-
4
-
-
11944255355
-
-
Terabe, K.; Hasegawa, T.; Nakayama, T.; Aono, M. Nature 2005, 433, 47.
-
(2005)
Nature
, vol.433
, pp. 47
-
-
Terabe, K.1
Hasegawa, T.2
Nakayama, T.3
Aono, M.4
-
5
-
-
0033319678
-
-
Hyman, D.; Mehregany, M. IEEE Trans. Compon., Paekag. Technol. 1999, 22, 357.
-
(1999)
IEEE Trans. Compon., Paekag. Technol.
, vol.22
, pp. 357
-
-
Hyman, D.1
Mehregany, M.2
-
6
-
-
75749129681
-
-
Mereado, L, L.; Kuo, S. -M.; Lee, T. -Y. T.; Liu, L. Electron. Compon. Technol. Conf. 2003, 377.
-
(2003)
Electron. Compon. Technol. Conf.
, pp. 377
-
-
Mereado, L.L.1
Kuo, S.M.2
Lee, T.Y.T.3
Liu, L.4
-
8
-
-
0035948942
-
-
Majumder, S.; McGruer, N. E.; Adams, G. G.; Zavracky, P. M.; Morrison, R. H.; Krim, J. Sens. Actuators A 2001, 93, 19.
-
(2001)
Sens. Actuators A
, vol.93
, pp. 19
-
-
Majumder, S.1
McGruer, N.E.2
Adams, G.G.3
Zavracky, P.M.4
Morrison, R.H.5
Krim, J.6
-
10
-
-
38949189275
-
-
Newman, H. S.; Ebel, J, L.; Judy, D.; Maeiel, J, IEEE Microwave Compon. Letl. 2008, 18, 100.
-
(2008)
IEEE Microwave Compon. Letl.
, vol.18
, pp. 100
-
-
Newman, H.S.1
Ebel, J.L.2
Judy, D.3
Maeiel, J.4
-
11
-
-
2842532016
-
-
Pascual, J. L; Mendez, J.; Gomez-IIerrero, J.; Baro, A. M.; Garcia, N.; Landman, U.; Luedtke, W. D.; Bogachek, E. N.; Cheng, H. -P. J. Vac. Sci. Technol. B 1995, 13, 1280.
-
(1995)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.13
, pp. 1280
-
-
Pascual, J.L.1
Mendez, J.2
Gomez-IIerrero, J.3
Baro, A.M.4
Garcia, N.5
Landman, U.6
Luedtke, W.D.7
Bogachek, E.N.8
Cheng, H.P.9
-
12
-
-
0001114720
-
-
Hansen, K.; Nielsen, S. K.; Brandbyge, M.; Laegsgaard, E.; Stensgaard, L.; Besenbacher, F. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 708.
-
(2000)
Appl. Phys. Lett.
, vol.77
, pp. 708
-
-
Hansen, K.1
Nielsen, S.K.2
Brandbyge, M.3
Laegsgaard, E.4
Stensgaard, L.5
Besenbacher, F.6
-
13
-
-
0038757529
-
-
Tonck, A.; Houze, F.; Boyer, L.; Loubet, J. -L; Georges, J. -M. J. Phys.: Condens. Malter 1991, 3, 5195.
-
(1991)
J. Phys.: Condens. Malter
, vol.3
, pp. 5195
-
-
Tonck, A.1
Houze, F.2
Boyer, L.3
Loubet, J.L.4
Georges, J.M.5
-
17
-
-
0038680506
-
-
Tringe, J. W.; Uhlman, T. A.; Oliver, A. C.; Houston, J. E. J. Appl. Phys. 2003, 93, 4661.
-
(2003)
J. Appl. Phys.
, vol.93
, pp. 4661
-
-
Tringe, J.W.1
Uhlman, T.A.2
Oliver, A.C.3
Houston, J.E.4
-
18
-
-
3142563283
-
-
Énachescu, M.; Carpick, R, W.; Ogletree, D. F.; Salmerón, M, J. Appl. Phys. 2004, 95, 7694.
-
(2004)
J. Appl. Phys.
, vol.95
, pp. 7694
-
-
Énachescu, M.1
Carpick, R.W.2
Ogletree, D.F.3
Salmerón, M.4
-
19
-
-
41849133188
-
-
Qi, Y.; Ratera, I.; Park, J. Y.; Ashby, P. D.; Quek, S. Y.; Neaton, J. B.; Salmeron, M, Langmuir 2008, 24, 2219.
