-
1
-
-
2942739152
-
-
Lauhon, L. J.; Gudiksen, M. S.; Lieber, C. M. Philos. Trans. R. Soc. London, A 2004, 362, 1247-1260
-
(2004)
Philos. Trans. R. Soc. London, A
, vol.362
, pp. 1247-1260
-
-
Lauhon, L.J.1
Gudiksen, M.S.2
Lieber, C.M.3
-
2
-
-
0035827304
-
-
Huang, M. H.; Mao, S.; Feick, H.; Yan, H.; Wu, Y.; Kind, H.; Weber, E.; Russo, R.; Yang, P. Science 2001, 292, 1897-1899
-
(2001)
Science
, vol.292
, pp. 1897-1899
-
-
Huang, M.H.1
Mao, S.2
Feick, H.3
Yan, H.4
Wu, Y.5
Kind, H.6
Weber, E.7
Russo, R.8
Yang, P.9
-
4
-
-
0000288835
-
-
Chen, Y.; Bagnall, D. M.; Koh, H.-j.; Park, K.-t.; Hiraga, K.; Zhu, Z. J. Appl. Phys. 1998, 84, 3912-3918
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.84
, pp. 3912-3918
-
-
Chen, Y.1
Bagnall, D.M.2
Koh, H.-J.3
Park, K.-T.4
Hiraga, K.5
Zhu, Z.6
-
6
-
-
0001649616
-
-
Kohan, A.; Ceder, G.; Morgan, D.; Van de Walle, C. Phys. Rev. B 2000, 61, 15019-15027
-
(2000)
Phys. Rev. B
, vol.61
, pp. 15019-15027
-
-
Kohan, A.1
Ceder, G.2
Morgan, D.3
Van De Walle, C.4
-
7
-
-
0032606197
-
-
Look, D.; Hemsky, J.; Sizelove, J. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 2552-2555
-
(1999)
Phys. Rev. Lett.
, vol.82
, pp. 2552-2555
-
-
Look, D.1
Hemsky, J.2
Sizelove, J.3
-
8
-
-
79952448441
-
-
Su, S. C.; Yang, X. D.; Hu, C. D. Physica B 2011, 406, 1533-1535
-
(2011)
Physica B
, vol.406
, pp. 1533-1535
-
-
Su, S.C.1
Yang, X.D.2
Hu, C.D.3
-
9
-
-
79958012675
-
-
Cheng, Y.-C.; Kuo, Y.-S.; Li, Y.-H.; Shyue, J.-J.; Chen, M.-J. Thin Solid Films 2011, 519, 5558-5561
-
(2011)
Thin Solid Films
, vol.519
, pp. 5558-5561
-
-
Cheng, Y.-C.1
Kuo, Y.-S.2
Li, Y.-H.3
Shyue, J.-J.4
Chen, M.-J.5
-
10
-
-
79955162022
-
-
Fan, J. C.; Zhu, C. Y.; Yang, B.; Fung, S.; Beling, C. D.; Brauer, G.; Anwand, W.; Grambole, D.; Skorupa, W.; Wong, K. S.; Zhong, Y. C.; Xie, Z.; Ling, C. C. J. Vac. Sci. Technol., A 2011, 29, 03A103
-
(2011)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.29
-
-
Fan, J.C.1
Zhu, C.Y.2
Yang, B.3
Fung, S.4
Beling, C.D.5
Brauer, G.6
Anwand, W.7
Grambole, D.8
Skorupa, W.9
Wong, K.S.10
Zhong, Y.C.11
Xie, Z.12
Ling, C.C.13
-
12
-
-
8644222175
-
-
Lu, J. G.; Ye, Z. Z.; Zhuge, F.; Zeng, Y. J.; Zhao, B. H.; Zhu, L. P. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 3134-3135
-
(2004)
Appl. Phys. Lett.
, vol.85
, pp. 3134-3135
-
-
Lu, J.G.1
Ye, Z.Z.2
Zhuge, F.3
Zeng, Y.J.4
Zhao, B.H.5
Zhu, L.P.6
-
13
-
-
24144488224
-
-
Chen, L. L.; Lu, J. G.; Ye, Z. Z.; Lin, Y. M.; Zhao, B. H.; Ye, Y. M.; Li, J. S.; Zhu, L. P. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 1-3
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, vol.87
, pp. 1-3
-
-
Chen, L.L.1
Lu, J.G.2
Ye, Z.Z.3
Lin, Y.M.4
Zhao, B.H.5
Ye, Y.M.6
Li, J.S.7
Zhu, L.P.8
-
15
-
-
79960285162
-
-
Kumar, E. S.; Chatterjee, J.; Rama, N.; DasGupta, N.; Rao, M. S. R. ACS Appl. Mater. Interfaces 2011, 3, 1974-1979
-
(2011)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.3
, pp. 1974-1979
-
-
Kumar, E.S.1
Chatterjee, J.2
Rama, N.3
Dasgupta, N.4
Rao, M.S.R.5
-
16
-
-
79959285638
-
-
Wang, G.; Chu, S.; Zhan, N.; Zhou, H.; Liu, J. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2011, 103, 951-954
-
(2011)
Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
, vol.103
, pp. 951-954
-
-
Wang, G.1
Chu, S.2
Zhan, N.3
Zhou, H.4
Liu, J.5
-
17
-
-
84863254991
-
-
Gupta, M. K.; Sinha, N.; Kumar, B. J. Appl. Phys. 2011, 109, 1-5
-
(2011)
