Hydrogen effects on the optical and electrical properties of ZnO light-emitting diodes

Electrochemical and Solid-State Letters

Volumn 11, Issue 4, 2008, Pages

  Wang, Yu Lin ^a,b   Kim, H S ^a   Norton, D P ^a,b   Pearton, S J ^a,b   Ren, F ^a,b  

^a University of Florida   (United States)

^b ELECTROCHEMICAL SOCIETY

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTROLUMINESCENCE; HYDROGEN; LEAKAGE CURRENTS; PHOSPHORIC ACID; PLASMA DIODES; ZINC COMPOUNDS;

ANNEALED DIODE; HYDROGEN PLASMA; LIGHT EMISSIONS; MEASUREMENT AMBIENT; P-I-N ZNO LIGHT-EMITTING DIODES; ROOM TEMPERATURE;

LIGHT EMITTING DIODES;

EID: 39349114947     PISSN: 10990062     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1149/1.2837657     Document Type: Article

References (44)

1. D. C. Look, Mater. Sci. Eng., B MSBTEK 0921-5107 10.1016/S0921-5107(00) 00604-8, 80, 383 (2001).
2. S. J. Pearton, D. P. Norton, K. Ip, Y. W. Heo, and T. Steiner, Prog. Mater. Sci. PRMSAQ 0079-6425 10.1016/j.pmatsci.2004.04.001, 50, 293 (2005).
3. G. -C. Yi, C. Wang, and W. I. Park, Semicond. Sci. Technol. SSTEET 0268-1242 10.1088/0268-1242/20/4/003, 20, S22 (2005).
4. Ya. I. Alivov, E. V. Kalinina, A. E. Cherenkov, D. C. Look, B. M. Ataev, A. K. Omaev, M. V. Chukichev, and D. M. Bagnall, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1632537, 83, 4719 (2003).
5. A. Osinsky, J. W. Dong, M. Z. Kauser, B. Hertog, A. M. Dabiran, P. P. Chow, S. J. Pearton, O. Lopatiuk, and L. Chernyak, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1815377, 85, 4272 (2004).
6. S. J. Pearton, D. P. Norton, K. Ip, Y. W. Heo, and T. Steiner, Superlattices Microstruct. SUMIEK 0749-6036 10.1016/S0749-6036(03)00093-4, 34, 3 (2003).
7. Y. W. Heo, S. J. Park, K. Ip, S. J. Pearton, and D. P. Norton, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1594835, 83, 1128 (2003).
8. S. B. Zhang, S. -H. Wei, and A. Zunger, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.63.075205, 63, 075205 (2001).
9. Y. W. Heo, K. Ip, S. J. Park, S. J. Pearton, and D. P. Norton, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. APAMFC 0947-8396 10.1007/s00339-003-2243-0, 78, 53 (2004).
10. D. C. Look and B. Claflin, Phys. Status Solidi B PSSBBD 0370-1972 10.1002/pssb.200304271, 241, 624 (2004).
11. Y. J. Li, Y. W. Heo, Y. Kwon, K. Ip, S. J. Pearton, and D. P. Norton, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.2010600, 87, 072101 (2005).
12. Y. W. Heo, Y. W. Kwon, Y. Li, S. J. Pearton, and D. P. Norton, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1737795, 84, 3474 (2004).
13. F. A. Selim, M. H. Weber, and D. Solodovnikov, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.99.085502, 99, 085502 (2007).
14. C. G. Van de Walle, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.85.1012, 85, 1012 (2000).
15. L. S. Vlasenko and G. D. Watkins, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.71.125210, 71, 125210 (2005).
16. S. Y. Myong and K. S. Lim, Org. Electron. OERLAU 1566-1199 10.1016/j.orgel.2006.10.010, 8, 51 (2007).
17. C. F. Windisch, G. Y. Exarhos, and C. H. Yao, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.2748719, 101, 123711 (2007).
18. Y. M. Strzhemechny, H. L. Mosbacker, and S. H. Goss, J. Electron. Mater. JECMA5 0361-5235 10.1007/s11664-005-0118-1, 34, 399 (2005).
19. E. V. Lavrov, F. Borrnert, and J. Weber, Physica B (Amsterdam), 376-377, 694 (2006). 0921-4526
20. D. M. Hofmann, A. Hofstaetter, F. Leiter, H. Zhou, F. Henecker, B. K. Meyer, S. B. Orlinkskii, J. Schmidt, and P. G. Baranov, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.88.045504, 88, 045504 (2002).
