola, A. M. Science 1988, 240, 189.
33. Peachey, J.; Van Alsten, J.; Granick, S. Rev. Sci. Instrum. 1991, 62, 463.
34. Harrison, J. A.; Brenner, D. W. Handbook of Micro/Nanotribology; Bhushan, B., Ed.; CRC Press: Boca Raton, 1995; p 397.
35. Marti, O.; Drake, B.; Hansma, P. K. Appl. Phys. Lett. 1987, 51, 484.
36. Meyer, G.; Amer, N. M. Appl. Phys. Lett. 1990, 56, 2100.
37. Germann, G. J.; Cohen, S. R.; Neubauer, G.; McClelland, G. M.; Seki, H.; Coulman, D. J. Appl. Phys. 1993, 73, 163.
38. Howald, L.; Meyer, E.; Lüthi, R.; Haefke, H.; Overney, R.; Rudin, H.; Güntherodt, H.-J. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 117.
39. Kageshima, M.; Yamada, H.; Nakayama, K.; Sakama, H.; Kawau, A.; Fujii, T.; Suzuki, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 11, 1987.
40. Park Scientific Instruments Inc., Sunnyvale, CA.
41. Digital Instruments Inc., Santa Barbara, CA.
42. Nanosensors GmbH, Aidlingen, Germany.
43. Olympus Optical Company, Japan.
44. Lu, C.-J.; Jiang, Z.; Bogy, D. B.; Miyamoto, T. Trans. ASME J. Tribol. 1995, 117, 244.
45. Enachescu, M.; Smallwood, S. A.; Lad, R. J.; Unertl, W. N. Manuscript in preparation.
46. Alexander, S.; Hellemans, L.; Marti, O.; Schneir, J.; Elings, V.; Hansma, P. K.; Longmire, M.; Gurley, J. J. Appl. Phys. 1989, 65, 164.
47. Marti, O.; Colchero, J.; Mlynek, J. Nanotechnology 1991, 1, 141.
48. Kolbe, W. F.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. B. Ultramicroscopy 1992, 42-44, pt.B, 1113.
49. Dai, Q.; Vollmer, R.; Carpick, R. W.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 5266.
50. Radmacher, M.; Cleveland, J. P.; Hansma, P. K. Scanning 1995, 17, 117.
51. Morita, S.; Fujisawa, S.; Sugawara, Y. Surf. Sci. Rep. 1996, 23, 3.
52. Jaschke, M.; Butt, H. J. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1258.
53. Martin, Y.; Williams, C. C.; Wickramasinghe, H. K. J. Appl. Phys. 1987, 61, 4723.
54. Rugar, D.; Mamin, H. J.; Güthner, P. Appl. Phys. Lett. 1989, 55, 2588.
55. Schonenberger, C.; Alvarado, S. F. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 3131.
56. Erlandsson, R.; McClelland, G. M.; Mate, C. M.; Chiang, S. J. Vac. Sci. Technol. A 1988, 6, 266.
57. Goddenhenrich, T.; Muller, S.; Heiden, C. Rev. Sci. Instrum. 1994, 65, 2870.
58. Linnemann, R.; Gotszalk, T.; Rangelow, I. W.; Dumania, P.; Oesterschulze, E. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 856.
59. Bartzke, K.; Antrack, T.; Schmidt, K.-H.; Dammann, E.; Schatterny, C. Int. J. Optoelectron. 1993, 8, 669.
60. Murdfield, T.; Fischer, U. C.; Fuchs, H.; Volk, R.; Michels, A.; Meinen, F.; Beckman, E. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 877.
61. Güthner, P.; Fischer, U. C.; Dransfeld, K. Appl. Phys. B 1989, 48, 89.
62. Ogletree, D. F.; Carpick, R. W.; Salmeron, M. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 3298.
63. Bhushan, B.; Ruan, J. A. Trans. ASME J. Tribol. 1994, 116, 389.
64. Ascoli, C.; Dinelli, F.; Frediani, C.; Petracchi, D.; Salerno, M.; Labardi, M.; Allegrini, M.; Fuso, F. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 12, 1642.
