Depolarization effects in tip-enhanced raman spectroscopy

Journal of Raman Spectroscopy

Volumn 40, Issue 10, 2009, Pages 1361-1370

  Merlen, A ^a,b   Valmalette, J C ^a,b   Gucciardi, P G ^c   Lamy de la Chapelle, M ^d   Frigout, A ^e   Ossikovski, R ^e  

^a UNIVERSITÉ DE TOULON   (France)

^b CNRS   (France)

^c CNR   (Italy)

^d UMR 7244   (France)

^e LABORATOIRE DE PHYSIQUE DES INTERFACES ET DES COUCHES MINCES   (France)

Author keywords

Polarization; Silicon; TERS

Indexed keywords

PHONONS; PLASMONICS; RAMAN SPECTROSCOPY; SEMICONDUCTOR DEVICES; SILICON;

DEPOLARIZATION EFFECTS; FAR-FIELD; FIELD ENHANCEMENT FACTOR; NANO-METER-SCALE; SILICON-BASED; SPATIAL RESOLUTION; STRAIN MAPPING; STRESS/STRAIN; TERS; TIP-ENHANCED RAMAN SPECTROSCOPY;

DEPOLARIZATION;

EID: 70350148058     PISSN: 03770486     EISSN: 10974555     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/jrs.2424     Document Type: Article

References (69)

