Strain and composition mapping of epitaxial nanostructures

Applied Physics Letters

Volumn 92, Issue 15, 2008, Pages

  Cionca, C N ^a   Riposan, A ^a   Kumah, D P ^a   Husseini, N S ^a   Walko, D A ^b   Yacoby, Y ^c   Millunchick, J M ^a   Clarke, R ^a  

^a UNIVERSITY OF MICHIGAN   (United States)

^b ARGONNE NATIONAL LABORATORY   (United States)

^c HEBREW UNIVERSITY OF JERUSALEM   (Israel)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHEMICAL ANALYSIS; EPITAXIAL GROWTH; THIN FILMS; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

CHEMICAL COMPOSITION; STRAIN GRADIENT;

NANOSTRUCTURES;

EID: 42349115693     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2908214     Document Type: Article

References (22)

1. P. Bhattacharya, Semiconductor Optoelectronic Devices (Prentice Hall, Englewood Cliffs, NJ, 1996).
2. C. C. Umbach, B. W. Weselak, J. M. Blakely, and Q. Shen, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 3420 (1996).
3. I. Kegel, T. H. Metzger, A. Lorke, J. Peisl, J. Stangl, G. Bauer, J. M. García, and P. M. Petroff, Phys. Rev. Lett. 85, 1694 (2000).
4. M. S. Leite, J. L. Gray, R. Hull, J. A. Floro, R. Magãlhaes- Paniago, and G. Medeiros-Ribeiro, Phys. Rev. B 73, 121308 (2006).
5. S. J. L. Billinge and I. Levin, Science 316, 561 (2007).
6. C. N. Cionca, D. A. Walko, Y. Yacoby, C. Dorin, J. Mirecki Millunchick, and R. Clarke, Phys. Rev. B 75, 115306 (2007).
7. D. D. Fong, C. Cionca, Y. Yacoby, G. B. Stephenson, J. A. Eastman, P. H. Fuoss, S. K. Streiffer, C. Thompson, R. Clarke, and E. A. Stern, Phys. Rev. B 71, 144112 (2005).
8. M. Sowwan, Y. Yacoby, J. Pitney, R. MacHarrie, M. Hong, J. Cross, D. A. Walko, R. Clarke, R. Pindak, and E. A. Stern, Phys. Rev. B 66, 205311 (2002).
9. A. Riposan, G. K. M. Martin, and J. Mirecki Millunchick, Appl. Phys. Lett. 83, 4518 (2003).
10. P. M. Mooney, F. K. LeGoues, J. Tersoff, and J. O. Chu, J. Appl. Phys. 75, 3968 (1994).
11. Y. Yacoby, R. Pindak, R. MacHarrie, L. Pfeiffer, L. Berman, and R. Clarke, J. Phys.: Condens. Matter 12, 3929 (2001).
12. A. Riposan, G. K. M. Martin, M. Bouville, M. L. Falk, and J. Mirecki Millunchick, Surf. Sci. 525, 222 (2003).
13. J. B. Malherbe and R. Q. Odendaal, Appl. Surf. Sci. 144-145, 192 (1999).
14. S. K. Tan and A. T. S. Wee, J. Vac. Sci. Technol. B 24, 1444 (2006).
15. O. Plantevin, R. Gago, L. Vazquez, A. Biermanns, and T. H. Metzger, Appl. Phys. Lett. 91, 113105 (2007).
16. T. D. Bussing, P. H. Holloway, Y. H. Wang, J. F. Moulder, and J. S. Hammond, J. Vac. Sci. Technol. B 6, 1514 (1988).
17. X. S. Wang, R. J. Pechman, and J. H. Weaver, J. Vac. Sci. Technol. B 13, 2031 (1995).
18. J. M. Ulloa, C. Celebi, P. M. Koenraad, A. Simon, E. Gapihan, A. Letoublon, N. Bertru, I. Drouzas, D. J. Mowbray, M. J. Steer, and M. Hopkinson, J. Appl. Phys. 101, 081707 (2007).
19. B. J. Spencer and J. Tersoff, Phys. Rev. B 63, 205424 (2001).
20. Y. Yoshida, K. Akimoto, T. Emoto, S. Kikuchi, K. Itagaki, and H. Namita, Appl. Surf. Sci. 234, 409 (2004).
21. A. Turos, W. Wierzchowski, K. Wieteska, E. Wendler, W. Wesch, W. Graeff, R. Griitzschel, and W. Strupiliski, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 136, 1062 (1998).
22. G. Padeletti and G. M. Ingo, Surf. Interface Anal. 34, 266 (2002).