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International Journal of Materials Research

Volumn 100, Issue 8, 2009, Pages 1074-1087

Overview on established and novel FIB based miniaturized mechanical testing using in-situ SEM

(4) Kiener, Daniel a,b,d Motz, Christian b Dehm, Gerhard b,c Pippan, Reinhard b

a MATERIALS CENTER LEOBEN FORSCHUNG GMBH (Austria)

b ERICH SCHMID INSTITUTE OF MATERIALS SCIENCE (Austria)

c UNIVERSITY OF LEOBEN (Austria)

d LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY (United States)

Author keywords

Focussed ion beam (FIB); In situ SEM; Micro mechanical testing; Size effect

Indexed keywords

FOCUSSED ION BEAMS; IN-SITU; MICRO-MECHANICAL TESTING; SEM; SIZE EFFECTS;

ELECTRON MICROSCOPES; FATIGUE TESTING; FRACTURE; FRACTURE TESTING; ION BEAMS; IONS; MECHANICAL ENGINEERING; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY;

MECHANICAL PROPERTIES;

EID: 77952032755 PISSN: 18625282 EISSN: None Source Type: Journal
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.