65. Timoshenko, S. P.; Goodier, J. N. Theory of Elasticity; McGraw Hill: New York, 1987.
66. Albrecht, T. R.; Akamine, S.; Carver, T. E.; Quate, C. F. J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8, 3386.
67. Butt, H.-J.; Siedle, P.; Seifert, K.; Fendler, K.; Seeger, T.; Bamberg, E.; Weisenhorn, A. L.; Goldie, K.; Engel, A. J. Microsc. 1993, 169, 75.
68. Neumeister, J. M.; Ducker, W. A. Rev. Sci. Instrum. 1994, 65, 2527.
69. Sader, J. E. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 4583.
70. Lüthi, R.; Meyer, E.; Haefke, H.; Howald, L.; Gutmannsbauer, W.; Guggisberg, M.; Bammerlin, M.; Güntherodt, H.-J. Surf. Sci. 1995, 338, 247.
71. Sader, J. E.; Larson, I.; Mulvaney, P.; White, L. R. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 3789.
72. Schwarz, U. D.; Koster, P.; Wiesendanger, R. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 2560.
73. Cleveland, J. P.; Manne, S.; Bocek, D.; Hansma, P. K. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 403.
74. Senden, T. J.; Ducker, W. A. Langmuir 1994, 10, 1003.
75. Torii, A.; Sasaki, M.; Hane, K.; Okuma, S. Meas. Sci. Technol. 1996, 7, 179.
76. Ruan, J. A.; Bhushan, B. Trans. ASME J. Tribol. 1994, 116, 378.
77. Li, Y. Q.; Tao, N. J.; Pan, J.; Garcia, A. A.; Lindsay, S. M. Langmuir 1993, 9, 637.
78. Butt, H. J.; Jaschke, M. Nanotechnology 1995, 6, 1.
79. Hutter, J. L.; Bechhoefer, J. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 1868.
80. Staub, R.; Alliata, D.; Nicolini, C. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 2513.
81. Hues, S. M.; Draper, C. F.; Lee, K. P.; Colton, R. J. Rev. Sci. Instrum. 1994, 65, 1561.
82. Fu, J. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 3785.
83. Nagahara, L. A.; Hashimoto, K.; Fujishima, A.; Snowden-Ifft, D.; Price, P. B. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 12, 1694.
84. Brodowsky, H. M.; Boehnke, U.-C.; Kremer, F. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 4198.
85. Carpick, R. W.; Agraït, N.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 1289.
86. Jarausch, K. F.; Stark, T. J.; Russell, P. E. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 3425.
87. Atamny, F.; Baiker, A. Surf. Sci. 1995, 323, L314.
88. Sheiko, S. S.; Moller, M.; Reuvekamp, E. M. C. M.; Zandbergen, H. W. Ultramicroscopy 1994, 53, 371.
89. Odin, C.; Aime, J. P.; El Kaakour, Z.; Bouhacina, T. Surf. Sci. 1994, 317, 321.
90. Westra, K. L.; Thomson, D. J. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 3176.
91. Markiewicz, P.; Goh, M. C. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 3186.
92. Dixson, R.; Schneir, J.; McWaid, T.; Sullivan, N.; Tsai, V. W.; Zaidi, S. H.; Brueck, S. R. J. Proc. SPIE - Int. Soc. Opt. Eng. 1996, 2725, 589.
93. Siedle, P.; Butt, H.-J.; Bamberg, E.; Wang, D. N.; Kuhlbrandt, W.; Zach, J.; Haider, M. X-ray Optics and Microanalysis, 1992.; Kenway, P. B., Duke, P. J., Lorimer, G. W., et al., Eds.; Iop: Manchester, UK, 1992; p 361.
94. Xu, S.; Arnsdorf, M. F. J. Microsc. 1994, 3, 199.
95. Schwarz, U. D.; Zwörner, O.; Köster, P.; Wiesendanger, R. Micro/Nanotribology and Its Applications; Bhushan, B., Ed.; Kluwer Academic Publishers; Dordrecht, 1997.
