Beveled oxide study of the surface potential modulation of self assembled alkyltrichlorosilanes

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 117, Issue 1, 2013, Pages 233-237

  Kornblum, Lior ^a   Paska, Yair ^a   Haick, Hossam ^a   Eizenberg, Moshe ^a  

^a TECHNION ISRAEL INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Israel)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTROSTATIC EFFECT; METAL-OXIDE-SEMICONDUCTOR CAPACITORS; OXIDE METHODS; SELF-ASSEMBLED;

ELECTROSTATICS; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS;

MODULATION;

EID: 84872419428     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp308312m     Document Type: Article

References (38)

1. Rühle, S.; Greenshtein, M.; Chen, S. G.; Merson, A.; Pizem, H.; Sukenik, C. S.; Cahen, D.; Zaban, A. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 18907-18913
2. Chung, Y.; Verploegen, E.; Vailionis, A.; Sun, Y.; Nishi, Y.; Murmann, B.; Bao, Z. Nano Lett. 2011, 11, 1161-1165
3. Pernstich, K. P.; Haas, S.; Oberhoff, D.; Goldmann, C.; Gundlach, D. J.; Batlogg, B.; Rashid, A. N.; Schitter, G. J. Appl. Phys. 2004, 96, 6431-6438
4. Cahen, D.; Naaman, R.; Vager, Z. Adv. Func. Mater. 2005, 15, 1571-1578
5. Goykhman, I.; Korbakov, N.; Bartic, C.; Borghs, G.; Spira, M. E.; Shappir, J.; Yitzchaik, S. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 4788-4794
6. Paska, Y.; Stelzner, T.; Assad, O.; Tisch, U.; Christiansen, S.; Haick, H. ACS Nano 2011, 6, 335-345
7. Paska, Y.; Stelzner, T.; Christiansen, S.; Haick, H. ACS Nano 2011, 5, 5620-5626
8. Gozlan, N.; Tisch, U.; Haick, H. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 12988-12992
9. Peor, N.; Sfez, R.; Yitzchaik, S. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 4158-4165
10. He, T.; He, J.; Lu, M.; Chen, B.; Pang, H.; Reus, W. F.; Nolte, W. M.; Nackashi, D. P.; Franzon, P. D.; Tour, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 14537-14541
11. Shaya, O.; Shaked, M.; Doron, A.; Cohen, A.; Levy, I.; Rosenwaks, Y. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 043509
12. Paska, Y.; Haick, H. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 233103
13. Shaya, O.; Shaked, M.; Usherenko, Y.; Halpern, E.; Shalev, G.; Doron, A.; Levy, I.; Rosenwaks, Y. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 6163-6168
14. Shaya, O.; Einati, H.; Fishelson, N.; Shacham-Diamand, Y.; Rosenwaks, Y. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 053501
15. Natan, A.; Kronik, L.; Haick, H.; Tung, R. T. Adv. Mater. 2007, 19, 4103-4117
16. Bashouti, M. Y.; Tung, R. T.; Haick, H. Small 2009, 5, 2761-2769
17. Paska, Y.; Haick, H. ACS Appl. Mater. Interfaces 2012, 4, 2604-2617
18. Capua, E.; Natan, A.; Kronik, L.; Naaman, R. ACS Appl. Mater. Interfaces 2009, 1, 2679-2683
19. Gozlan, N.; Haick, H. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 12599-12601
20. Vilan, A.; Shanzer, A.; Cahen, D. Nature 2000, 404, 166-168
21. Selzer, Y.; Cahen, D. Adv. Mater. 2001, 13, 508-511
22. Haick, H.; Ambrico, M.; Ligonzo, T.; Tung, R. T.; Cahen, D. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 6854-6869
23. Scott, A.; Risko, C.; Valley, N.; Ratner, M. A.; Janes, D. B. J. Appl. Phys. 2010, 107, 024505
24. Vuillaume, D.; Boulas, C.; Collet, J.; Allan, G.; Delerue, C. Phys. Rev. B 1998, 58, 16491-16498
25. Kornblum, L.; Paska, Y.; Rothschild, J. A.; Haick, H.; Eizenberg, M. Appl. Phys. Lett. 2011, 99, 233508
26. Adelmann, C.; Meersschaut, J.; Ragnarsson, L. A.; Conard, T.; Franquet, A.; Sengoku, N.; Okuno, Y.; Favia, P.; Bender, H.; Zhao, C. J. Appl. Phys. 2009, 105, 053516
27. Rothschild, J. A.; Eizenberg, M. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 081905
28. Kornblum, L.; Rothschild, J.; Kauffmann, Y.; Brener, R.; Eizenberg, M. Phys. Rev. B 2011, 84, 155317
29. Paska, Y.; Haick, H. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 1993-1997
30. Nicollian, E. H.; Brews, J. R. MOS (metal oxide semiconductor) physics and technology; Wiley: New York, 1982.
31. Snow, E. H.; Grove, A. S.; Fitzgerald, D. J. IEEE Proc. 1967, 55, 1168-1185
32. Ning, T. H. J. Appl. Phys. 1978, 49, 4077-4082
33. Jha, R.; Gurganos, J.; Kim, Y. H.; Choi, R.; Lee, J.; Misra, V. IEEE Elect. Dev. Lett. 2004, 25, 420-423
34. Ohtake, T.; Mino, N.; Ogawa, K. Langmuir 1992, 8, 2081-2083
35. Turgman-Cohen, S.; Fischer, D. A.; Kilpatrick, P. K.; Genzer, J. ACS Appl. Mater. Interfaces 2009, 1, 1347-1357
36. Cheng, W.; McCown, M. J. Chromatogr. A 1985, 318, 173-185
37. Maoz, R.; Sagiv, J.; Degenhardt, D.; Möhwald, H.; Quint, P. Supramol. Sci. 1995, 1, 9-24
38. Baptiste, A.; Gibaud, A.; Bardeau, J. F.; Wen, K.; Maoz, R.; Sagiv, J.; Ocko, B. M. Langmuir 2002, 10, 3916-3922