Thickness dependence of structural and electrical properties in epitaxial lead zirconate titanate films

Journal of Applied Physics

Volumn 86, Issue 1, 1999, Pages 595-602

  Nagarajan, V ^b   Jenkins, I G ^b   Alpay, S P ^b   Li, H ^b   Aggarwal, S ^b   Salamanca Riba, L ^b   Roytburd, A L ^b   Ramesh, R ^a,b  

^a Bldg 142   (United States)

^b UNIVERSITY OF MARYLAND   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000725425     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.370772     Document Type: Article

References (27)

1. P. K. Larsen, G. L. M. Klampshoer, M. J. E. Ulenaers, G. A. C. M. Spierings, and R. Cuppens, Appl. Phys. Lett. 59, 611 (1991).
2. W. J. Merz, Phys. Rev. 95, 690 (1954).
3. T. K. Song, S. Aggarwal, A. S. Prakash, B. Yang, and R. Ramesh, Appl. Phys. Lett. 71, 2211 (1997).
4. J. F. M. Cillessen, M. W. J. Prins, and R. M. Wolf, J. Appl. Phys. 81, 2777 (1997).
5. A. L. Roitburd, Phys. Status Solidi A 37, 329 (1976).
6. A. L. Roytburd and Y. Yu, Ferroelectrics 144, 137 (1993).
7. S. P. Alpay and A. L. Roytburd, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 474, 407 (1997).
8. A. L. Roytburd, J. Appl. Phys. 83, 228 (1998).
9. A. L. Roytburd, J. Appl. Phys. 83, 239 (1998).
10. S. P. Alpay and A. L. Roytburd, J. Appl. Phys. 83, 4714 (1998).
11. S. P. Alpay, A. S. Prakash, S. Aggarwal, P. Shuk, M. Greenblatt, R. Ramesh, and A. L. Roytburd, Scr. Mater. 39, 1435 (1998).
12. J. S. Speck and W. Pompe, J. Appl. Phys. 76, 466 (1994).
13. E. Fattuzo and W. J. Merz, Ferroelectricity (North-Holland, Amsterdam, 1967).
14. Landolt-Börnstein, Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology; Vol. 16, edited by K.-H. Hellwege and A. M. Hellwege (Springer, Berlin, 1981).
15. A. Mineshige, M. Inaba, T. Yao, Z. Ogumi, K. Kikuchi, and M. Kawase, J. Solid State Chem. 121, 423 (1996).
16. C. M. Foster et al., J. Appl. Phys. 78, 2607 (1995).
17. C. M. Foster, W. Pompe, A. C. Daykin, and J. S. Speck, J. Appl. Phys. 79, 1405 (1996).
18. W.-Y. Hsu and R. Raj, Appl. Phys. Lett. 67, 792 (1995).
19. B. M. Yen and H. Chen, J. Appl. Phys. 85, 853 (1998).
20. Y. M. Kang and S. Baik, J. Appl. Phys. 82, 2532 (1997).
21. B. S. Kwak, A. Erbil, J. D. Budai, M. F. Chrisholm, L. A. Boatner, and B. J. Wilkens, Phys. Rev. B 49, 14865 (1994).
22. G. L. Belenky, S. M. Green, A. L. Roytburd, C. J. Lobb, S. J. Hagen, and R. L. Greene, Phys. Rev. B 44, 10117 (1991).
23. M. J. Haun, Z. Q. Zhuang, E. Furman, S. J. Jang, and L. E. Cross, Ferroelectrics 99, 45 (1989).
24. W. J. Merz, J. Appl. Phys. 27, 938 (1956).
25. E. Fattuzo and W. J. Merz, J. Appl. Phys. 32, 1685 (1961).
26. A. G. Chynoweth, Phys. Rev. 110, 1316 (1958).
27. M. E. Drougard and R. Landauer, J. Appl. Phys. 30, 1663 (1959).