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Volumn 3, Issue , 2011, Pages 23-35

Atomic force microscopy

Author keywords

AFM probe modification; Atomic force microscope; Contact mode; Fibrinogen; Force curve; Force mapping; Intermittent contact mode; Microphase structure; Molecular interaction force; Molecular recognition; Nano indentation; Phase imaging; Polyurethane; Scanning probe microscope; Topography

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ATOMIC-FORCE-MICROSCOPY;

EID: 84906615297     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Book    
DOI: None     Document Type: Chapter
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.