Spectroscopic characterization of charged defects in polycrystalline pentacene by time- and wavelength-resolved electric force microscopy

Advanced Materials

Volumn 23, Issue 5, 2011, Pages 624-628

  Luria, Justin L ^a   Schwarz, Kathleen A ^a,b   Jaquith, Michael J ^a   Hennig, Richard G ^b   Marohn, John A ^a  

^a Department of Obstetrics Gynecology   (United States)

^b Cornell University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELECTRIC FORCE MICROSCOPY; THIN FILM TRANSISTORS; TOPOGRAPHY;

CHARGED DEFECTS; INCIDENT RADIATION; POLYCRYSTALLINE PENTACENE; SPATIAL MAPS; SPECTROSCOPIC CHARACTERIZATION; TRAPPED CHARGE;

SEMICONDUCTING ORGANIC COMPOUNDS;

EID: 84962433712     PISSN: 09359648     EISSN: 15214095     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adma.201003073     Document Type: Article

References (46)

1. S. Verlaak, V. Arkhipov, P. Heremans, Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 745.
2. M. Tello, M. Chiesa, C. M. Duffy, H. Sirringhaus, Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 3907.
3. J. Veres, S. Ogier, G. Lloyd, D. De Leeuw, Chem. Mater. 2004, 16, 4543.
4. S. J. Konezny, M. N. Bussac, L. Zuppiroli, Phys. Rev. B 2010, 81, 045313.
5. R. Street, A. Salleo, M. Chabinyc, Phys. Rev. B 2003, 68, 85316.
6. J. E. Northrup, M. L. Chabinyc, Phys. Rev. B 2003, 68, 041202.
7. A. Maliakal, K. Raghavachari, H. Katz, E. Chandross, T. Siegrist, Chem. Mater. 2004, 16, 4980.
8. D. V. Lang, X. Chi, T. Siegrist, A. M. Sergent, A. P. Ramirez, Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 076601.
9. D. Knipp, J. E. Northrup, Adv. Mater. 2009, 27, 2511.
10. Z. T. Zhu, J. T. Mason, R. Dieckmann, G. G. Malliaras, Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 4643.
11. Y. Qiu, Y. C. Hu, G. F. Dong, L. D. Wang, J. F. Xie, Y. N. Ma, Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 1644.
12. C. Pannemann, T. Diekmann, U. Hilleringmann, J. Mater. Res. 2004, 19, 1999.
13. S. G. J. Mathijssen, M. Cölle, H. Gomes, E. C. P. Smits, B. de Boer, I. McCulloch, P. A. Bobbert, D. M. de Leeuw, Adv. Mater. 2007, 79, 2785.
14. G. Gu, M. G. Kane, Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 053305.
15. H. Yang, L. Yang, M.-M. Ling, S. Lastella, D. D. Gandhi, G. Ramanath, Z. Bao, C. V. Ryu, J. Phys. Chem. C 2008, 112, 16161.
16. A. Vollmer, O. Jurchescu, I. Arfaoui, I. Salzmann, T. Palstra, P. Rudolf, J. Niemax, J. Pflaum, J. Rabe, N. Koch, Eur. Phys. J. E 2005, 17, 339.
17. Y. Y. Lin, D. J. Gundlach, S. F. Nelson, T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 1997, 44, 1325.
18. J. E. Anthony, Chem. Rev. 2006, 106, 5028.
19. R. A. Street, Adv. Mater. 2009, 21, 2007.
20. M. J. Jaquith, J. E. Anthony, J. A. Marohn, J. Mater. Chem. 2009, 19, 6116.
21. S. Yoo, B. Domercq, B. Kippelen, Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 5427.
22. T. N. Ng, J. A. Marohn, M. L. Chabinyc, J. Appl. Phys. 2006, 100, 084505.
23. E. M. Muller, J. A. Marohn, Adv. Mater. 2005, 17, 1410.
