Structural and optical properties of mixed diindenoperylene- perfluoropentacene thin films

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 116, Issue 20, 2012, Pages 10917-10923

  Reinhardt, J P ^a   Hinderhofer, A ^a,b   Broch, K ^a   Heinemeyer, U ^a   Kowarik, S ^c   Vorobiev, A ^d   Gerlach, A ^a   Schreiber, F ^a  

^a UNIVERSITY OF TÜBINGEN   (Germany)

^b CHIBA UNIVERSITY   (Japan)

^c HUMBOLDT UNIVERSITY   (Germany)

^d EUROPEAN SYNCHROTRON RADIATION FACILITY   (France)

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DIFFERENTIAL REFLECTANCE SPECTROSCOPY; GLASS SUBSTRATES; GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION; GROWTH MORPHOLOGY; INTERMOLECULAR COUPLING; MIXED FILMS; MOLECULAR LEVELS; OPTICAL EXTINCTION COEFFICIENTS; OUT-OF-PLANE LATTICES; PENTACENES; PERFLUOROPENTACENES; STANDING-UP; STRUCTURAL AND OPTICAL PROPERTIES; UNIAXIAL DIELECTRIC; X RAY REFLECTIVITY;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; DIELECTRIC MATERIALS; SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY; SUBSTRATES; X RAY DIFFRACTION;

OPTICAL PROPERTIES;

EID: 84861492156     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp211947y     Document Type: Article

References (56)

