Ferroelectric characteristics of oriented Pb(Zr1-xTix)O3 films

Journal of Applied Physics

Volumn 90, Issue 6, 2001, Pages 2970-2974

  Chen, San Yuan ^a   Sun, Chia Liang ^a  

^a NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035883875     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1394159     Document Type: Article

References (27)

1. J. F. Scott and C. A. Paz De Araujo, Science 246, 1400 (1989).
2. C. A. Paz De Araujo, J. D. Cuchiaro, L. D. McMiilan, M. C. Scott, and J. F. Scott, Nature (London) 374, 627 (1995).
3. I. K. Yoo and S. B. Desu, Integr. Ferroelectr. 3, 365 (1993).
4. T. Ogawa, A. Senda, and T. Kasnami, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 30, 2145 (1991).
5. W. L. Warren, D. Dimos, B. A. Tuttle, G. E. Pike, R. W. Schwartz, P. J. Clews, and D. C. McIntyre, J. Appl. Phys. 77, 6695 (1995).
6. D. Dimos, H. N. Al-Shareef, W. L. Warren, and B. A. Tuttle, J. Appl. Phys. 80, 1682 (1996).
7. W. L. Warren, D. Dimos, B. A. Tuttle, R. D. Nasby, and G. E. Pike, Appl. Phys. Lett. 65, 1018 (1994).
8. C. J. Kim, D. S. Yoon, J. S. Lee, and C. G. Choi, J. Appl. Phys. 76, 7478 (1994).
9. X. H. Du, U. Belegundu, and K. Uchino, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 36, 5580 (1997).
10. K. Brooks, R. Klissurska, P. Moeckli, and N. Setter, Microelectron. Eng. 29, 293 (1995).
11. B. A. Tuttle, J. A. Voigt, D. C. Goodnow, D. L. Lamppa, T. J. Headley, M. O. Eatough, G. Zender, R. D. Nasby, and S. M. Rodgeres, J. Am. Ceram. Soc. 76, 1537 (1993).
12. Y. Liu and P. P. Phule, J. Am. Ceram. Soc. 79, 495 (1996).
13. E. G. Lee, J. S. Park, and J. G. Lee, Thin Solid Films 312, 228 (1998).
14. V. Bornand, S. Trolier-Mckinstry, K. Takemura, and C. A. Randall, J. Appl. Phys. 87, 3965 (2000).
15. J. F. Scott and M. Dawber, Appl. Phys. Lett. 76, 3801 (2000).
16. K. D. Budd, S. K. Dey, and D. A. Payne, Br. Ceram. Proc. 36, 107 (1985).
17. S. Y. Chen and I.-W. Chen, J. Am. Ceram. Soc. 81, 97 (1998).
18. S. A. Myers and L. N. Chapin, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 200, 231 (1990).
19. D. V. Taylor and D. Damjanovic, Appl. Phys. Lett. 76, 1615 (2000).
20. T. Mihara, H. Watanabe, and C. A. Paz De Araujo, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 33, 5281 (1994).
21. I. K. Yoo and S. B. Desu, Integr. Ferroelectr. 3, 365 (1993).
22. H. M. Duiker, P. D. Batra, J. Scott, C. A. Paz De Araujo, B. M. Melnick, J. D. Cuchiaro, and L. D. McMillam, J. Appl. Phys. 68, 5783 (1990).
23. K. Tominaga, A. Shirayanagi, T. Takagi, and M. Okada, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 32, 4082 (1993).
24. M. Takahashi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 9, 1236 (1970).
25. W. L. Warren, B. A. Tuttle, and D. Dimos, Appl. Phys. Lett. 67, 1426 (1995).
26. S. B. Desu, C. H. Peng, L. Kammerdiner, and P. J. Schuele, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 200, 319 (1990).
27. X.-H. Du, J. Z. Zheng, U. Belegundu, and K. Uchino, Appl. Phys. Lett. 72, 2421 (1998).