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Volumn 79, Issue 18, 2001, Pages 2907-2909

Observation of crystallographic wing tilt in cantilever epitaxy of GaN on silicon carbide and silicon (111) substrates

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EID: 0001660207     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1415039     Document Type: Article
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References (20)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.