Microstructure characterization of nonpolar ZnO and Zn1-xMg xO epilayers grown on (100) γ-LiAlO2 by chemical vapor deposition

ECS Transactions

Volumn 45, Issue 7, 2012, Pages 63-71

  Huang, T H ^a   Lin, W H ^b   Wu, J J ^b   Chou, M M C ^a   Yan, T ^a   Chang, L ^a  

^a NATIONAL SUN YAT SEN UNIVERSITY   (Taiwan)

^b NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALUMINUM COMPOUNDS; CATHODOLUMINESCENCE; CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; ENERGY GAP; EPILAYERS; GAMMA RAYS; HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; II-VI SEMICONDUCTORS; LITHIUM COMPOUNDS; OPTICAL PROPERTIES; OXIDE MINERALS; SEMICONDUCTOR DEVICES; STACKING FAULTS; WIDE BAND GAP SEMICONDUCTORS; ZINC OXIDE;

BASAL STACKING FAULTS; EPILAYERS GROWN; INVERSION DOMAINS; MICROSTRUCTURE CHARACTERIZATION; MONOCHROMATIC CATHODOLUMINESCENCE; NEAR BAND EDGE EMISSIONS; THREADING DISLOCATION; X RAY ROCKING CURVE;

MAGNESIUM COMPOUNDS;

EID: 84869009501     PISSN: 19385862     EISSN: 19386737     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1149/1.3701526     Document Type: Conference Paper

References (27)

1. M. Bagnall, Y. F. Chen, Z. Zhu, T. Yao, S. Koyama, M. Y. Shen, and T. Goto, Appl. Phys. Lett., 70, 2230 (1997).
2. A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, K. Ohtani, S. F. Chichibu, S. Fuke, Y. Segawa, H. Ohno, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Nat. Mater., 4, 42 (2005).
3. P. Waltereit, O. Brandt, A. Trampert, H. T. Grahn, J. Menniger, M. Ramsteiner, M. Reiche, and K. H. Ploog, Nature, 406, 865 (2000).
4. T. Makino, K. Tamura, C. H. Chia, Y. Segawa, M. Kawasaki, A. Ohtomo, and H. Koinumad, Appl. Phys. Lett., 81, 2355 (2002).
5. T. Makino, A. Ohtomo, C.H. Chia, Y. Segawa, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Physica E 21, 671 (2004).
6. J. W. Lee, J. -H. Kim, S. K. Han, S. -K. Hong, J. Y. Lee, S. I. Hong, and T. Yao, J. Cryst. Growth, 312, 238 (2010).
7. J. W. Lee, S. K. Han, S. -K. Hong, J. Y. Lee, and T. Yao, J. Cryst. Growth, 310, 4102 (2008).
8. J. -M. Chauveau, M. Teisseire, H. K. Chauveau, C. Morhain, C. Deparis, and B. Vinter, J. Appl. Phys., 109, 102420-1 (2011).
9. H. Song, J. -H. Kim, E. K. Kim, and S. -M. Hwang, Thin Solid Films, 517, 3927 (2009).
10. J. -M. Chauveau, P. Vennéguès, M. Laügt, C. Deparis, J. Z. Perez, and C. Morhain, J. Appl. Phys., 104, 073535 (2008).
11. P. Pant, J. D. Budai, and J. Narayan, Acta Mater., 58, 1097 (2010).
12. W. -H. Lin, J.-J. Wu, M. M. C. Chou, and L. Chang, Cryst. Growth Des., 9, 3301 (2009).
13. M. M. C. Chou, L. Chang, H.-Y. Chung, T.-H. Huang, J.-J. Wu, and C.-W. Chen, J. Cryst. Growth, 308, 412 (2007).
14. H. Lin, S. Zhou, H. Teng, X. Hou, T. Jia, S. Gu, and S. Zhu, Appl. Surf. Sci., 255, 9146 (2009).
15. M. M. C. Chou, L. Chang, D.-R. Hang, C. Chen, D. -S. Chang, and C. -A. Li, Cryst. Growth Des., 9, 2073 (2009).
16. M. M. C. Chou, H. C. Huang, D. S. Gan, and C. W. C. Hsu, J. Cryst. Growth, 291, 485 (2006).
17. H. Matsui, N. Hasuike, H. Harima, and H. Tabata, J. Appl. Phys., 104, 094309 (2008).
18. W. I. Park, G.-C.Yi, and H. M. Jang, Appl. Phys. Lett., 79, 2022 (2001).
19. R. Armitage and H. Hirayama, Appl. Phys. Lett., 92, 092121 (2008).
20. X. Ni, U. Ozgur, A. A. Baski, H. Morkoc, L. Zhou, D. J. Smith, C. A. Tran, Appl. Phys. Lett., 90, 182109 (2007).
21. T. J. Baker, B. A. Haskell, F. Wu, J. S. Speck, S. Nakumura, Jpn. J. Appl. Phys., 45, L154 (2006).
22. L. Chang, M. M. C. Chou, T.-H. Hwang, and C.-W. Chen, Phys. Status Solidi (a), 206, 215 (2009).
23. C. Mauder, B. Reuters, R. Khoshroo, M. V. Rzheutskii, E. V. Lutsenko, G. P. Yablonski, J. F. Woitok, M. Heuken, H. Kalisch, and R. H. Jansen, J. Cryst. Growth, 312, 1823 (2010).
24. P. P. Paskov, R. Schifano, T. Paskova, T. Malinauskas, J. P. Bergman, B. Monemar, S. Figge, D. Hommel, Physica B, 376-377, 473 (2006).
25. Y.-L. Hu, S. Kraemer, P. T. Fini, and J. S. Speck, J. Cryst. Growth, 331, 49 (2011).
26. M. Schirra, R. Schneider, A. Reiser, G. M. Prinz, M. Feneberg, J. Biskupek, U. Kaiser, C. E. Krill, K. Thonke and R. Sauer, Phys. Rev. B, 77, 125215 (2008).
27. A. Y. Polyakov, N. B. Smirnov, A. V. Govorkov, H. Amano, S. J. Pearton, I. -H. Lee, Q. Sun, J. Han, and S. Yu. Karpov, Appl. Phys. Lett., 98, 072104 (2011).