-
1
-
-
0036469615
-
-
(a) Katz, H. E.; Hong, M.; Dodabalapur, A. J. Appl. Phys. 2002, 91, 1572.
-
(2002)
J. Appl. Phys
, vol.91
, pp. 1572
-
-
Katz, H.E.1
Hong, M.2
Dodabalapur, A.3
-
2
-
-
0037451354
-
-
(b) Podzorov, V.; Pudalov, V. M.; Gershenson, M. E. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 1739.
-
(2003)
Appl. Phys. Lett
, vol.82
, pp. 1739
-
-
Podzorov, V.1
Pudalov, V.M.2
Gershenson, M.E.3
-
3
-
-
0347133550
-
-
(c) Majewski, L. A.; Schroeder, R.; Grell, M. J. Phys. D: Appl. Phys. 2004, 37, 21.
-
(2004)
J. Phys. D: Appl. Phys
, vol.37
, pp. 21
-
-
Majewski, L.A.1
Schroeder, R.2
Grell, M.3
-
4
-
-
28844446654
-
-
(d) Park, Y. D.; Kim, D. H.; Jang, Y.; Hwang, M.; Lim, A. L.; Cho, K. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 243509.
-
(2005)
Appl. Phys. Lett
, vol.87
, pp. 243509
-
-
Park, Y.D.1
Kim, D.H.2
Jang, Y.3
Hwang, M.4
Lim, A.L.5
Cho, K.6
-
5
-
-
33646426166
-
-
(e) Yang, S. Y.; Kim, S. H.; Shin, K.; Jeon, H.; Park, C. E. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 173507.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.88
, pp. 173507
-
-
Yang, S.Y.1
Kim, S.H.2
Shin, K.3
Jeon, H.4
Park, C.E.5
-
6
-
-
34548555524
-
-
(f) Onoue, T.; Nakamura, I.; Sakabe, Y.; Yasuda, T.; Tsutsui, T. Jpn. Soc. Appl. Phys. 2006, 45, L770.
-
(2006)
Jpn. Soc. Appl. Phys
, vol.45
-
-
Onoue, T.1
Nakamura, I.2
Sakabe, Y.3
Yasuda, T.4
Tsutsui, T.5
-
8
-
-
33847111592
-
-
(h) Klauk, H.; Zschieschang, U.; Pflaum, J.; Halik, M. Nature 2006, 445, 745.
-
(2006)
Nature
, vol.445
, pp. 745
-
-
Klauk, H.1
Zschieschang, U.2
Pflaum, J.3
Halik, M.4
-
9
-
-
32944467253
-
-
(i) McDowell, M.; Hill, I. G.; McDermott, J. E.; Bernasek, S. L.; Schwartz, J. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 073505.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.88
, pp. 073505
-
-
McDowell, M.1
Hill, I.G.2
McDermott, J.E.3
Bernasek, S.L.4
Schwartz, J.5
-
10
-
-
33745216462
-
-
(j) Kim, C. S.; Jin, S.; Lee, S. W.; Kim, W. J.; Bail, H. K.; Lee, S. J.; Hwang, D. K.; Im, S. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 243515.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.88
, pp. 243515
-
-
Kim, C.S.1
Jin, S.2
Lee, S.W.3
Kim, W.J.4
Bail, H.K.5
Lee, S.J.6
Hwang, D.K.7
Im, S.8
-
12
-
-
34247475218
-
-
(l) Lee, J.; Panzer, M. J.; He, Y.; Lodge, T. P.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 4532.
-
(2007)
J. Am. Chem. Soc
, vol.129
, pp. 4532
-
-
Lee, J.1
Panzer, M.J.2
He, Y.3
Lodge, T.P.4
Frisbie, C.D.5
-
14
-
-
8444231667
-
-
(a) Veres, J.; Ogier, S.; Lloyd, G.; de Leeuw, D. Chem. Mater. 2004, 16, 4543.