J. Appl. Phys.
, vol.109
, pp. 1-5
-
-
Gupta, M.K.1
Sinha, N.2
Kumar, B.3
-
18
-
-
33847766246
-
-
Xiang, B.; Wang, P.; Zhang, X.; Dayeh, S. a; Aplin, D. P. R; Soci, C.; Yu, D.; Wang, D. Nano Lett. 2007, 7, 323-328
-
(2007)
Nano Lett.
, vol.7
, pp. 323-328
-
-
Xiang, B.1
Wang, P.2
Zhang, X.3
Dayeh, S.A.4
Aplin, D.P.R.5
Soci, C.6
Yu, D.7
Wang, D.8
-
19
-
-
65249189519
-
-
Lu, M.-P.; Song, J.; Lu, M.-Y.; Chen, M.-T.; Gao, Y.; Chen, L.-J.; Wang, Z. L. Nano Lett. 2009, 9, 1223-1227
-
(2009)
Nano Lett.
, vol.9
, pp. 1223-1227
-
-
Lu, M.-P.1
Song, J.2
Lu, M.-Y.3
Chen, M.-T.4
Gao, Y.5
Chen, L.-J.6
Wang, Z.L.7
-
20
-
-
0036002001
-
-
Aoki, T.; Shimizu, Y.; Miyake, A.; Nakamura, A.; Nakanishi, Y.; Hatanaka, Y. Phys. Status Solidi B 2002, 229, 911-914
-
(2002)
Phys. Status Solidi B
, vol.229
, pp. 911-914
-
-
Aoki, T.1
Shimizu, Y.2
Miyake, A.3
Nakamura, A.4
Nakanishi, Y.5
Hatanaka, Y.6
-
21
-
-
28344440203
-
-
Xiu, F. X.; Yang, Z.; Mandalapu, L. J.; Zhao, D. T.; Liu, J. L.; Beyermann, W. P. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 152101
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, vol.87
, pp. 152101
-
-
Xiu, F.X.1
Yang, Z.2
Mandalapu, L.J.3
Zhao, D.T.4
Liu, J.L.5
Beyermann, W.P.6
-
22
-
-
31944446414
-
-
Mandalapu, L. J.; Yang, Z.; Xiu, F. X.; Zhao, D. T.; Liu, J. L. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 1-3
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.88
, pp. 1-3
-
-
Mandalapu, L.J.1
Yang, Z.2
Xiu, F.X.3
Zhao, D.T.4
Liu, J.L.5
-
23
-
-
84863251743
-
-
Przeździecka, E.; Kamińska, E.; Pasternak, I.; Piotrowska, A.; Kossut, J. Phys. Rev. B 2007, 76, 1-4
-
(2007)
Phys. Rev. B
, vol.76
, pp. 1-4
-
-
Przeździecka, E.1
Kamińska, E.2
Pasternak, I.3
Piotrowska, A.4
Kossut, J.5
-
24
-
-
84863281540
-
-
Chu, S.; Lim, J. H.; Mandalapu, L. J.; Yang, Z.; Li, L.; Liu, J. L. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 1-3
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.92
, pp. 1-3
-
-
Chu, S.1
Lim, J.H.2
Mandalapu, L.J.3
Yang, Z.4
Li, L.5
Liu, J.L.6
-
25
-
-
84863238027
-
-
Pan, X. H.; Guo, W.; Ye, Z. Z.; Liu, B.; Che, Y.; He, H. P.; Pan, X. Q. J. Appl. Phys. 2009, 105, 1-4
-
(2009)
J. Appl. Phys.
, vol.105
, pp. 1-4
-
-
Pan, X.H.1
Guo, W.2
Ye, Z.Z.3
Liu, B.4
Che, Y.5
He, H.P.6
Pan, X.Q.7
-
26
-
-
79954493219
-
-
Wang, F.; Seo, J.-H.; Bayerl, D.; Shi, J.; Mi, H.; Ma, Z.; Zhao, D.; Shuai, Y.; Zhou, W.; Wang, X. Nanotechnology 2011, 22, 1-8
-
(2011)
Nanotechnology
, vol.22
, pp. 1-8
-
-
Wang, F.1
Seo, J.-H.2
Bayerl, D.3
Shi, J.4
Mi, H.5
Ma, Z.6
Zhao, D.7
Shuai, Y.8
Zhou, W.9
Wang, X.10
-
27
-
-
79961209221
-
-
Chu, S.; Wang, G.; Zhou, W.; Lin, Y.; Chernyak, L.; Zhao, J.; Kong, J.; Li, L.; Ren, J.; Liu, J. Nature Nanotechnol. 2011, 6, 506-510
-
(2011)
Nature Nanotechnol.