96. O'Shea, S. J.; Atta, R. N.; Weiland, M. E. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 2508.
97. Niedermann, P.; Hanni, W.; Blanc, N.; Christoph, R.; Burger, J. J. Vac. Sci. Technol. A 1995, 14, 1233.
98. Giessibl, F. J. Science 1995, 267, 68.
99. Overney, R. M.; Meyer, E.; Frommer, J.; Brodbeck, D.; Lüthi, R.; Howald, L.; Güntherodt, H.-J.; Fujihara, M.; Takano, H.; Gotoh, Y. Nature 1992, 359, 133.
100. Frisbie, C. D.; Rozsnyai, L. F.; Noy, A.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. Science 1994, 265, 2071.
101. Carpick, R. W.; Dai, Q.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Manuscript in preparation.
102. Hu, J.; Xiao, X.-D.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Surf. Sci. 1995, 327, 358.
103. Maivald, P.; Butt, H. J.; Gould, S. A. C.; Prater, C. B.; Drake, B.; Gurley, J. A.; Elings, V. B.; Hansma, P. K. Nanotechnology 1991, 2, 103.
104. Radmacher, M.; Tillmann, R. W.; Fritz, M.; Gaub, H. E. Science 1992, 257, 1900.
105. Overney, R. M.; Takano, H.; Fujihira, M. Europhys. Lett. 1994, 26, 443.
106. Heuberger, M.; Dietler, G.; Schlapbach, L. Nanotechnology 1995, 6, 12.
107. Hoper, R.; Gesang, T.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.; Boseck, S. Ultramicroscopy 1995, 60, 17.
108. Kajiyama, T.; Ohki, I.; Tanaka, K.; Ge, S.-R.; Takahara, A. Proc. Jpn. Acad. B 1995, 71, 75.
109. Yamanaka, K.; Ogiso, H.; Kolosov, O. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 178.
110. Kolosov, O.; Yamanaka, K. Jpn. J. Appl. Phys. 2, Lett. 1993, 32, L1095.
111. Jarvis, S. P.; Oral, A.; Weihs, T. P.; Pethica, J. B. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 3515.
112. Jarvis, S. P.; Yamada, H.; Yamamoto, S.-I.; Tokumoto, H. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 2281.
113. Joyce, S. A.; Houston, J. E. Rev. Sci. Instrum. 1991, 62, 710.
114. Joyce, S. A.; Houston, J. E.; Michalske, T. A. Appl. Phys. Lett. 1992, 60, 1175.
115. Burnham, N. A.; Colton, R. J. J. Vac. Sci. Technol. A 1989, 7, 2906.
116. Burnham, N. A.; Colton, R. J.; Pollock, H. M. Nanotechnology 1993, 4, 64.
117. Pethica, J. B.; Sutton, A. P. J. Vac. Sci. Technol. A 1988, 6, 2494.
118. Bhushan, B.; Koinkar, V. N. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 1653.
119. Lu, C. J.; Bogy, D.; Kaneko, R. Trans. ASME J. Tribol. 1994, 116, 175.
120. Jarvis, S. P.; Pethica, J. B. Thin Solid Films 1996, 273, 284.
121. O'Shea, S. J. W., M. E.; Pethica, J. B. Chem. Phys. Lett. 1994, 223, 336.
122. Landman, U.; Luedtke, W. D.; Gao, J. P. Langmuir 1996, 12, 4514.
123. Israelachvili, J. N. Intermolecular and surface forces, 2nd ed.; Academic Press London: London, 1992.
124. Dowson, D.; Higginson, G. R. Elasto-hydrodynamic lubrication; Pergamon Press: Oxford, 1977.
125. Carpick, R. W.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Appl. Phys. Lett. 1997, 70.
126. Yamanaka, K.; Tomita, E. Jpn. J. Appl. Phys. 1, Regul. Pap. 1995, 34, 2879.
127. Lantz, M. A.; O'Shea, S. J.; Hoole, A. C. F.; Weiland, M. E. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 970.
