-
1
-
-
0142037327
-
-
Chou, S. Y.; Krauss, P. R.; Renstrom, P. J. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 3114.
-
(1995)
J. Appl. Phys. Lett
, vol.67
, pp. 3114
-
-
Chou, S.Y.1
Krauss, P.R.2
Renstrom, P.3
-
5
-
-
0012752163
-
-
Chou, S. Y.; Krauss, P. R.; Zhang, W.; Guo, L. J.; Zhuang, L. J. Vac. Sci. Technol., B 1997, 15, 2897.
-
(1997)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.15
, pp. 2897
-
-
Chou, S.Y.1
Krauss, P.R.2
Zhang, W.3
Guo, L.J.4
Zhuang, L.5
-
6
-
-
0033262706
-
-
Heidari, B.; Maximov, I.; Sarwe, E. L.; Montelius, L. J. Vac. Sci. Technol., B 1999, 17, 2961.
-
(1999)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.17
, pp. 2961
-
-
Heidari, B.1
Maximov, I.2
Sarwe, E.L.3
Montelius, L.4
-
7
-
-
0035356844
-
-
Zankovych, S.; Hoffmann, T.; Seekamp, J.; Bruch, J. U.; Sotomayor Torres, C. M. Nanotechnology 2001, 12, 91.
-
(2001)
Nanotechnology
, vol.12
, pp. 91
-
-
Zankovych, S.1
Hoffmann, T.2
Seekamp, J.3
Bruch, J.U.4
Sotomayor Torres, C.M.5
-
9
-
-
20444475369
-
-
Cheng, X.; Guo, L. J.; Fu, P. F. Adv. Mater. 2005, 17, 1419.
-
(2005)
Adv. Mater
, vol.17
, pp. 1419
-
-
Cheng, X.1
Guo, L.J.2
Fu, P.F.3
-
10
-
-
27344456157
-
-
Viallet, B.; Gallo, P.; Daran, E.J. Vac. Sci. Technol., B 2005, 23, 72.
-
(2005)
Vac. Sci. Technol. B
, vol.23
, pp. 72
-
-
Viallet, B.1
Gallo, P.2
Daran, E.J.3
-
11
-
-
59049101546
-
-
Wu, C. C.; Hsu, S. L. C.; Liao, W. C. Microelectron. Eng. 2009, 86, 325.
-
(2009)
Microelectron. Eng
, vol.86
, pp. 325
-
-
Wu, C.C.1
Hsu, S.L.C.2
Liao, W.C.3
-
12
-
-
0035901999
-
-
Gonsalves, K. E.; Merhari, L.; Wu, H.; Hu, Y. Adv. Mater. 2001, 13, 703.
-
(2001)
Adv. Mater
, vol.13
, pp. 703
-
-
Gonsalves, K.E.1
Merhari, L.2
Wu, H.3
Hu, Y.4
-
13
-
-
26844558544
-
-
Lu, S. R.; Zhang, H. L.; Zhao, C. X.; Wang, X. Y. Polymer 2005, 46, 10484.
-
(2005)
Polymer
, vol.46
, pp. 10484
-
-
Lu, S.R.1
Zhang, H.L.2
Zhao, C.X.3
Wang, X.Y.4
-
14
-
-
0000960334
-
-
Hsiue, G. H.; Liu, Y. L.; Liao, H. H. J. Polym. Sci., Part A: Polym. Chem. 2001, 39, 986.
-
(2001)
J. Polym. Sci., Part A: Polym. Chem
, vol.39
, pp. 986
-
-
Hsiue, G.H.1
Liu, Y.L.2
Liao, H.H.3
-
15
-
-
20544432302
-
-
Qi, C.; Gao, H.; Yan, F. Y.; Liu, W. M.; Bao, G. Q.; Sun, X. D.; Chen, J. M.; Zheng, X. M. J. Appl. Polym. Sci. 2005, 97, 38.
-
(2005)
J. Appl. Polym. Sci
, vol.97
, pp. 38
-
-
Qi, C.1
Gao, H.2
Yan, F.Y.3
Liu, W.M.4
Bao, G.Q.5
Sun, X.D.6
Chen, J.M.7
Zheng, X.M.8
-
16
-
-
34548581998
-
-
Sangermano, M.; Priola, A.; Kortaberria, G.; Jimeno, A.; Garcia, I.; Mondragon, I.; Rizza, G. Macromol. Mater. Eng. 2007, 292, 956.