-
(2004)
Chem. Mater
, vol.16
, pp. 4543
-
-
Veres, J.1
Ogier, S.2
Lloyd, G.3
de Leeuw, D.4
-
15
-
-
33846891341
-
-
(b) Weitz, R. T.; Zschieschang, U.; Effenberger, F.; Klauk, H.; Burghard, M.; Kern, K. Nano. Lett. 2007, 7, 22.
-
(2007)
Nano. Lett
, vol.7
, pp. 22
-
-
Weitz, R.T.1
Zschieschang, U.2
Effenberger, F.3
Klauk, H.4
Burghard, M.5
Kern, K.6
-
16
-
-
0001670402
-
-
(c) Collet, J.; Tharaud, O.; Chapoton, A.; Vuillaume, D. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 1941.
-
(2000)
Appl. Phys. Lett
, vol.76
, pp. 1941
-
-
Collet, J.1
Tharaud, O.2
Chapoton, A.3
Vuillaume, D.4
-
17
-
-
16344366005
-
-
(a) Yoon, M.-H.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102, 4678.
-
(2005)
Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A
, vol.102
, pp. 4678
-
-
Yoon, M.-H.1
Facchetti, A.2
Marks, T.J.3
-
18
-
-
28144453662
-
-
(b) Ju, S.; Lee, K.; Janes, D. B.; Yoon, M.-H.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Nano. Lett. 2005, 5, 2281.
-
(2005)
Nano. Lett
, vol.5
, pp. 2281
-
-
Ju, S.1
Lee, K.2
Janes, D.B.3
Yoon, M.-H.4
Facchetti, A.5
Marks, T.J.6
-
19
-
-
26444528902
-
-
(c) Hur, S.-H.; Yoon, M.-H.; Gaur, A.; Facchetti, A.; Marks, T. J.; Rogers, J. A. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 13808.
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc
, vol.127
, pp. 13808
-
-
Hur, S.-H.1
Yoon, M.-H.2
Gaur, A.3
Facchetti, A.4
Marks, T.J.5
Rogers, J.A.6
-
20
-
-
33747454960
-
-
(d) Ju, S.; Lee, K.; Yoon, M.-H.; Facchetti, A.; Marks, T. J.; Janes, D. B. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 073510.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.89
, pp. 073510
-
-
Ju, S.1
Lee, K.2
Yoon, M.-H.3
Facchetti, A.4
Marks, T.J.5
Janes, D.B.6
-
21
-
-
33947405274
-
-
(e) Ju, S.; Lee, K.; Yoon, M.-H.; Facchetti, A.; Marks, T. J.; Janes, D. B. Nanotechnol. 2007, 18, 155201.
-
(2007)
Nanotechnol
, vol.18
, pp. 155201
-
-
Ju, S.1
Lee, K.2
Yoon, M.-H.3
Facchetti, A.4
Marks, T.J.5
Janes, D.B.6
-
22
-
-
33749479239
-
-
(f) Lin, H. C.; Ye, P. D.; Xuan, Y.; Lu, G.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 14210.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.89
, pp. 14210
-
-
Lin, H.C.1
Ye, P.D.2
Xuan, Y.3
Lu, G.4
Facchetti, A.5
Marks, T.J.6
-
23
-
-
33750898646
-
-
(g) Ju, S.; Janes, D. B.; Lu, G.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 193506.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.89
, pp. 193506
-
-
Ju, S.1
Janes, D.B.2
Lu, G.3
Facchetti, A.4
Marks, T.J.5
-
24
-
-
35748929400
-
-
(h) Wang, L.; Yoon, M.-H.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Adv. Mater. 2007, 19, 3252.
-
(2007)
Adv. Mater
, vol.19
, pp. 3252
-
-
Wang, L.1
Yoon, M.-H.2
Facchetti, A.3
Marks, T.J.4
-
25
-
-
29344439977
-
-
Keinan, S.; Ratner, M. A.; Marks, T. J. Chem. Phys. Lett. 2006, 417, 293.
-
(2006)
Chem. Phys. Lett
, vol.417
, pp. 293
-
-
Keinan, S.1
Ratner, M.A.2
Marks, T.J.3
-
27
-
-
0035414956
-
-
(b) Yamada, K.; Saiki, A.; Sakaue, H.; Shingubara, S.; Takahagi, T. Jpn. J. Appl. Phys. 2001, 40, 4829.