21. G. A. Shi, M. Saboktakin, M. Stavola, and S. J. Pearton, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1832736, 85, 5601 (2004).
22. K. Ip, M. E. Overberg, Y. W. Heo, D. P. Norton, S. J. Pearton, C. E. Stutz, S. O. Kucheyev, C. Jagadish, J. S. Williams, B. Luod, Solid-State Electron. SSELA5 0038-1101 10.1016/S0038-1101(03)00207-7, 47, 2255 (2003).
23. N. H. Nickel and K. Fleischer, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.90.197402, 90, 197402 (2003).
24. C. H. Seager and S. M. Myers, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.1595147, 94, 2888 (2003).
25. Y. M. Strzhemechny, J. Nemergut, P. E. Smith, J. Bae, D. C. Look, and L. J. Brillson, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.1606859, 94, 4256 (2003).
26. N. H. Nickel and K. Brendel, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.68.193303, 68, 193303 (2003).
27. Y. M. Strzhemechny, H. L. Mosbacker, D. C. Look, D. C. Reynolds, C. W. Litton, N. Y. Garces, N. C. Giles, L. E. Halliburton, S. Niki, and L. J. Brillson, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1695440, 84, 2545 (2004).
28. L. E. Halliburton, L. Wang, L. Bai, N. Y. Garces, N. C. Giles, M. J. Callahan, and B. Wang, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.1806531, 96, 7168 (2004).
29. E. V. Lavrov, F. Börrnert, and J. Weber, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.71.035205, 71, 035205 (2005).
30. C. A. Wolden, T. M. Barnes, J. B. Baxter, and E. S. Aydil, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.1851599, 97, 043522 (2005).
31. X. Li, B. Keyes, S. Asher, S. B. Zhang, S. -H. Wei, T. J. Coutts, S. Limpijumnong, and C. G. Van de Walle, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1886256, 86, 122107 (2005).
32. S. Limpijumnong and S. B. Zhang, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1900935, 86, 151910 (2005).
33. E. V. Lavrov, F. Börrnert, and J. Weber, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.72.085212, 72, 085212 (2005).
34. S. J. Jokela and M. D. McCluskey, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.72.113201, 72, 113201 (2005).
35. E. V. Monakhov, J. S. Christensen, K. Maknys, B. G. Svensson, and A. Yu. Kuznetsov, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.2128059, 87, 191910 (2005).
36. G. A. Shi, M. Stavola, S. J. Pearton, M. Thieme, E. V. Lavrov, and J. Weber, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.72.195211, 72, 195211 (2005).
37. E. V. Lavrov and J. Weber, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.73.035208, 73, 035208 (2006).
38. M. S. Oh, D. K. Hwang, J. H. Lim, Y. S. Choi, and S. J. Park, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.2816119, 91, 212102 (2007).
39. Y. L. Wang, F. Ren, H. S. Kim, S. J. Pearton, and D. P. Norton, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.2711201, 90, 092116 (2007).
40. K. Ip, M. E. Overberg, Y. W. Heo, D. P. Norton, S. J. Pearton, C. E. Stutz, B. Luo, F. Ren, D. C. Look, and J. M. Zavada, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1539927, 82, 385 (2003).
41. K. Ip, M. E. Overberg, Y. W. Heo, D. P. Norton, S. J. Pearton, S. O. Kucheyev, C. Jagadish, J. S. Williams, R. G. Wilson, and J. M. Zavada, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1524033, 81, 3996 (2002).
42. H. S. Kim, S. J. Pearton, D. P. Norton, and F. Ren, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.2815676, 102, 104904 (2007).
43. K. -K. Kim, H. S. Kim, D. -K. Hwang, J. -H. Lim, and S. -J. Park, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1591064, 83, 63 (2003).
44. T. Minami, S. Takata, M. Yamanishi, and T. Kawamura, Jpn. J. Appl. Phys., 18, 1617 (1979). 0021-4922