-
(2007)
Macromol. Mater. Eng
, vol.292
, pp. 956
-
-
Sangermano, M.1
Priola, A.2
Kortaberria, G.3
Jimeno, A.4
Garcia, I.5
Mondragon, I.6
Rizza, G.7
-
17
-
-
33747424755
-
-
Katayama, J.; Yamaki, S.; Mitsuyama, M.; Hanabata, M. J. Photopolym. Sci. Technol. 2006, 19, 397.
-
(2006)
J. Photopolym. Sci. Technol
, vol.19
, pp. 397
-
-
Katayama, J.1
Yamaki, S.2
Mitsuyama, M.3
Hanabata, M.4
-
18
-
-
0347516408
-
-
Weng, W. H.; Chen, H.; Tsai, S. P.; Wu, J. C. J. Appl. Polym. Sci. 2004, 91, 532.
-
(2004)
J. Appl. Polym. Sci
, vol.91
, pp. 532
-
-
Weng, W.H.1
Chen, H.2
Tsai, S.P.3
Wu, J.C.4
-
19
-
-
0030125579
-
-
Bauer, B. J.; Liu, D. W.; Jackson, C. L.; Barnes, J. D. Polym. Adv. Technol. 1996, 7, 333.
-
(1996)
Polym. Adv. Technol
, vol.7
, pp. 333
-
-
Bauer, B.J.1
Liu, D.W.2
Jackson, C.L.3
Barnes, J.D.4
-
22
-
-
1542577173
-
-
Macan, J.; Ivankovic, H.; Ivankovic, M.; Mencer, H. J. J. Appl. Polym. Sci. 2004, 92, 498.
-
(2004)
J. Appl. Polym. Sci.
, vol.92
, pp. 498
-
-
MacAn, J.1
Ivankovic, H.2
Ivankovic, M.3
Mencer, H.J.4
-
23
-
-
3142646098
-
-
Burns, R. L.; Johnson, S. C.; Schmid, G. M.; Kim, E. K.; Dickey, M. D.; Meiring, J.; Burns, S. D.; Stacey, N. A.; Grant Willson, C. Proc. SPIE 2004, 5374, 348.
-
(2004)
Proc. SPIE
, vol.5374
, pp. 348
-
-
Burns, R.L.1
Johnson, S.C.2
Schmid, G.M.3
Kim, E.K.4
Dickey, M.D.5
Meiring, J.6
Burns, S.D.7
Stacey, N.A.8
Willson, G.C.9
-
24
-
-
0038697349
-
-
Pfeiffer, K.; Reuther, F.; Fink, M.; Gruetzner, G.; Carlberg, P.; Maximov, I.; Montelius, L.; Seekamp, J.; Zankovych, S.; Sotomayor-Torres, C. M.; Schulz, H.; Scheer, H. C. Microelectron. Eng. 2003, 67-68, 266.
-
(2003)
Microelectron. Eng
, vol.67-68
, pp. 266
-
-
Pfeiffer, K.1
Reuther, F.2
Fink, M.3
Gruetzner, G.4
Carlberg, P.5
Maximov, I.6
Montelius, L.7
Seekamp, J.8
Zankovych, S.9
Sotomayor-Torres, C.M.10
Schulz, H.11
Scheer, H.C.12
-
25
-
-
34247868037
-
-
Vogler, M.; Wiedenberg, S.; Muhlberger, M.; Bergmair, I.; Glinsner, T.; Schmidt, H.; Kley, E.-B.; Grutzner, G.Microelectron. Eng. 2007, 84, 984.
-
(2007)
Microelectron. Eng
, vol.84
, pp. 984
-
-
Vogler, M.1
Wiedenberg, S.2
Muhlberger, M.3
Bergmair, I.4
Glinsner, T.5
Schmidt, H.6
Kley, E.-B.7
Grutzner, G.8
-
26
-
-
35048903120
-
-
Schuster, C.; Kubenz, M.; Reuther, F.; Fink, M.; Gruetzner, G. Proc. SPIE 2007, 6517, 65172B.
-
(2007)
Proc. SPIE
, vol.6517
-
-
Schuster, C.1
Kubenz, M.2
Reuther, F.3
Fink, M.4
Gruetzner, G.5
-
27
-
-
33745589481
-
-
Sekiguchi, A.; Kono, Y.; Mori, S.; Honda, N.; Hirai, Y. Proc. SPIE 2006, 6151, 61512H.
-
(2006)
Proc. SPIE
, vol.6151
-
-
Sekiguchi, A.1
Kono, Y.2
Mori, S.3
Honda, N.4
Hirai, Y.5
|