-
(2008)
Langmuir
, vol.24
, pp. 2219
-
-
Qi, Y.1
Ratera, I.2
Park, J.Y.3
Ashby, P.D.4
Quek, S.Y.5
Neaton, J.B.6
Salmeron, M.7
-
20
-
-
56849132644
-
-
Kim, D.-L.; Pradeep, N.; DelRio, F. W.; Cook, R. F. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 203102.
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.93
, pp. 203102
-
-
Kim, D.-L.1
Pradeep, N.2
Delrio, F.W.3
Cook, R.F.4
-
21
-
-
11544310185
-
-
Enachescu, M.; van der Oetelaar, R. J. A.; Carpick, R. W.; Ogletree, D. F.; Flipse, C. F. J.; Salmeron, M. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 1877.
-
(1998)
Phys. Rev. Lett.
, vol.81
, pp. 1877
-
-
Enachescu, M.1
Van Der Oetelaar, R.J.A.2
Carpick, R.W.3
Ogletree, D.F.4
Flipse, C.F.J.5
Salmeron, M.6
-
22
-
-
0000766349
-
-
Lio, A.; Charyoh, D. H.; Salmeron, M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 3800.
-
(1997)
J. Phys. Chem. B
, vol.101
, pp. 3800
-
-
Lio, A.1
Charyoh, D.H.2
Salmeron, M.3
-
23
-
-
7544228907
-
-
Boulas, C.; Davidovits, J. V.; Rondelez, F.; Vuillaume, D. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 4797.
-
(1996)
Phys. Rev. Lett.
, vol.76
, pp. 4797
-
-
Boulas, C.1
Davidovits, J.V.2
Rondelez, F.3
Vuillaume, D.4
-
24
-
-
33745485359
-
-
Sambasivan, S.; Hsieh, S.; Fischer, D. A.; Hsu, S. M. J. Vac. Sci. Technol. A 2006, 24, 1484.
-
(2006)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.24
, pp. 1484
-
-
Sambasivan, S.1
Hsieh, S.2
Fischer, D.A.3
Hsu, S.M.4
-
25
-
-
64149102102
-
-
DelRio, F. W.; Jaye, C.; Fischer, D. A.; Cook, R. F. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 131909.
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.94
, pp. 131909
-
-
Delrio, F.W.1
Jaye, C.2
Fischer, D.A.3
Cook, R.F.4
-
26
-
-
33244484721
-
-
Derjaguin, B. V.; Muller, V. M.; Toporov, Y. P. J. Colloid Interface Sci. 1975, 53, 314.
-
(1975)
J. Colloid Interface Sci.
, vol.53
, pp. 314
-
-
Derjaguin, B.V.1
Muller, V.M.2
Toporov, Y.P.3
-
27
-
-
0020804837
-
-
Muller, V. M.; Derjaguin, B. V.; Toporov, Y. P. Colloids Surf. 1983, 7, 251.
-
(1983)
Colloids Surf.
, vol.7
, pp. 251
-
-
Muller, V.M.1
Derjaguin, B.V.2
Toporov, Y.P.3
-
30
-
-
0000469962
-
-
Johnson, K. L.; Kendall, K.; Roberts, A. D. Proc. R. Soc. London, A 1971, 324, 301.
-
(1971)
Proc. R. Soc. London, A
, vol.324
, pp. 301
-
-
Johnson, K.L.1
Kendall, K.2
Roberts, A.D.3
-
34
-
-
33846822517
-
-
Mullet, V. M.; Yushenko, V. S.; Derjaguin, B. V. J. Colloid Interface Sci. 1980, 77, 91.
-
(1980)
Colloid Interface Sci.
, vol.77
, pp. 91
-
-
Mullet, V.M.1
Yushenko, V.S.2
Derjaguin, B.V.J.3
-
35
-
-
0003627228
-
-
Westbrook, J W, Conrad, H., Eds.; American Society for Materials: Materials Park, OH
-
Buckle, H. The Science of Hardness Testing and Its Research Applications; Westbrook, J W, Conrad, H., Eds.; American Society for Materials: Materials Park, OH, 1973.
-
(1973)
The Science of Hardness Testing and Its Research Applications
-
-
Buckle, H.1
-
36
-
-
0024664620
-
-
Lebouvier, D.; Gilormini, P.; Felder, E. Thin Solid Films 1989, 172, 227.
-
(1989)
Thin Solid Films
, vol.172
, pp. 227
-
-
Lebouvier, D.1
Gilormini, P.2
Felder, E.3
-
40
-
-
0027085491
-
-
Gao, H.; Chiu, C.-H.; Lee, J. Int. J. Solids Struct. 1992, 29, 2471.
