Optical and electrical properties of highly (100)-oriented PbZr 1-xTixO3 thin films on the LaNiO3 buffer layer

Journal of Applied Physics

Volumn 96, Issue 5, 2004, Pages 2792-2799

  Yu, Jian ^a,b   Meng, X J ^a   Sun, J L ^a   Huang, Z M ^a   Chu, J H ^a  

^a SHANGHAI INSTITUTE OF TECHNICAL PHYSICS   (China)

^b MAX PLANCK INSTITUTE OF MICROSTRUCTURE PHYSICS   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRYSTAL ORIENTATION; CRYSTALLOGRAPHY; DEPOSITION; ELECTRIC PROPERTIES; FERROELECTRICITY; GRAIN SIZE AND SHAPE; LANTHANUM COMPOUNDS; LEAD COMPOUNDS; OPTICAL PROPERTIES; SILICON WAFERS; SUBSTRATES; WETTING;

BUFFER LAYERS; CRYSTALLOGRAPHIC ORIENTATION; FILM GRAIN SIZE; OPTICAL CONSTANT;

THIN FILMS;

EID: 4944267420     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1775305     Document Type: Article

References (64)

1. R. Ramesh, and D. G. Schlom, Science 296, 1975 (2002).
2. K. S. Lee, Y. K. Kim, S. Baik, J. Kim, and H. S. Jung, Appl. Phys. Lett. 79, 2444 (2001).
3. J. Ishida, T. Yamada, A. Sawabe, K. Okuwada, and K. Saito, Appl. Phys. Lett. 80, 467 (2002).
4. F. Xu, S. Trolier-McKinstry, W. Ren, B. M. Xu, Z. L. Xie, and K. J. Hemker, J. Appl. Phys. 89, 1336 (2001).
5. Y. Wang et al., Appl. Phys. Lett. 80, 97 (2002).
6. A. Lin, X. Hong, V. Wood, A. A. Verevkin, C. H. Ahn, R. A. McKee, F. J. Walker, and E. D. Specht, Appl. Phys. Lett. 78, 2034 (2001).
7. S. Kalpat and K. Uchino, J. Appl. Phys. 90, 2703 (2001).
8. G. D. Hu, I. H. Wilson, J. B. Xu, C. P. Li, and S. P. Wong, Appl. Phys. Lett. 76, 1758 (2000).
9. H. N. Lee, S. Senz, A. Pignolet, and D. Hesse, Appl. Phys. Lett. 78, 2922 (2001).
10. S. Y. Chen and C. L. Sun, J. Appl. Phys. 90, 2970 (2001).
11. V. Bornand, S. Trolier-Mckinstry, K. Takemura, and C. A. Randall, J. Appl. Phys. 87, 3965 (2000).
12. D. V. Taylor and D. Damjanovic, Appl. Phys. Lett. 76, 1615 (2000).
13. A. L. Kholkin, E. K. Akdogan, A. Safari, P.-F. Chauvy, and N. Setter, J. Appl. Phys. 89, 8066 (2001).
14. K. Kakimoto, H. Kakemoto, S. Fujita, and Y. Masuda, J. Am. Ceram. Soc. 85, 1019 (2002).
15. D. S. Fu, H. Suzuki, T. Ogawa, and K. Ishikawa, Appl. Phys. Lett. 80, 3572 (2002).
16. K. Saito T. Kurosawa, T. Akai, T. Oikawa, and H. Funakubo, J. Appl. Phys. 93, 545 (2003).
17. A. D. Li, C. Z. Ge, P. Lu, and N. B. Ming, Appl. Phys. Lett. 68, 1347 (1996).
18. X. J. Meng, J. L. Sun, J. Yu, H. J. Ye, S. L. Guo, and J. H. Chu, Appl. Surf. Sci. 171, 68 (2001).
19. C. C. Yang, M. S. Chen, T. J. Hong, C. M. Wu, J. M. Wu, and T. B. Wu, Appl. Phys. Lett. 66, 2643 (1995).
20. N. Wakiya, T. Azuma, K. Shinozaki, and N. Mizutani, Thin Solid Films 410, 114 (2002).
21. B. G. Chae, Y. S. Yang, S. H. Lee, M. S. Jang, S. J. Lee, S. H. Kim, W. S. Back, and S. C. Kwon, Thin Solid Films 410, 107 (2002).
22. V. Nagarajan, I. G. Jenkins, S. P. Alpay, H. Li, S. Aggarwal, L. Salamanca-Riba, A. L. Roytburd, and R. Ramesh, J. Appl. Phys. 86, 595 (1999).
23. J. F. Scott, IEICE Trans. Electron. E81C, 477 (1998).
24. S. Buhlmann, B. Dwir, J. Baborowski, and P. Muralt, Appl. Phys. Lett. 80, 3195 (2002).
25. C. R Cho, W. J. Lee, B. G. Yu, and B. W. Kim, J. Appl. Phys. 86, 2700 (1999).
26. R. E. Cohen, Nature (London) 358, 136 (1992).
27. Y. Kuroiwa, S. Aoyagi, A. Sawada, J. Harada, E. Nishibori, M. Takata, and M. Sakata, Phys. Rev. Lett. 87, 217601 (2001).
28. G. Arlt, D. Hennings, and G. de With, J. Appl. Phys. 58, 1619 (1985).