24. M. Jaquith, E. M. Muller, J. A. Marohn, J. Phys. Chem. B 2007, 111, 7711.
25. T. N. Ng, W. Silveira, J. Marohn, Proc. SPIE 2006, 6336, 63360A.
26. L. Bürgi, T. Richards, M. Chiesa, R. H. Friend, H. Sirringhaus, Synth. Met. 2004, 146, 297.
27. H. Hoppe, T. Glatzel, M. Niggemann, A. Hinsch, M. C. Lux-Steiner, N. S. Sariciftci, Nano Lett. 2005, 5, 269.
28. M. Chiesa, L. Bürgi, J. S. Kim, R. Shikler, R. H. Friend, H. Sirringhaus, Nano Lett. 2005, 5, 559.
29. D. C. Coffey, D. S. Ginger, Nat. Mater. 2006, 5, 735.
30. A. Kikukawa, S. Hosaka, R. Imura, Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 3510.
31. W. R. Silveira, E. M. Muller, T.-N. Ng, D. H. Dunlap, J. A. Marohn in Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale (Volume II), (Eds: S. V. Kalinin, A. Gruverman), Springer Verlag, New York 2007; pp. 788.
32. A. Liscio, V. Palermo, P. Samori, Acc. Chem. Res. 2010, 43, 541.
33. M. Breban, D. B. Romero, S. Mezhenny, V. W. Ballarotto, E. D. Williams, Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 203503.
34. A. Salleo, R. A. Street, J. Appl. Phys. 2003, 94, 471.
35. A. Salleo, F. Endicott, R. A. Street, Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 263505.
36. J. H. Kang, D. da Silva, J. L. Bredas, X. Y. Zhu, Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 152115.
37. C. Jundt, G. Klein, B. Sipp, J. Lemoigne, M. Joucla, A. A. Villaeys ,Chem. Phys. Lett. 1995, 241, 84.
38. L. Sebastian, G. Weiser, H. Bässler, Chem. Phys. 1981, 61, 125.
39. S. Grimme, M. Parac, Chem. Phys. Chem. 2003, 4, 292.
40. E. S. Kadantsev, M. J. Stott, A. Rubio, J. Chem. Phys. 2006, 124, 134901.
41. P. K. Nayak, N. Periasamy, Org. Electron. 2009, 10, 1396.
42. M. L. Tiago, J. E. Northrup, S. G. Louie, Phys. Rev. B 2003, 67, 115212.
43. Gaussian 09, Revision A.7; M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, G. E. Scuseria, M. A. Robb, J. R. Cheeseman, G. Scalmani, V. Barone, B. Mennucci, G. A. Petersson, H. Nakatsuji, M. Caricato, X. Li, H. P. Hratchian, A. F. Izmaylov, J. Bloino, G. Zheng, J. L. Sonnenberg, M. Hada, M. Ehara, K. Toyota, R. Fukuda, J. Hasegawa, M. Ishida, T. Nakajima, Y. Honda, O. Kitao, H. Nakai, T. Vreven, J. A. Montgomery, Jr., J. E. Peralta, F. Ogliaro, M. Bearpark, J. J. Heyd, E. Brothers, K. N. Kudin, V. N. Staroverov, R. Kobayashi, J. Normand, K. Raghavachari, A. Rendell, J. C. Burant, S. S. Iyengar, J. Tomasi, M. Cossi, N. Rega, J. M. Millam, M. Klene, J. E. Knox, J. B. Cross, V. Bakken, C. Adamo, J. Jaramillo, R. Gomperts, R. E. Stratmann, O. Yazyev, A. J. Austin, R. Cammi, C. Pomelli, J. W. Ochterski, R. L. Martin, K. Morokuma, V. G. Zakrzewski, G. A. Voth, P. Salvador, J. J. Dannenberg, S. Dapprich, A. D. Daniels, Ö. Farkas, J. B. Foresman, J. V. Ortiz, J. Cioslowski, D. J. Fox, Gaussian Inc., Wallingford, CT, 2009.
44. R. Bauernschmitt, R. Ahlrichs, Chem. Phys. Lett. 1996, 256, 454.
45. A. D. Becke, J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648.
46. S. Miertus, E. Scrocco, J. Tomasi, Chem. Phys. 1981, 55, 117.