-
(2001)
Jpn. J. Appl. Phys
, vol.40
, pp. 4829
-
-
Yamada, K.1
Saiki, A.2
Sakaue, H.3
Shingubara, S.4
Takahagi, T.5
-
28
-
-
45249122768
-
-
3 (ref 7c).
-
3 (ref 7c).
-
-
-
-
29
-
-
0000816767
-
-
(b) Roscoe, S. B.; Yitzchaik, S.; Kakkar, A. K.; Marks, T. J.; Xu, Z.; Zhang, T.; Lin, W.; Wong, G. K. Langmuir 1996, 12, 5338.
-
(1996)
Langmuir
, vol.12
, pp. 5338
-
-
Roscoe, S.B.1
Yitzchaik, S.2
Kakkar, A.K.3
Marks, T.J.4
Xu, Z.5
Zhang, T.6
Lin, W.7
Wong, G.K.8
-
30
-
-
33847279315
-
-
(c) Choubey, A.; Kwon, O.-P.; Jazbinsek, M.; Günter, P. Cryst. Growth Des. 2007, 7, 402.
-
(2007)
Cryst. Growth Des
, vol.7
, pp. 402
-
-
Choubey, A.1
Kwon, O.-P.2
Jazbinsek, M.3
Günter, P.4
-
31
-
-
34748833634
-
-
Kim, C.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Adv. Mater. 2007, 19, 2561.
-
(2007)
Adv. Mater
, vol.19
, pp. 2561
-
-
Kim, C.1
Facchetti, A.2
Marks, T.J.3
-
32
-
-
10844231822
-
-
Steudel, S.; Vusser, S. D.; Jonge, S. D.; Janssen, D.; Verlaak, S.; Genoe, J.; Heremans, P. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 4400.
-
(2004)
Appl. Phys. Lett
, vol.85
, pp. 4400
-
-
Steudel, S.1
Vusser, S.D.2
Jonge, S.D.3
Janssen, D.4
Verlaak, S.5
Genoe, J.6
Heremans, P.7
-
33
-
-
0022738306
-
-
(a) McBrayer, J. D.; Swanson, R. M.; Sigmon, T. W. J. Electrochem. Soc. 1986, 133, 1242.
-
(1986)
J. Electrochem. Soc
, vol.133
, pp. 1242
-
-
McBrayer, J.D.1
Swanson, R.M.2
Sigmon, T.W.3
-
36
-
-
36549062079
-
-
(d) Dubois, G.; Volksen, W.; Magbitang, T.; Miller, R. D.; Gage, D. M.; Dauskardt, R. H. Adv. Mater. 2007, 19, 3989.
-
(2007)
Adv. Mater
, vol.19
, pp. 3989
-
-
Dubois, G.1
Volksen, W.2
Magbitang, T.3
Miller, R.D.4
Gage, D.M.5
Dauskardt, R.H.6
-
37
-
-
8544228377
-
-
Newman, C. R.; Frisbie, C. D.; da Silva Filho, D. A.; Bredas, J.-L.; Ewbank, P. C.; Mann, K. R. Chem. Mater. 2004, 16, 4436.
-
(2004)
Chem. Mater
, vol.16
, pp. 4436
-
-
Newman, C.R.1
Frisbie, C.D.2
da Silva Filho, D.A.3
Bredas, J.-L.4
Ewbank, P.C.5
Mann, K.R.6
-
38
-
-
23944443280
-
-
(a) Yang, H.; Shin, T. J.; Ling, M.-M.; Cho, K.; Ryu, C. Y.; Bao, Z. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 11542.
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc
, vol.127
, pp. 11542
-
-
Yang, H.1
Shin, T.J.2
Ling, M.-M.3
Cho, K.4
Ryu, C.Y.5
Bao, Z.6
-
39
-
-
35148891216
-
-
(b) Kim, C.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Science 2007, 318, 76.
-
(2007)
Science
, vol.318
, pp. 76
-
-
Kim, C.1
Facchetti, A.2
Marks, T.J.3
|