1. Opitz, A.; Wagner, J.; Brütting, W.; Salzmann, I.; Koch, N.; Manara, J.; Pflaum, J.; Hinderhofer, A.; Schreiber, F. IEEE J. Sel. Top. Quant. Electron. 2010, 16, 1707
2. Brabec, C.; Dyakonov, V.; Parisi, J.; Sariciftci, N., Eds.; Organic Photovoltaics; Springer: Berlin, Heidelberg, 2003.
3. Walzer, K.; Maennig, B.; Pfeiffer, M.; Leo, K. Chem. Rev. 2007, 107, 1233-1271
4. Chen, W.-B.; Xiang, H.-F.; Xu, Z.-X.; Yan, B.-P.; Roy, V. A. L.; Che, C.-M.; Lai, P.-T. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 191109
5. Gao, W.; Kahn, A. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 4040-4042
6. Gao, W.; Kahn, A. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 4815-4817
7. Kitaigorodsky, A. In Mixed Crystals; Cardona, M., Ed.; Springer: Berlin, Heidelberg, 1984.
8. Vogel, J. O.; Salzmann, I.; Duhm, S.; Oehzelt, M.; Rabe, J. P.; Koch, N. J. Mater. Chem. 2010, 20, 4055-4066
9. Hinderhofer, A.; Frank, C.; Hosokai, T.; Resta, A.; Gerlach, A.; Schreiber, F. J. Chem. Phys. 2011, 134, 104702
10. Hinderhofer, A.; Schreiber, F. ChemPhysChem 2012, 13, 628-643
11. Meyer, E. A.; Castellano, R. K.; Diederich, F. Angew. Chem., Int. Ed. 2003, 42, 1210-1250
12. Coates, G. W.; Dunn, A. R.; Henling, L. M.; Ziller, J. W.; Lobkovsky, E. B.; Grubbs, R. H. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 3641-3649
13. Reichenbacher, K.; Suss, H. I.; Hulliger, J. Chem. Soc. Rev. 2005, 34, 22-24
14. Bacchi, S.; Benaglia, M.; Cozzi, F.; Demartin, F.; Filippini, G.; Gavezzotti, A. Chem.-Eur. J. 2006, 12, 3538-3546
15. Williams, J. H.; Cockcroft, J. K.; Fitch, A. N. Angew. Chem., Int. Ed. 1992, 31, 1655-1657
16. Collings, J. C.; Roscoe, K. P.; Thomas, R. L.; Batsanov, A. S.; Stimson, L. M.; Howard, J. A. K.; Marder, T. B. New J. Chem. 2001, 25, 1410-1417
17. Broch, K.; Heinemeyer, U.; Hinderhofer, A.; Anger, F.; Scholz, R.; Gerlach, A.; Schreiber, F. Phys. Rev. B 2011, 83, 245307
18. Watt, S. W.; Dai, C.; Scott, A. J.; Burke, J. M.; Thomas, R. L.; Collings, J. C.; Viney, C.; Clegg, W.; Marder, T. B. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 3061-3063
19. Krause, B.; Schreiber, F.; Dosch, H.; Pimpinelli, A.; Seeck, O. H. Europhys. Lett. 2004, 65, 372
20. Kowarik, S.; Gerlach, A.; Sellner, S.; Schreiber, F.; Cavalcanti, L.; Konovalov, O. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 125504
21. Witte, G.; Wöll, C. J. Mater. Res. 2004, 19, 1889-1916
22. Schreiber, F. Phys. Status Solidi 2004, 201, 1037
23. Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Kobayashi, M.; Gao, Y.; Fukai, Y.; Inoue, Y.; Sato, F.; Tokito, S. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8138-8140
24. Kowarik, S.; Gerlach, A.; Hinderhofer, A.; Milita, S.; Borgatti, F.; Zontone, F.; Suzuki, T.; Biscarini, F.; Schreiber, F. Phys. Status Solidi-RRL 2008, 2, 120-122
25. Salzmann, I.; Duhm, S.; Heimel, G.; Rabe, J. P.; Koch, N.; Oehzelt, M.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T. Langmuir 2008, 24, 7294-7298
26. Hinderhofer, A.; Heinemeyer, U.; Gerlach, A.; Kowarik, S.; Jacobs, R. M. J.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Schreiber, F. J. Chem. Phys. 2007, 127, 194705
27. Koch, N.; Gerlach, A.; Duhm, S.; Glowatzki, H.; Heimel, G.; Vollmer, A.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Zegenhagen, J.; Rabe, J. P.; Schreiber, F. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 7300
28. Duhm, S.; Hosoumi, S.; Salzmann, I.; Gerlach, A.; Oehzelt, M.; Wedl, B.; Lee, T.-L.; Schreiber, F.; Koch, N.; Ueno, N.; Kera, S. Phys. Rev. B 2010, 81, 045418
29. Breuer, T.; Witte, G. Phys. Rev. B 2011, 83, 155428
30. Götzen, J.; Schwalb, C. H.; Schmidt, C.; Mette, G.; Marks, M.; Höfer, U.; Witte, G. Langmuir 2011, 27, 993-999
31. Salzmann, I.; Duhm, S.; Heimel, G.; Oehzelt, M.; Kniprath, R.; Johnson, R. L.; Rabe, J. P.; Koch, N. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 12870-12871
32. Anger, F.; Osso, J. O.; Heinemeyer, U.; Broch, K.; Scholz, R.; Gerlach, A.; Schreiber, F. J. Chem. Phys. 2012, 136, 054701
33. Kowarik, S.; Broch, K.; Hinderhofer, A.; Schwartzberg, A.; Osso, J. O.; Kilcoyne, D.; Schreiber, F.; Leone, S. R. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 13061-13067
34. Dürr, A. C.; Schreiber, F.; Ritley, K. A.; Kruppa, V.; Krug, J.; Dosch, H.; Struth, B. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 016104
35. Zhang, D.; Heinemeyer, U.; Stanciu, C.; Sackrow, M.; Braun, K.; Hennemann, L. E.; Wang, X.; Scholz, R.; Schreiber, F.; Meixner, A. J. Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 056601
36. Barrena, E.; de Oteyza, D. G.; Sellner, S.; Dosch, H.; Osso, J. O.; Struth, B. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 076102
37. Heinemeyer, U.; Scholz, R.; Gisslén, L.; Alonso, M. I.; Ossó, J. O.; Garriga, M.; Hinderhofer, A.; Kytka, M.; Kowarik, S.; Gerlach, A.; Schreiber, F. Phys. Rev. B 2008, 78, 085210
38. Dürr, A. C.; Schreiber, F.; Muench, M.; Karl, N.; Krause, B.; Kruppa, V.; Dosch, H. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 2276
39. Wagner, J.; Gruber, M.; Hinderhofer, A.; Wilke, A.; Bröker, B.; Frisch, J.; Amsalem, P.; Vollmer, A.; Opitz, A.; Koch, N.; Schreiber, F.; Brütting, W. Adv. Funct. Mater. 2010, 20, 4295
40. Hinderhofer, A.; Hosokai, T.; Frank, C.; Novák, J.; Gerlach, A.; Schreiber, F. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 16155-16160
41. Hinderhofer, A.; Gerlach, A.; Kowarik, S.; Zontone, F.; Krug, J.; Schreiber, F. Europhys. Lett. 2010, 91, 56002
42. Kowarik, S.; Gerlach, A.; Schreiber, F. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20, 184005
43. Als-Nielsen, J.; McMorrow, D. Elements of Modern X-ray Physics; Wiley: New York, 2001.
44. Nelson, A. J. Appl. Crystallogr. 2006, 39, 273-276
45. Heinemeyer, U. Optical properties of organic semiconductor thin films: Static spectra and real-time growth studies; Ph.D. thesis, Eberhard-Karls Universität, Tübingen, 2009.
46. Bortchagovsky, E. Thin Solid Films 1997, 307, 192-199
47. Forker, R.; Fritz, T. Phys. Chem. Chem. Phys. 2009, 11, 2129
48. Heinemeyer, U.; Broch, K.; Hinderhofer, A.; Kytka, M.; Scholz, R.; Gerlach, A.; Schreiber, F. Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 257401
49. McIntyre, J. D. E.; Aspnes, D. E. Surf. Sci. 1971, 24, 417-434
50. Heinrich, M. A.; Pflaum, J.; Tripathi, A. K.; Frey, W.; Steigerwald, M. L.; Siegrist, T. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 18878
51. Kowarik, S.; Gerlach, A.; Sellner, S.; Cavalcanti, L.; Konovalov, O.; Schreiber, F. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2009, 95, 233-239
52. Scholz, R.; Gisslen, L.; Schuster, B.-E.; Casu, M. B.; Chassé, T.; Heinemeyer, U.; Schreiber, F. J. Chem. Phys. 2011, 134, 014504
53. Wood, D. M.; Ashcroft, N. W. Philos. Mag. 1977, 35, 269
54. Bruggeman, D. A. G. Ann. Phys. 1935, 24, 686
55. Heinemeyer, U.; Hinderhofer, A.; Alonso, M. I.; Ossó, J. O.; Garriga, M.; Kytka, M.; Gerlach, A.; Schreiber, F. Phys. Status Solidi A 2008, 205, 927
56. Proehl, H.; Nitsche, R.; Dienel, T.; Leo, K.; Fritz, T. Phys. Rev. B 2005, 71, 165207