-
(1992)
Int. J. Solids Struct.
, vol.29
, pp. 2471
-
-
Gao, H.1
Chiu, C.-H.2
Lee, J.3
-
47
-
-
0344110551
-
-
Wang, W.; Lee, T.; Reed, M. A. Phys. Rev. B2003, 68, 035416.
-
(2003)
Phys. Rev. B
, vol.68
, pp. 035416
-
-
Wang, W.1
Lee, T.2
Reed, M.A.3
-
52
-
-
7544229769
-
-
Engelkes, V. B.; Beebe, J. M.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14287.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 14287
-
-
Engelkes, V.B.1
Beebe, J.M.2
Frisbie, C.D.3
-
53
-
-
0001656912
-
-
Barrena, E.; Ocal, C.; Salmeron, M. J. Chem. Phys. 1999, 111, 9797.
-
(1999)
J. Chem. Phys.
, vol.111
, pp. 9797
-
-
Barrena, E.1
Ocal, C.2
Salmeron, M.3
-
54
-
-
1942481178
-
-
Bain, C. D.; Troughton, E. B.; Tao, Y. -T.; Evall, J.; Whitesides, G. M.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321.
-
(1989)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.111
, pp. 321
-
-
Bain, C.D.1
Troughton, E.B.2
Tao, Y.T.3
Evall, J.4
Whitesides, G.M.5
Nuzzo, R.G.6
-
56
-
-
0006163257
-
-
Porter, M. D.; Bright, T. B.; Aliara, D. L.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3559.
-
(1987)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.109
, pp. 3559
-
-
Porter, M.D.1
Bright, T.B.2
Aliara, D.L.3
Chidsey, C.E.D.4
-
58
-
-
33751148265
-
-
Outka, D. A.; Stöhr, J.; Rabe, J, P.; Swalen, J. D. J. Chem. Phys. 1988, 88, 4076.
-
(1988)
J. Chem. Phys.
, vol.88
, pp. 4076
-
-
Outka, D.A.1
Stöhr, J.2
Rabe, J.P.3
Swalen, J.D.4
-
60
-
-
0003867806
-
-
Dubois, L. H.; Zegarski, B. R.; Nuzzo, R. G. J. Chem. Phys. 1993, 98, 678.
-
(1993)
J. Chem. Phys.
, vol.98
, pp. 678
-
-
Dubois, L.H.1
Zegarski, B.R.2
Nuzzo, R.G.3
-
61
-
-
0001443786
-
-
Hues, S. M.; Draper, C. F.; Lee, K. P.; Colton, R. J. Rev. Sci. Inslrum. 1994, 65, 1561.
-
(1994)
J. Rev. Sci. Inslrum.
, vol.65
, pp. 1561
-
-
Hues, S.M.1
Draper, C.F.2
Lee, K.P.3
Colton, R.4
-
62
-
-
0037007309
-
-
Schneider, J.; Dori, Y.; Haverstick, K.; Tirrell, M.; Sharma, R. Langmuir 2002, 18, 2702.
-
(2002)
Langmuir
, vol.18
, pp. 2702
-
-
Schneider, J.1
Dori, Y.2
Haverstick, K.3
Tirrell, M.4
Sharma, R.5
-
64
-
-
11944252512
-
-
Joyce, S. A.; Thomas, R. C.; Houston, J. E.; Michalske, T. A.; Crooks, R. M. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 2790.
-
(1992)
Phys. Rev. Lett.
, vol.68
, pp. 2790
-
-
Joyce, S.A.1
Thomas, R.C.2
Houston, J.E.3
Michalske, T.A.4
Crooks, R.M.5
-
66
-
-
23244459529
-
-
DelRio, F. W.; de Boer, M. P.; Knapp, J. A.; Reedy, E. D.; Clews, P. J.; Dunn, M. L. Nat. Mater. 2005, 4, 629.
-
(2005)
Nat. Mater.
, vol.4
, pp. 629
-
-
Delrio, F.W.1
De Boer, M.P.2
Knapp, J.A.3
Reedy, E.D.4
Clews, P.J.5
Dunn, M.L.6
-
67
-
-
49949108423
-
-
DelRio, F. W.; Dunn, M. L.; de Boer, M. P. Scr. Mater. 2008, 59, 916.
-
(2008)
Scr. Mater.