128. Johnson, K. L. Contact Mechanics; University Press: Cambridge, 1987.
129. Fujisawa, S.; Kishi, E.; Sugawara, Y.; Morita, S. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 526.
130. Israelachvili, J. N. J. Colloid Interface Sci. 1973, 44, 259.
131. Frantz, P.; Agraït, N.; Salmeron, M. Langmuir 1996, 12, 3289.
132. Chan, D. Y. C.; Horn, R. G. J. Chem. Phys. 1985, 83, 5311.
133. Klein, J.; Kumacheva, E. Science 1995, 269, 816.
134. Lu, C.; Czanderna, A. W. Applications of Piezoelectric Quartz Crystal Microbalances; Elsevier: Amsterdam, 1984.
135. Krim, J.; Widom, A. Phys. Rev. B 1988, 38, 12184.
136. Krim, J.; Chiarello, R. J. Vac. Sci. Technol. A 1991, 9, 2566.
137. Cieplak, M.; Smith, E. D.; Robbins, M. O. Science 1994, 265, 1209.
138. Takano, H.; Fujihira, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 1272.
139. Howald, L.; Lüthi, R.; Meyer, E.; Güntherodt, H.-J. Phys. Rev. B 1995, 51, 5484.
140. Berman, A. D.; Ducker, W. A.; Israelachvili, J. N. Langmuir 1996, 12, 4559.
141. Tomanek, D.; Zhong, W.; Thomas, H. Europhys. Lett. 1991, 15, 887.
142. Sokoloff, J. B. Thin Solid Films 1991, 206, 208.
143. McClelland, G. M.; Glosli, J. N. Fundamentals of Friction; Singer, I. L., Pollock, H. M., Eds.; Kluwer: Dordrecht, 1992; p 405.
144. Kerssemakers, J.; De Hosson, J. T. M. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 347.
145. Gyalog, T.; Bammerlin, M.; Lüthi, R.; Meyer, E.; Thomas, H. Europhys. Lett. 1995, 31, 269.
146. Sasaki, N.; Kobayashi, K.; Tsukada, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1 1996, 35, 3700.
147. Hölscher, H.; Schwarz, U. D.; Wiesendanger, R. Europhys. Lett. 1996, 36, 19.
148. Gyalog, T.; Thomas, H. Physics of sliding friction; Persson, B. N. J., Tosatti, E., Eds.; Kluwer Academic Publishers: Dordrecht, 1996; p 403.
149. Kerssemakers, J.; De Hosson, J. T. M. J. Appl. Phys. 1996, 80, 623.
150. Weiss, M.; Elmer, F.-J. Phys. Rev. B 1996, 53, 7539.
151. Sasaki, N.; Kobayashi, K.; Tsukada, M. Surf. Sci. 1996, 357-358, 92.
152. Colchero, J.; Baro, A. M.; Marti, O. Tribol. Lett. 1996, 2, 327.
153. Gyalog, T.; Thomas, H. Europhys. Lett. 1997, 37, 195.
154. Harrison, J. A.; White, C. T.; Colton, R. J.; Brenner, D. W. Phys. Rev. B 1992, 46, 9700.
155. Perry, M. D.; Harrison, J. A. J. Phys. Chem. 1995, 99, 9960.
156. Sørensen, M. R.; Jacobsen, K. W.; Stoltze, P. Phys. Rev. B 1996, 53, 2101.
157. Shluger, A. L.; Williams, R. T.; Rohl, A. L. Surf. Sci. 1995, 343, 273.
158. McClelland, G. M. Adhesion and Friction; Springer Series in Surface Science, Springer: New York, 1989; Vol. 17; p 1.
159. Landman, U.; Luedtke, W. D.; Nitzan, A. Surf. Sci. Lett. 1989, 210, L177.
160. Landman, U.; Luedtke, W. D.; Ribarsky, M. W. J. Vac. Sci. Technol. A 1989, 7, 2829.
161. Tomlinson, G. A. Philos. Mag. 1929, 7, 905.
162. Sokoloff, J. B. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 3450.
163. Sokoloff, J. B. Phys. Rev. B 1995, 52, 7205.
164. Lüthi, R.; Meyer, E.; Bammerlin, M.; Howald, L.; Haefke, H.; Lehmann, T.; Loppacher, C., Güntherodt, H.-J.; Gyalog, T.; Thomas, H. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 1280.
165. Landman, U.; Luedtke, W. D. Scanning tunneling microscopy III: theory of STM and related scanning probe methods; Wiesendanger, R., Guntherodt, H.-J., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, 1993; p 207.