, vol.6
, pp. 506-510
-
-
Chu, S.1
Wang, G.2
Zhou, W.3
Lin, Y.4
Chernyak, L.5
Zhao, J.6
Kong, J.7
Li, L.8
Ren, J.9
Liu, J.10
-
28
-
-
12344257046
-
-
Goldberger, J.; Sirbuly, D. J.; Law, M.; Yang, P. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 9-14
-
(2005)
J. Phys. Chem. B
, vol.109
, pp. 9-14
-
-
Goldberger, J.1
Sirbuly, D.J.2
Law, M.3
Yang, P.4
-
29
-
-
25144462707
-
-
Özgür, U.; Alivov, Y. I.; Liu, C.; Teke, A.; Reshchikov, M. a.; Doǧan, S.; Avrutin, V.; Cho, S.-J.; Morkoç, H. J. Appl. Phys. 2005, 98, 1-103
-
(2005)
J. Appl. Phys.
, vol.98
, pp. 1-103
-
-
Özgür, U.1
Alivov, Y.I.2
Liu, C.3
Teke, A.4
M, A.R.5
Doǧan, S.6
Avrutin, V.7
Cho, S.-J.8
Morkoç, H.9
-
30
-
-
36249000644
-
-
Look, D. Surf. Sci. 2007, 601, 5315-5319
-
(2007)
Surf. Sci.
, vol.601
, pp. 5315-5319
-
-
Look, D.1
-
32
-
-
0027545078
-
-
Hillyard, S.; Loane, R. F.; Silcox, J. Ultramicroscopy 1993, 49, 14-25
-
(1993)
Ultramicroscopy
, vol.49
, pp. 14-25
-
-
Hillyard, S.1
Loane, R.F.2
Silcox, J.3
-
33
-
-
0027714798
-
-
Perovic, D. D.; Rossouw, C. J.; Howie, A. Ultramicroscopy 1993, 52, 353-359
-
(1993)
Ultramicroscopy
, vol.52
, pp. 353-359
-
-
Perovic, D.D.1
Rossouw, C.J.2
Howie, A.3
-
34
-
-
0035526627
-
-
Rečnik, A.; Daneu, N.; Walther, T.; Mader, W. J. Am. Ceram. Soc. 2001, 84, 2657-2668
-
(2001)
J. Am. Ceram. Soc.
, vol.84
, pp. 2657-2668
-
-
Rečnik, A.1
Daneu, N.2
Walther, T.3
Mader, W.4
-
35
-
-
0036412009
-
-
Shiojiri, M.; Recnik, A.; Yamazaki, T.; Kawasaki, M.; Ceh, M.; Watanabe, K. Microsc. Microanal. 2002, 8, 494-495
-
(2002)
Microsc. Microanal.
, vol.8
, pp. 494-495
-
-
Shiojiri, M.1
Recnik, A.2
Yamazaki, T.3
Kawasaki, M.4
Ceh, M.5
Watanabe, K.6
-
36
-
-
1842525100
-
-
Yamazaki, T.; Nakanishi, N.; Recnik, A.; Kawasaki, M.; Watanabe, K.; Ceh, M.; Shiojiri, M. Ultramicroscopy 2004, 98, 305-316
-
(2004)
Ultramicroscopy
, vol.98
, pp. 305-316
-
-
Yamazaki, T.1
Nakanishi, N.2
Recnik, A.3
Kawasaki, M.4
Watanabe, K.5
Ceh, M.6
Shiojiri, M.7
-
37
-
-
0030212138
-
-
McCoy, M. a.; Grimes, R. W.; Lee, W. E. J. Mater. Res. 2011, 11, 2009-2019
-
(2011)
J. Mater. Res.
, vol.11
, pp. 2009-2019
-
-
M, A.M.1
Grimes, R.W.2
Lee, W.E.3
-
38
-
-
65349195568
-
-
Torbrügge, S.; Ostendorf, F.; Reichling, M. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 4909-4914
-
(2009)
J. Phys. Chem. C
, vol.113
, pp. 4909-4914
-
-
Torbrügge, S.1
Ostendorf, F.2
Reichling, M.3
-
40
-
-
2542438239
-
-
Limpijumnong, S.; Zhang, S.; Wei, S.-H.; Park, C. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 1-4
-
(2004)
Phys. Rev. Lett.