, vol.59
, pp. 916
-
-
Delrio, F.W.1
Dunn, M.L.2
De Boer, M.P.3
-
69
-
-
33748439685
-
-
Wang, M.; Liechti, K. M.; Srinivasan, V.; White, J. M.; Rossky, P. J.; Stone, M. T. J. Appl. Mech. 2006, 73, 769.
-
(2006)
J. Appl. Mech.
, vol.73
, pp. 769
-
-
Wang, M.1
Liechti, K.M.2
Srinivasan, V.3
White, J.M.4
Rossky, P.J.5
Stone, M.T.6
-
72
-
-
0029636414
-
-
Thomas, R. C.; Houston, J, E.; Crooks, R. M.; Kim, T.; Michalske, T. A. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 3830.
-
(1995)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.117
, pp. 3830
-
-
Thomas, R.C.1
Houston, J.E.2
Crooks, R.M.3
Kim, T.4
Michalske, T.A.5
-
74
-
-
0000083457
-
-
Berger, C. E. H.; van der Werf, K. O.; Kooyman, R. P. H.; de Grooth, B. G.; Greve, J, Langmuir 1995, 11, 4188.
-
(1995)
Langmuir
, vol.11
, pp. 4188
-
-
Berger, C.E.H.1
Van Der Werf, K.O.2
Kooyman, R.P.H.3
De Grooth, B.G.4
Greve, J.5
-
75
-
-
0030646581
-
-
Koleske, D. D.; Barger, W. R.; Lee, G. U.; Colton, R. J. Maler. Res. Soc. Proc. 1997, 464, 377.
-
(1997)
J. Maler. Res. Soc. Proc.
, vol.464
, pp. 377
-
-
Koleske, D.D.1
Barger, W.R.2
Lee, G.U.3
Colton, R.4
-
76
-
-
0000191570
-
-
Xiao, X.; Hu, J.; Charyoh, D. H.; Salmeron, M. Langmuir 1996, 12, 235.
-
(1996)
Langmuir
, vol.12
, pp. 235
-
-
Xiao, X.1
Hu, J.2
Charyoh, D.H.3
Salmeron, M.4
-
78
-
-
33845281250
-
-
Nuzzo, R, G.; Zegarski, B. R.; Dubois, L. H. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 733.
-
(1987)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.109
, pp. 733
-
-
Nuzzo, R.G.1
Zegarski, B.R.2
Dubois, L.H.3
-
79
-
-
0037038293
-
-
Bartczak, Z.; Morawiec, J.; Galeski, A. J. Appl. Polym. Sci 2002, 86,1405.
-
(2002)
J. Appl. Polym. Sci
, vol.86
, pp. 1405
-
-
Bartczak, Z.1
Morawiec, J.2
Galeski, A.3
-
80
-
-
0027858079
-
-
Salmerón, M.; Neubauer, G.; Folch, A.; Tomitori, M.; Ogletree, D, F.; Sautet, P. Langmuir 1993, 9, 3600.
-
(1993)
Langmuir
, vol.9
, pp. 3600
-
-
Salmerón, M.1
Neubauer, G.2
Folch, A.3
Tomitori, M.4
Ogletree, D.F.5
Sautet, P.6
-
81
-
-
0031166821
-
-
Kiridena, W.; Jain, V.; Kuo, P. K.; Liu, G. Surf. Interface Anal. 1997, 25, 383.
-
(1997)
Surf. Interface Anal.
, vol.25
, pp. 383
-
-
Kiridena, W.1
Jain, V.2
Kuo, P.K.3
Liu, G.4
-
83
-
-
32544432877
-
-
Price, W. J.; Leigh, S. A.; Hsu, S. M.; Patten, T. E.; Liu, G. J. Phys. Chem. A 2006, 110, 1382.
-
(2006)
J. Phys. Chem. A
, vol.110
, pp. 1382
-
-
Price, W.J.1
Leigh, S.A.2
Hsu, S.M.3
Patten, T.E.4
Liu, G.5
-
84
-
-
0000664147
-
-
Henda, R.; Grunze, M.; Pertain, A. J. Trib. Lett. 1998, 5, 191.
-
(1998)
Trib. Lett.
, vol.5
, pp. 191
-
-
Henda, R.1
Grunze, M.2
Pertain, A.J.3
-
86
-
-
0034807793
-
-
Holmlin, R. E.; Haag, R.; Chabinyc, M. L.; Ismagilov R, F.; Cohen, A. E.; Terfort, A.; Rampi, A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5075.