166. Yoshizawa, H.; Chen, Y.-L.; Israelachvili, J. Wear 1993, 168, 161.
167. Reiter, G.; Demirel, A. L.; Peanasky, J.; Cai, L. L.; Granick, S. J. Chem. Phys. 1994, 101, 2606.
168. Reiter, G.; Demirel, A. L.; Granick, S. Science 1994, 263, 1741.
169. Howald, L.; Lüthi, R.; Meyer, E.; Gerth, G.; Haefke, H.; Overney, R.; Güntherodt, H.-J. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 2227.
170. Giessibl, F. J.; Binnig, G. Ultramicroscopy 1991, 42-44, 281.
171. Putman, C. A. J.; Igarashi, M.; Kaneko, R. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 3221.
172. Carpick, R. W.; Agraït, N.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Langmuir 1996, 12, 3334.
173. Meyer, E.; Lüthi, R.; Howald, L.; Bammerlin, M.; Guggisberg, M.; Güntherodt, H.-J. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 1285.
174. Schwarz, U. D.; Allers, W.; Gensterbium, G.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 1995, 52, 14976.
175. Homola, A. M.; Israelachvili, J. N.; McGuiggan, P. M.; Gee, M. L. Wear 1990, 136, 65.
176. Homola, A. M.; Israelachvili, J. N.; Gee, M. L.; McGuiggan, P. M. J. Tribology 1989, 111, 675.
177. Hertz, H. J. Reine Angew. Math. 1881, 92, 156.
178. Israelachvili, J. N. Fundamentals of Friction; Singer, I. L., Pollock, H. M., Eds.; Kluwer: Dordrecht, 1992; p 351.
179. Briscoe, B. J.; Evans, D. C. B. Proc. R. Soc. London A 1982, 380, 389.
180. Johnson, K. L.; Kendall, K.; Roberts, A. D. Proc. R. Soc. London A 1971, 324, 301.
181. Derjaguin, B. V.; Muller, V. M.; Toporov, Y. P. J. Colloid Interface Sci. 1975, 53, 314.
182. Müller, V. M.; Yushenko, V. S.; Derjaguin, B. V. J. Colloid Interface Sci. 1980, 77, 91.
183. Maugis, D. J. Colloid Interface Sci. 1992, 150, 243.
184. Johnson, K. L.; Greenwood, J. A. J. Colloid Interface Sci., submitted.
185. Fogden, A.; White, L. R. J. Colloid Interface Sci. 1990, 138, 414.
186. Johnson, K. L. Proc. R. Soc. London A 1997, A453, 163.
187. Sheiko, S. S.; Möller, M.; Reuvekamp, E. M. C. M.; Zandbergen, H. W. Phys. Rev. B 1993, 48, 5675.
188. Lüthi, R.; Meyer, E.; Haefke, H.; Howald, L.; Gutmannsbauer, W.; Güntherodt, H.-J. Science 1994, 266, 1979.
189. Sheehan, P. E.; Lieber, C. M. Science 1996, 272, 1158.
190. Meyer, E.; Overney, R.; Brodbeck, D.; Howald, L.; Lüthi, R.; Frommer, J.; Güntherodt, H.-J. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 1777.
191. Christenson, H. K. J. Phys. Chem. 1993, 97, 12034.
192. Agrawal, D. C.; Raj, R. Acta Metall. 1989, 37, 1265.
193. Timsit, R. S. Fundamentals of Friction; Singer, I. L., Pollock, H. M., Eds.; Kluwer: Dordrecht, 1992; p 287.
194. Singer, I. L.; Bolster, R. N.; Wegand, J.; Fayeulle, S.; Stupp, B. C. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 995.
195. Fuller, K. N. G.; Tabor, D. Proc. R. Soc. London A 1975, 345, 327.
196. Bluhm, H.; Schwarz, U. D.; Meyer, K. P.; Wiesendanger, R. Appl. Phys. A 1995, 61, 525.
197. Schwarz, U. D.; Bluhm, H.; Hölscher, H.; Allers, W.; Wiesendanger, R. Physics of sliding friction; Persson, B. N. J., Tosatti, E., Eds.; Kluwer Academic Publishers: Dordrecht, 1996; p 369.
