Dependence of crystallographic tilt and defect distribution on mask material in epitaxial lateral overgrown GaN layers

Applied Physics Letters

Volumn 77, Issue 5, 2000, Pages 636-638

  Tomiya, S ^a   Funato, K ^a   Asatsuma, T ^a   Hino, T ^a   Kijima, S ^a   Asano, T ^a   Ikeda, M ^a  

^a SONY CORPORATION   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000726427     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.127069     Document Type: Article

References (13)

1. S. Nakamura and G. Fasol, The Blue Laser (Springer, Berlin, 1997).
2. H. Amano, N. Sawaki, I. Akasaki, and Y. Toyoda, Appl. Phys. Lett. 48, 353 (1986).
3. T. W. Weeks, Jr., M. Bremser, K. Ailey, E. Carlson, W. Perry, E. Piner, M. El Masry, and R. F. Davis, J. Mater. Res. 11, 1011 (1996).
4. T. S. Zheleva, O. H. Nam, M. D. Bremser, and R. F. Davis, Appl. Phys. Lett. 71, 2472 (1997).
5. O. H. Nam, M. D. Bremser, T. S. Zheleva, and R. F. Davis, Appl. Phys. Lett. 71, 2638 (1997).
6. Y. Kato, S. Kitamura, K. Hiramatsu, and N. Sawaki, J. Cryst. Growth 144, 133 (1994).
7. S. Kitamura, K. Hiramatsu, and N. Sawaki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 34, L1184 (1995).
8. A. Usui, H. Sunagawa, A. Sakai, and A. Yamaguchi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 36, L899 (1997).
9. A. Sakai, H. Sunakawa, and A. Usui, Appl. Phys. Lett. 71, 2259 (1997).
10. H. Marchand, X. H. Wu, J. P. Ibbetson, P. T. Fini, P. Kozodoy, S. Keller, J. S. Speck, S. P. DenBaars, and U. K. Mishra, Appl. Phys. Lett. 73, 747 (1998).
11. A. Sakai, H. Sunakawa, and A. Usui, Appl. Phys. Lett. 73, 481 (1998).
12. B. Heying, X. H. Wu, S. Keller, Y. Ki, D. Kapolnek, B. P. Keller, S. P. DenBaars, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 68, 643 (1996).
13. Y. Honda, Y. Iyechika, T. Maeda, H. Miyake, K. Hiramatsu, H. Sone, and N. Sawaki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 38, L1299 (1999).