1. J. R. Ferraro, K. Nakamoto, C. W. Brown (eds). Introductory Raman Spectroscopy, Elsevier Science: Amsterdam, 2003.
2. G. Turrell, J. Corset (eds). Raman Microscopy. Developments and Applications, Elsevier Science: Amsterdam, 1996.
3. E. Abbe, Arch. Mikroskop. Anat. 1873, 9, 413.
4. K. Kneipp, M. Moskovits, H. Kneipp (eds). Surface Enhanced Raman Scattering, Springer: Berlin, 2006.
5. D. W. Pohl, W. Denk, M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 1984, 44, 651.
6. A. Lewis, M. Isaacson, A. Harootunian, A. Murray, Ultramicroscopy 1984,13,227.
7. E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, R. L. Kostelak, Science 1991, 251, 1468.
8. M. Labardi, P. G. Gucciardi, M. Allegrini, Riv Nuovo Cimento 2000, 23,1.
9. C. Girard, A. Dereux, Rep. Prog. Phys. 1996, 59, 657.
10. L. Novotny, B. Hecht (eds.) Principles of Nanooptics, Cambridge University Press: Cambridge, 2006.
11. V. Deckert, D. Ziesel, R. Zenobi, T. Vo-Dinh, Anal. Chem. 1998, 70, 2646.
12. P. G. Gucciardi, S. Trusso, C. Vasi, S. Patanè, M. Allegrini, Appl. Opt. 2003,42,2724.
13. M. Staehelin, M. A. Bopp, G. Tarrach, A. J. Meixner, I. Zschokke-Graenacher, Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 2603.
14. P. G. Gucciardi, M. Colocci, M. Labardi, M. Allegrini, Appl. Phys. Lett. 1999,75,3408.
15. A. Ambrosio, O. Fenwick, F. Cacialli, R. Micheletto, Y. Kawakami, P. G. Gucciardi, D. J. Kang, M. Allegrini, J. Appl. Phys. 2006, 99, 084303.
16. C. Stöckle, Y. S. Suh, V. Deckert, R. Zenobi, Chem. Phys. Lett. 2000, 318, 131.
17. N. Hayazawa, Y. Inouye, Z. Sekkat, S. Kawata, Opt. Commun. 2000, 183, 333.
18. E. J. Sanchez, L. Novotny, X. S. Xie, Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 4014.
19. S. Kawata, V. M. Shalaev (eds.) Tip Enhancement, Elsevier Science: Amsterdam, 2007.
20. S. Patanè, P. G. Gucciardi, M. Labardi, M. Allegrini, RivNuovoCimento 2004, 27, 1.
21. H. Qian, C. Georgi, N. Anderson, A. A. Green, M. C. Hersam, L. Novotny, A. Hartschuh, Nano Lett. 2008, 8, 1363.
22. T. Ichimura, N. Hayazawa, M. Hashimoto, Y. Inouye, S. Kawata, Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 220801.
23. D. Richards, R. G. Milner, F. Huang, F. Festy, J. Raman Spectrosc.2003, 34, 663.
24. R. Ossikovski, Q. Nguyen, G. Picardi, Phys. Rev. B 2007, 75, 045412.
25. O. J. F. Martin, M. J. Paulus, J. Mircrosc. 2002, 205, 147.
26. I. Notingher, A. Elfick, J. Phys. Chem. B 2005, 109, 15699.
27. L. Novotny, S. Stranick, Annu. Rev. Phys. Chem. 2006, 57, 303.
28. G. Laurent, N. Felidj, S. Lau Troung, J. Aubard, G. Levi, J. R. Krenn, A. Hohenau, A. Leitner, F. R. Aussenegg, Nano Lett. 2005, 5, 253.
29. J. Grand, M. Lamy de la Chapelle, J. L. Bijeon, P. M. Adam, A. Vial, P. Royer, Phys. Rev. B 2005, 72, 33407.
30. L. Billot, M. Lamy de la Chapelle, A.-S. Grimault, A. Vial, D. Barchiesi, J.-L. Bijeon, P.-M. Adam, P. Royer, Chem. Phys. Lett. 2006, 422, 303.
31. A. L. Demming, F. Festy, D. Richards, J. Chem. Phys. 2005, 122, 184716.
32. B. Knoll, F. Keilmann, Opt. Commun. 2000, 182, 321.
33. R. Hillenbrand, F. Keilmann, Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 3029.
34. B. Pettinger, B. Ren, G. Picardi, R. Schuster, G. Ertl, Phys. Rev. Lett. 2004,92,096101.
35. B. Pettinger, K. F. Domke, D. Zhang, R. Schuster, G. Ertl, Phys. Rev. B 2007,76,113409.
36. R. Hillenbrand, F. Keilmann, Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 25.
37. M. Labardi, S. Patane, M. Allegrini, Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 621.
38. P. G. Gucciardi, G. Bachelier, M. Allegrini, J. Appl. Phys. 2006, 99, 124309.
39. P. G. Gucciardi, G. Bachelier, S. J. Stranick, M. Allegrini, in Applied Scanning Probe Methods VIII (Eds: B. Bhushan, H. Fuchs, M. Tomitori), Springer: Berlin, 2008.
40. N. Hayazawa, T. Yano, H. Watanabe, Y. Inouye, S. Kawata, Chem. Phys. Lett. 2003, 376, 174.
41. A. Hartschuh, E. J. Sanchez, S. Xie, L. Novotny, Phys. Rev. Lett. 2003, 90,095503.
42. S. S. Kharintsev, G. G. Hoffmann, P. S. Dorozhkin, G. de With, J. Loos, Nanotechnology 2007, 18, 315502.
43. X. Wang, Z. Liu, M. D. Zhuang, H. M. Zhang, X. Wang, Z. X. Xie, D. Y. Wu, B. Ren, Z. Q. Tian, Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 101105.
44. N. Hayazawa, M. Motohashi, Y. Saito, H. Ighitobi, A. Ono, T. Ichimura, P. Verma, S. Kawata, J. Raman Spectrosc. 2007, 38, 684.
45. N. Lee, R. D. Hartschuh, D. Mehtani, A. Kisliuk, J. F. Maguire, M. Green, M. D. Foster, A. P. Sokolov, J. Raman Spectrosc. 2007, 38, 789.
46. P. G. Gucciardi, M. Lopes, R. Deturche, C. julien, D. Barchiesi, M. Lamy de La Chapelle, Nanotechnology 2008, 19, 215702.
47. Q. Nguyen, J. Schreiber, R. Ossikovski, Opt. Commun.2007,274,231.
48. R. Loudon, Adv. Phys. 1964, 13, 423.
49. E. Anastassakis, Y. S. Raptis, J. Appl. Phys. 1985, 57, 920.
50. V. Poborschii, T. Tada, T. Kanayama, Jpn. J. Appl. Phys. 2005, 44, L202.
51. Q. Nguyen, R. Ossikovski, J. Schreiber, Opt. Commun. 2007, 274, 231.
52. M. Motohashi, N. Hayazawa, A. Tarun, S. Kawata, J. Appl. Phys. 2008, 103,034309.
53. G. Picardi, Q. Nguyen, R. Ossikovski, J. Schreiber, Appl. Spectrosc. 2007, 61, 1301.
54. P. G. Gucciardi, F. Bonaccorso, M. Lopes, M. Billot, M. Lamy de La Chapelle, Thin Solid Films 2008, 516, 8064.
55. L. Zhu, C. Georgi, M. Hecker, J. Rinderknecht, A. Mai, Y. Ritz, E. Zschech, J. Appl. Phys. 2007, 101, 104305.
56. I. De Wolf, Semicond. Sci. Technol. 1996, 11, 139.
57. I. De Wolf, H. E. Maes, S. K. Jones, J. Appl. Phys. 1996, 79, 7148.
58. S. Huard, Polarization of Light, Wiley: New York, 1997.
59. D. T. Pierce, A. Davies, J. A. Strocio, R. J. Celotta, Appl. Phys. A 1998, 66, S403.
60. P. A. Temple, C. E. Hathaway, Phys. Rev. B 1973, 7, 3685.
61. [61] (a) E. C. Le Ru, P. G. Etchegoin, J. Grand, N. Felidj, J. Aubard, G. Levi, A. Hohenau, J. R. Krenn, Curr. Appl. Phys. 2008, 8, 467;
62. (b) E. C. Le Ru, J. Grand, N. Felidj, J. Aubard, G. Levi, A. Hohenau, J. R. Krenn, E. Blackie, P. G. Etchegoin, J. Phys. Chem. C 2008, 112, 8117.
63. J. Grand, P.-M. Adam, A.-S. Grimault, A. Vial, M. Lamy de la Chapelle, J.-L. Bijeon, S. Kostcheev, P. Royer, Plasmonics 2006, 1(2-4), 135.
64. C. C. Neacsu, G. A. Steudle, M. B. Raschke, Appl. Phys. B 2005, 80, 295.
65. M. R. Beversluis, A. Bouhelier, L. Novotny, Phys. Rev. B 2003, 68, 115433.
66. A. Downes, D. Salter, A. Elfick, Opt. Express 2006, 14, 5216.
67. W. Zhang, Th. Schmid, B. S. Yeo, R. Zenobi, J. Phys. Chem. C 2008, 112,2104.
68. S. Grafström, P. Schuller, J. Kowalski, R. Neumann, J. Appl. Phys.1998, 83,3453.
69. R. Huber, M. Koch, J. Feldmann, Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 2521.