-
(2001)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.123
, pp. 5075
-
-
Holmlin, R.E.1
Haag, R.2
Chabinyc, M.L.3
Ismagilov, R.F.4
Cohen, A.E.5
Terfort, A.6
Rampi, A.7
Whitesides, G.M.8
-
87
-
-
0037093977
-
-
Fan, F. R. F.; Yang, J.; Cai, L.; Price, D. W.; Dirk, S, M.; Kosynkin, D. V.; Yao, Y.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5550.
-
(2002)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.124
, pp. 5550
-
-
Fan, F.R.F.1
Yang, J.2
Cai, L.3
Price, D.W.4
Dirk, S.M.5
Kosynkin, D.V.6
Yao, Y.7
Rawlett, A.M.8
Tour, J.M.9
Bard, A.J.10
-
88
-
-
0036471077
-
-
Cui, X, D.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Primak, A.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M, Nanotechnology 2002, 13, 5.
-
(2002)
Nanotechnology
, vol.13
, pp. 5
-
-
Cui, X.D.1
Zarate, X.2
Tomfohr, J.3
Sankey, O.F.4
Primak, A.5
Moore, A.L.6
Moore, T.A.7
Gust, D.8
Harris, G.9
Lindsay, S.M.10
-
89
-
-
3142686789
-
-
Lee, T.; Wang, W.; Klemic, J. F.; Zhang, J. J.; Su, J.; Reed, M. A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 8742.
-
(2004)
J. Phys. Chem. B
, vol.108
, pp. 8742
-
-
Lee, T.1
Wang, W.2
Klemic, J.F.3
Zhang, J.J.4
Su, J.5
Reed, M.A.6
-
90
-
-
0142183388
-
-
Kubatkin, S.; Danilov, A.; Hjort, M.; Cornil, J,; Brédas, J. -L.; StuhrHansen, N.; Hedegard, P.; Bjiamholm, T. Nature 2003, 425, 698.
-
(2003)
Nature
, vol.425
, pp. 698
-
-
Kubatkin, S.1
Danilov, A.2
Hjort, M.3
Cornil, J.4
Brédas, J.L.5
Stuhrhansen, N.6
Hedegard, P.7
Bjiamholm, T.8
-
91
-
-
33745866285
-
-
Beebe, J. M.; Kim, B.; Gadzuk, J. W.; Frisbie, C. D.; Kushmerick, J. G. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 026801.
-
(2006)
Phys. Rev. Lett.
, vol.97
, pp. 026801
-
-
Beebe, J.M.1
Kim, B.2
Gadzuk, J.W.3
Frisbie, C.D.4
Kushmerick, J.G.5
-
92
-
-
45749104453
-
-
Beebe, J. M.; Kim, B.; Frisbie, C. D.; Kushmerick, J. G. ACS Nano 2008, 2, 827.
-
(2008)
ACS Nano
, vol.2
, pp. 827
-
-
Beebe, J.M.1
Kim, B.2
Frisbie, C.D.3
Kushmerick, J.G.4
-
94
-
-
33750806260
-
-
Matyi, R. J.; Hatzistergos, M. S.; Lifshin, E. ThIn Solid Films 2006, 515, 1286.
-
(2006)
ThIn Solid Films
, vol.515
, pp. 1286
-
-
Matyi, R.J.1
Hatzistergos, M.S.2
Lifshin, E.3
-
95
-
-
0942266527
-
-
Petrovykh, D. Y.; Kimura-Suda, H.; Tarlov, M, J.; Whitman, L. J. Langmuir 2004, 20 429.
-
(2004)
Langmuir
, vol.20
, pp. 429
-
-
Petrovykh, D.Y.1
Kimura-Suda, H.2
Tarlov, M.J.3
Whitman, L.J.4
-
97
-
-
0037109774
-
-
Tsuchiya, H.; Fujimoto, S.; Chihara, O.; Shibata, T. Eleclrochim. Acta 2002, 47, 4357.
-
(2002)
Eleclrochim. Acta
, vol.47
, pp. 4357
-
-
Tsuchiya, H.1
Fujimoto, S.2
Chihara, O.3
Shibata, T.4
-
99
-
-
0031439098
-
-
Slowinski, K.; Chamberlain, R. V.; Miller, C. J.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 11910.
-
(1997)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.119
, pp. 11910
-
-
Slowinski, K.1
Chamberlain, R.V.2
Miller, C.J.3
Majda, M.4
-
100
-
-
34247122794
-
-
Song, H.; Lee, H.; Lee, T. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 3806.
-
(2007)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.129
, pp. 3806
-
-
Song, H.1
Lee, H.2
Lee, T.3
|