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Volumn , Issue , 2005, Pages 1-357

Introduction to focused ion beams: Instrumentation, theory, techniques and practice

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EID: 84892224035     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Book    
DOI: 10.1007/b101190     Document Type: Book
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.