, vol.92
, pp. 1-4
-
-
Limpijumnong, S.1
Zhang, S.2
Wei, S.-H.3
Park, C.4
-
48
-
-
4243943295
-
-
Perdew, J. P.; Burke, K.; Ernzerhof, M. Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 3865-3868
-
(1996)
Phys. Rev. Lett.
, vol.77
, pp. 3865-3868
-
-
Perdew, J.P.1
Burke, K.2
Ernzerhof, M.3
-
49
-
-
4944232881
-
-
Perdew, J. P.; Burke, K.; Ernzerhof, M. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 1396
-
(1997)
Phys. Rev. Lett.
, vol.78
, pp. 1396
-
-
Perdew, J.P.1
Burke, K.2
Ernzerhof, M.3
-
50
-
-
0012842779
-
-
Anisimov, V. I.; Aryasetiawan, F.; Lichtenstein, A. I. J. Phys.: Condens. Matter 1997, 9, 767-808
-
(1997)
J. Phys.: Condens. Matter
, vol.9
, pp. 767-808
-
-
Anisimov, V.I.1
Aryasetiawan, F.2
Lichtenstein, A.I.3
-
51
-
-
84863270273
-
-
Erhart, P.; Albe, K.; Klein, A. Phys. Rev. B 2006, 73, 1-9
-
(2006)
Phys. Rev. B
, vol.73
, pp. 1-9
-
-
Erhart, P.1
Albe, K.2
Klein, A.3
-
52
-
-
84855475999
-
-
Schmid, H.; Okunishi, E.; Oikawa, T.; Mader, W. Micron 2012, 43, 49-56
-
(2012)
Micron
, vol.43
, pp. 49-56
-
-
Schmid, H.1
Okunishi, E.2
Oikawa, T.3
Mader, W.4
-
54
-
-
33947133127
-
-
Wolf, F.; Freitag, B. H.; Mader, W. Micron 2007, 38, 549-52
-
(2007)
Micron
, vol.38
, pp. 549-52
-
-
Wolf, F.1
Freitag, B.H.2
Mader, W.3
-
55
-
-
72649104022
-
-
LeBeau, J. M.; Findlay, S. D.; Allen, L. J.; Stemmer, S. Ultramicroscopy 2010, 110, 118-25
-
(2010)
Ultramicroscopy
, vol.110
, pp. 118-25
-
-
Lebeau, J.M.1
Findlay, S.D.2
Allen, L.J.3
Stemmer, S.4
-
56
-
-
79951494425
-
-
LeBeau, J. M.; D'Alfonso, A. J.; Wright, N. J.; Allen, L. J.; Stemmer, S. Appl. Phys. Lett. 2011, 98, 052904
-
(2011)
Appl. Phys. Lett.
, vol.98
, pp. 052904
-
-
Lebeau, J.M.1
D'Alfonso, A.J.2
Wright, N.J.3
Allen, L.J.4
Stemmer, S.5
-
59
-
-
34247351606
-
-
Jo, W.; Park, C.; Kim, D.-Y. Acta Crystallogr., Sect. A 2007, 63, 229-233
-
(2007)
Acta Crystallogr., Sect. A
, vol.63
, pp. 229-233
-
-
Jo, W.1
Park, C.2
Kim, D.-Y.3
-
60
-
-
42249111707
-
-
Park, J. S.; Chang, J. H.; Minegishi, T.; Lee, H. J.; Park, S. H.; Im, I. H.; Hanada, T.; Hong, S. K.; Cho, M. W.; Yao, T. J. Electron. Mater. 2007, 37, 736-742
-
(2007)
J. Electron. Mater.
, vol.37
, pp. 736-742
-
-
Park, J.S.1
Chang, J.H.2
Minegishi, T.3
Lee, H.J.4
Park, S.H.5
Im, I.H.6
Hanada, T.7
Hong, S.K.8
Cho, M.W.9
Yao, T.10
-
61
-
-
3042823727
-
-
Li, Q. H.; Wan, Q.; Liang, Y. X.; Wang, T. H. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 4556-4558
-
(2004)
Appl. Phys. Lett.
, vol.84
, pp. 4556-4558
-
-
Li, Q.H.1
Wan, Q.2
Liang, Y.X.3
Wang, T.H.4
-
62
-
-
77957259016
-
-
Chen, C.-Y.; Chen, M.-W.; Ke, J.-J.; Lin, C.-A.; Retamal, J. R. D.; He, J.-H. Pure Appl. Chem. 2010, 82, 2055-2073
-
(2010)
Pure Appl. Chem.
, vol.82
, pp. 2055-2073
-
-
Chen, C.-Y.1
Chen, M.-W.2
Ke, J.-J.3
Lin, C.-A.4
Retamal, J.R.D.5
He, J.-H.6
|