198. Overney, R. M.; Takano, H.; Fujihira, M.; Paulus, W.; Ringsdorf, H. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 3546.
199. Gruner, G.; Zettl, A. Phys. Rep. 1985, 119, 117.
200. Shinjo, K.; Hirano, M. Surf. Sci. 1993, 283, 473.
201. Hirano, M.; Shinjo, K.; Kaneko, R.; Murata, Y. Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 2642.
202. Sutton, A. P.; Balluffi, R. W. Interfaces in Crystalline Materials; Oxford University Press: Oxford, 1995.
203. Marti, A.; Hahner, G.; Spencer, N. D. Langmuir 1995, 11, 4632.
204. Binggeli, M.; Christoph, R.; Hintermann, H.-E. Tribol. Lett. 1995, 1, 13.
205. Binggeli, M.; Mate, C. M. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 415.
206. Schumacher, A.; Kruse, N.; Prins, R.; Meyer, E.; Lüthi, R.; Howald, L.; Güntherodt, H.-J.; Scandella, L. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 1264.
207. Rabinowicz, E. Friction and Wear of Materials, 2nd ed.; Wiley: New York, 1995.
208. Khurshudov, A.; Kato, K. J. Vac. Sci. Technol. B 1995, 13, 1938.
209. Kaneko, R.; Miyamoto, T.; Andoh, Y.; Hamada, E. Thin Solid Films 1996, 273, 105.
210. Wei, B.; Komvopoulos, K. Trans. ASME J. Tribology 1995, 117, 594.
211. Bhushan, B.; Koinkar, V. N. J. Appl. Phys. 1994, 75, 5741.
212. Bhushan, B.; Kulkarni, A. V. Thin Solid Films 1996, 278, 49.
213. Bhushan, B. Proceedings of IEEE, 9th Annual International Workshop on Micro Electro Mechanical Systems, An Investigation of Micro Structures, Sensors, Actuators, Machines and Systems; IEEE: New York, 1996.
214. Miyamoto, T.; Serikawa, T.; Hirono, S.; Jiang, Z.; Bogy, D. B.; Kaneko, R. IEEE Trans. Magr. 1995, 31, 3018.
215. Jiang, Z.; Lu, C.-J.; Bogy, D. B.; Miyamoto, T. Trans. ASME J. Tribol. 1995, 117, 328.
216. Lu, C.-J.; Jiang, Z.; Bogy, D. B.; Miyamoto, T. Trans. ASME J. Tribol. 1995, 117, 334.
217. Zhaoguo, J.; Lu, C. J.; Bogy, D. B.; Bhatia, C. S.; Miyamoto, T. Thin Solid Films 1995, 258, 75.
218. Miyake, S. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 980.
219. Miyake, S. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 2925.
220. Nakahara, S.; Langford, S. C.; Dickinson, J. T. Tribol. Lett. 1995, 1, 277.
221. Khurshudov, A.; Kato, K. Ultramicroscopy 1995, 60, 11.
222. Khurshudov, A. G.; Kato, K.; Koide, H. Tribol. Lett. 1996, 2, 345.
223. Shluger, A. L.; Rohl, A. L.; Williams, R. T.; Wilson, R. M. Phys. Rev. B 1995, 52, 11398.
224. Harrison, J. A.; White, C. T.; Colton, R. J.; Brenner, D. W. Surf. Sci. 1992, 271, 57.
225. Landman, U.; Luedtke, W. D.; Ringer, E. M. Wear 1992, 153, 3.
226. Thundat, T.; Sales, B. C.; Chakoumakos, B. C.; Boatner, L. A.; Allison, D. P.; Warmaek, R. J. Surf. Sci. 1993, 293, L863.
