Structural and electronic investigation of Si(0 0 1) surface after acetylene interaction

Surface Science

Volumn 521, Issue 1-2, 2002, Pages 57-68

  De Crescenzi, M ^a,b   Bernardini, R ^a   Cardella, M ^a   Gunnella, R ^a   Castrucci, Paola ^a   Pizzoferrato, R ^b   Casalboni, M ^b  

^a UNIVERSITY OF CAMERINO   (Italy)

^b UNIVERSITY OF ROME TOR VERGATA   (Italy)

Author keywords

Alkynes; Growth; Photoluminescence; Scanning tunneling microscopy; Silicon; Silicon carbide; Surface structure, morphology, roughness, and topography

Indexed keywords

ACETYLENE; ANNEALING; CARBONIZATION; CRYSTALLINE MATERIALS; MORPHOLOGY; NANOSTRUCTURED MATERIALS; PHOTOLUMINESCENCE; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SURFACE ROUGHNESS; ULTRAHIGH VACUUM;

SUBSTOICHIOMETRIC ALLOYS;

SILICON CARBIDE;

EID: 0037058840     PISSN: 00396028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0039-6028(02)02300-2     Document Type: Article

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