Metalorganic vapor-phase epitaxial growth and photoluminescent properties of Zn1-xMgxO(0≤x≤0.49) thin films

Applied Physics Letters

Volumn 79, Issue 13, 2001, Pages 2022-2024

  Park, W I ^a   Yi, Gyu Chul ^a   Jang, H M ^a  

^a Pohang University of Science and Technology (POSTECH)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035943846     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1405811     Document Type: Article

References (18)

1. D. M. Bagnall, Y. F. Chen, Z. Zhu, T. Yao, S. Koyama, M. Y. Shen, and T. Goto, Appl. Phys. Lett. 70, 2230 (1997).
2. Z. K. Tang, G. K. L. Wong, P. Yu, M. Kawasaki, A. Ohtomo, H. Koinuma, and Y. Segawa, Appl. Phys. Lett. 72, 3270 (1998).
3. W. I. Park, S.-J. An, G.-C. Yi, and H. M. Jang, J. Mater. Res. 16, 1358 (2001).
4. A. Ohtomo, M. Kawasaki, T. Koida, K. Masubuchi, H. Koinuma, Y. Sakurai, Y. Yoshida, T. Yasuda, and Y. Segawa, Appl. Phys. Lett. 72, 2466 (1998).
5. A. Ohtomo, K. Tamura, M. Kawasaki, T. Makino, Y. Segawa, Z. K. Tang, G. K. L. Wong, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 77, 2204 (2000); H. D. Sun, T. Makino, N. T. Tuan, Y. Segawa, Z. K. Tang, G. K. L. Wong, M. Kawasaki, A. Ohtomo, K. Tamura, and H. Koinuma, ibid. 77, 4250 (2000).
6. A. Ohtomo, K. Tamura, M. Kawasaki, T. Makino, Y. Segawa, Z. K. Tang, G. K. L. Wong, Y. Matsumoto, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 77, 2204 (2000); H. D. Sun, T. Makino, N. T. Tuan, Y. Segawa, Z. K. Tang, G. K. L. Wong, M. Kawasaki, A. Ohtomo, K. Tamura, and H. Koinuma, ibid. 77, 4250 (2000).
7. A. K. Sharma, J. Narayan, J. F. Muth, C. W. Teng, C. Jin, A. Kvit, R. M. Kolbas, and O. W. Holland, Appl. Phys. Lett. 75, 3327 (1999).
8. E. R. Segnit and A. E. Holland, J. Am. Ceram. Soc. 48, 412 (1965).
9. W. I. Park and G.-C. Yi, J. Electron. Mater. (to be published).
10. A. Ohtomo, M. Kawasaki, Y. Sakurai, I. Ohkubo, R. Shiroki, Y. Yoshida, T. Yasuda, Y. Segawa, and H. Koinuma, Mater. Sci. Eng., B 56, 263 (1998).
11. B. D. Cullity, Elements of X-Ray Diffraction (Addison-Wesley, Reading, MA, 1978).
12. S. Yashida, S. Misawa, and S. Gonda, J. Appl. Phys. 53, 6844 (1982).
13. R. A. Flinn and P. K. Trojan, Engineering Materials and Their Applications (Houghton Mifflin, Boston, MA, 1975).
14. S. I. Park, T. S. Cho, S. J. Doh, J. L. Lee, and J. H. Je, Appl. Phys. Lett. 77, 349 (2000).
15. D. C. Look, D. C. Reynolds, J. R. Sizelove, R. L. Jones, C. W. Litton, G. Cantwell, and W. C. Harsch, Solid State Commun. 105, 399 (1998).
16. R. W. Martin, P. G. Middleton, K. P. O'Donnell, and W. Van der Stricht, Appl. Phys. Lett. 74, 263 (1999).
17. K. P. O'Donnell, R. W. Martin, and P. G. Middleton, Phys. Rev. Lett. 82, 237 (1999).
18. S. Chichibu, T. Azuhata, T. Sota, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 69, 4188 (1996).