227. Kim, Y.; Huang, J. L.; Lieber, C. M. Appl. Phys. Lett. 1991, 59, 3404.
228. Hirvonen, J. P.; Koskinen, J.; Jervis, J. R.; Nastasi, M. Surf. Coat. Technol. 1996, 80, 139.
229. Singer, I. L.; Fayeulle, S.; Ehni, P. D. Wear 1996, 195, 7.
230. Winter, W. O. Wear 1967, 10, 422.
231. Thomas, R. C.; Houston, J. E.; Michalske, T. A.; Crooks, R. M. Science 1993, 259, 1883.
232. Kelly, A. Strong Solids, 2nd ed.; Oxford University Press: London, 1973.
233. Macmillan, N. H. Ideal Strength of Solids; Latanision, R. M., Pickens, J. R., Eds.; Plenum: New York, 1981.
234. Salmeron, M.; Folch, A.; Neubauer, G.; Tomitori, M.; Ogletree, D. F.; Kolbe, W. Langmuir 1992, 8, 2832.
235. Sutton, A. P.; Pethica, J. B. J. Phys., Condens. Matter. 1990, 2, 5317.
236. Rubio, G.; Agraït, N.; Vieira, S. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 2602.
237. Agraït, N.; Rubio, G.; Vieira, S. Phys. Rev. Lett. 1994, 74, 3995.
238. Dürig, U. Physics of Sliding Friction; Persson, B. N. J., Tosatti, E., Eds.; Kluwer: Dordrecht, 1996; p 299.
239. Stalder, A.; Dürig, U. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 637.
240. Stalder, A.; Dürig, U. J. Vac. Sci. Technol. B 1995, 14, 1259.
241. Stalder, A.; Durig, U. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 3576.
242. Buttiker, M.; Imry, Y.; Landauer, R.; Pinhas, S. Phys. Rev. B 1985, 31, 6207.
243. Scherbakov, A. G.; Bogachek, E. N.; Landman, U. Phys. Rev. B 1996, 53, 4054.
244. Olesen, L.; Laegsgaard, E.; Stensgaard, I.; Besenbacher, F.; Schiotz, J.; Stoltze, P.; Jacobsen, K. W.; Norskov, J. K. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 2251.
245. Pascual, J. I.; Mendez, J.; Gomez-Herrero, J.; Baro, A. M.; Garcia, N.; Landman, U.; Luedtke, W. D.; Bogachek, E. N.; Cheng, H.-P. Science 1995, 267, 1793.
246. Krans, J. M.; Muller, C. J.; Yanson, I. K.; Govaert, T. C. M.; Hesper, R.; van Ruitenbeek, J. M. Phys. Rev. B 1993, 48, 14721.
247. Landman, U.; Luedtke, W. D.; Burnham, N. A.; Colton, R. J. Science 1990, 248, 454.
248. Lynden-Bell, R. M. Science 1994, 263, 1704.
249. Todorov, T. N.; Sutton, A. P. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 2138.
250. Pethica, J. B.; Oliver, W. C. Thin Films: Stresses and Mechanical Properties Symposium; Bravman, J. C., Nix, W. D., Barnett, D. M., Smith, D. A., Eds.; Mater. Res. Soc: Boston, MA, 1989; p 13.
251. Landman, U.; Luedtke, W. D.; Salisbury, B. E.; Whetten, R. L. Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 1362.
252. Butt, H.-J.; Seifert, K,; Bamberg, E. J. Phys. Chem. 1993, 97, 7316.
253. Xiao, X.-d.; Liu, G.-y.; Charych, D. H.; Salmeron, M. Langmuir 1995, 11, 1600.
254. Nuzzo, R. G.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1983, 105, 4481.
255. Porter, M. D.; Bright, T. B. ; Allara, D. L.; Chidesy, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3559.
256. Bryant, M. A.; Pemberton, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 8284.
257. Dubois, L. H.; Zegarski, B. R.; Nuzzo, R. G. J. Chem. Phys. 1993, 98, 678.
258. Camillone, N.; Chidsey, C. E. D.; Liu, G.-y.; Scoles, G. J. Chem. Phys. 1993, 98, 3503.
259. Fenter, P.; Eisenberg, P.; Liang, K. S. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 2447.
260. Fenter, P.; Eberhardt, A.; Eisenberg, P. Science 1994, 226, 1216.
261. Yeganeh, M. S.; Dougal, S. M.; Polizzotti, R. S.; Rabinowitz, P. Phys. Rev. Lett. 1995, 74, 1811.
262. Wilson, T. E.; Murray, M. N.; Ogletree, D. F.; Bednarski, M. D.; Cantor, C. R.; Salmeron, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1990, 9, 1171.