29. K. Uchino, E. Sadanaga, and T. Hirose, J. Am. Ceram. Soc. 72, 1555 (1989).
30. M. H. Frey and D. A. Payne, Phys. Rev. B 54, 3158 (1996).
31. M. H. Frey, Z. Xu, P. Han, and D. A. Payne, Ferroelectrics 206-207, 337 (1998).
32. M. H. Frey and D. A. Payne, Appl. Phys. Lett. 63, 2753 (1993).
33. J. Yu, J. L. Sun, J. H. Chu, and D. Y. Tang, Appl. Phys. Lett. 77, 2807 (2000).
34. H. X. Fu and L. Bellaiche, Phys. Rev. Lett. 91, 257601 (2003).
35. M G. Stachiotti, Appl. Phys. Lett. 84, 251 (2004).
36. J. Yu, X. J. Meng, J. L. Sun, G. S. Wang, and J. H. Chu, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 718, 177 (2002).
37. S. I. Kwun and T. K. Song, Ferroelectrics 197, 125 (1997).
38. A. A. Sirenko, C. Bernhard, A. Golnik, A. M. Clark, J. H. Hao, W. D. Si, and X. X. Xi, Nature (London) 404, 373 (2000).
39. T. Horikawa, N. Mikami, T. Makita, J. Tanimura, M. Kataoka, K. Sato, and M. Nunoshita, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 32, 4126 (1993).
40. C. B. Parker, J. P. Maria, and A. I. Kingon, Appl. Phys. Lett. 81, 340 (2002).
41. S. Chattopadhyay, P. Ayyub, V. R. Palkar, and M. Multani, Phys. Rev. B 52, 13177 (1995).
42. K. Ishikawa, K. Yoshikawa, and N. Okada, Phys. Rev. B 37, 5852 (1988).
43. S. B. Ren, C. J. Lu, J. S. Liu, H. M. Shen, and Y. N. Wang, Phys. Rev. B 54, R14337 (1996).
44. B. Jiang, J. L. Peng L. A. Bursill, and W. L. Zhong, J. Appl. Phys. 87, 3462 (2000).
45. R. Castro-Rodriguez, M. Quadrelli, E. Vasco, F. Calderon, F. Leccabue, and B. E. Watts, Mater. Lett. 34, 326 (1998).
46. Y. Park, K. M. Knowles, and K. Cho. J. Appl. Phys. 83, 5702 (1998).
47. J. Yu and J. H. Chu, in Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology, edited by H. S. Nalwa (American Scientific (2004), Vol. 6,p. 389.
48. X. J. Meng, J. L. Sun, J. Yu, H. J. Ye, S. L. Guo, and J. H. Chu, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 73, 323 (2001).
49. X. J. Meng, J. G. Cheng, B. Li, S. L. Guo, H. J. Ye, and J. H. Chu, J. Cryst. Growth 208, 541 (2000).
50. J. Yu, Z. M. Huang, X. J. Meng, J. L. Sun, J. H. Chu, and D. Y. Tang, Appl. Phys. Lett. 78, 793 (2001).
51. Z. M. Huang, Z. H. Zhang, C. P. Jiang, J. Yu, J. L. Sun, and J. H. Chu. Appl. Phys. Lett. 77, 3651 (2000).
52. S. Miyake, K. Yamamoto, S. Fujihara, and T. Kimura, J. Am. Ceram. Soc. 85, 992 (2002).
53. C. R. Cho, D. A. Payne, and S. L. Cho, Appl. Phys. Lett. 71, 3013 (1997).
54. T. Sakoda, K. Aoki, and Y. Fukuda, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 38, 3600 (1999).
55. J. K. Yang, W. S. Kim, and H. H. Park, Appl. Surf. Sci. 169-170, 544 (2001).
56. X. P. Li, W. Y. Shih, J. S. Vartuli, S. L. Milius, I. A. Aksay, and W. H. Shih, J. Am. Ceram. Soc. 85, 844 (2002).
57. K. S. Lee, J. H. Choi. J. Y. Lee, and S. Baik, J. Appl. Phys. 90, 4095 (2001).
58. V. Srikant, E. J. Tarsa. D. R. Clarke, and J. S. Speck, J. Appl. Phys. 77, 1517 (1995).
59. S. P. Alpay and A. L. Roytburd, J. Appl. Phys. 83, 4714 (1998).
60. J. Yu et al., J. Appl. Phys. 90, 2699 (2001).
61. H. D. Chen, K. R. Udayakumar, C. J. Gaskey, and L. E. Cross, Appl. Phys. Lett. 67, 3411 (1995).
62. R. Ahluwalia and W. W. Cao, J. Appl. Phys, 89, 8105 (2001).
63. N. A. Pertsev, A. G. Zembilgotov, and A. K. Tagantsev, Phys. Rev. Lett. 80, 1988 (1998).
64. G. E. Pike, W. L. Warren, D. Dimos, B. A. Tuttle, R. Ramesh, J. Lee, V. G. Keramidas, and J. T. Evans, Appl. Phys. Lett. 66, 484 (1995).