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Volumn 6, Issue 1, 2002, Pages 47-54

Depth carrier profiling in silicon carbide

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ELECTRONICS INDUSTRY;

EID: 0036463089     PISSN: 13590286     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S1359-0286(02)00003-7     Document Type: Article
Times cited : (6)

References (39)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.