263. Wilson, T. E.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M.; Bednarski, M. D. Langmuir 1992, 8, 2588.
264. Dürig, U.; Züger, O.; Michel, B. Phys. Rev. B 1993, 48, 1711.
265. Salmeron, M.; Neubauer, G.; Folch, A.; Tomitori, M.; Ogletree, D. F.; Sautet, P. Langmuir 1993, 9, 3600.
266. Poirier, G. E.; Tarlov, M. J. Langmuir 1994, 10, 2853.
267. Anselmetti, D.; Baratoff, A.; Güntherodt, H.-J.; Delamarche, E.; Michel, B.; Gerber, C.; Kang, H.; Wolf, H.; Ringsdorf, H. Europhys. Lett. 1994, 27, 365.
268. Liu, G.-y.; Fenter, P.; Chidsey, C. E. D.; Ogletree, D. F.; Eisenberger, P.; Salmeron, M. J. Chem. Phys. 1994, 101, 4301.
269. Ulman, A. Introduction to Ultrathin Organic Films from Langmuir-Blodgett to Self-Assembly; Academic Press: New York, 1991.
270. Wasserman, S. R.; Tao, Y. T.; Whitesides, G. M. Langmuir 1991, 7, 532.
271. Maoz, R.; Sagiv, J. J. Am. Chem. Soc. 1984, 100, 465.
272. Wasserman, S. R.; Whitesides, G. M.; Tidswell, I. M.; Ocko, B. M.; Pershan, P. S.; Axe, J. D. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 5852.
273. Tilman, N.; Ulman, A.; Schildkraut, J. S.; Penner, T. L. J. Am. Chem. Soc. 1988, 111, 6136.
274. Meyer, E.; Howald, L.; Overney, R.; Brodbeck, D.; Lüthi, R.; Haefke, H.; Frommer, J.; Güntherodt, H.-J. Ultramicroscopy 1992, 42-44, 274.
275. Meyer, E.; Overney, R.; Lüthi, R.; Brodbeck, D.; Howald, L.; Frommer, J.; Güntherodt, H.-J.; Wolter, O.; Fujihira, M.; Takano, H.; Gotoh, Y. Thin Solid Films 1992, 220, 132.
276. Green, J.-B. D.; McDermott, M. T.; Porter, M. D. J Phys. Chem. 1995, 99, 10960.
277. Overney, R. M.; Meyer, E.; Frommer, J.; Güntherodt, H. J. Langmuir 1994, 10, 1281.
278. Overney, R. M.; Leta, D. P. Tribol. Lett. 1995, 1, 247.
279. Koleske, D. D.; Barger, W. R.; Lee, G. U.; Colton, R. J. Thin Solid Films 1997, in press.
280. Xiao, X.-D.; Hu, J.; Charych, D. H.; Salmeron, M. Langmuir 1996, 12, 235.
281. Lio, A.; Charych, D.; Salmeron, M. J. Chem. Phys., in press (June, 1997).
282. Du, Q.; Xiao, X.-d.; Charych, D.; Wolf, F.; Frantz, P.; Ogletree, D. F.; Shen, Y. R.; Salmeron, M. Phys. Rev. B 1995, 51, 7456.
283. Guyot-Sionnest, P.; Hunt, J. H.; Shen, Y. R. Phys. Rev. Lett. 1988, 59, 1597.
284. Siepman, J. I.; McDonald, I. R. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 453.
285. Joyce, S. A.; Thomas, R. C.; Houston, J. E.; Michalske, T. A.; Crooks, R. M. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 2790.
286. Salmeron, M. B. MRS Bull. 1993, 18, 20.
287. Liu, G.-y.; Salmeron, M. B. Langmuir 1994, 10, 367.
288. Lio, A.; Morant, C.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. J. Phys. Chem. 1997, in press (June, 1997).
289. Salmeron, M.; Liu, G.-y.; Ogletree, D. F. Forces in Scanning Probe Methods; Güntherodt, H.-J., Anselmetti, D., Meyer, E., Eds.; Kluwer Academic Publishers: The Netherlands, 1995; p 593.