Current-driven hydrogen incorporation in zinc oxide

Applied Physics Letters

Volumn 91, Issue 21, 2007, Pages

  Oh, Min Suk ^a   Hwang, Dae Kue ^a   Lim, Jae Hong ^a   Choi, Yong Seok ^a   Park, Seong Ju ^a  

^a Gwangju Institute of Science and Technology (GIST)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CURRENT VOLTAGE CHARACTERISTICS; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTRIC CURRENT CARRYING CAPACITY (CABLES); ELECTRIC CURRENTS; HYDROGEN; SINGLE CRYSTALS;

DEPTH PROFILING ANALYSIS; HYDROGEN ATOMS;

ZINC OXIDE;

EID: 36348999704     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2816119     Document Type: Article

References (28)

1. D. C. Look, Mater. Sci. Eng., B 80, 383 (2001).
2. K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature (London) 432, 488 (2004).
3. E. Fortunato, P. Barquinha, A. Pimentel, A. Goncalves, A. Marques, L. Pereira, and R. Martins, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 17, 590 (2005).
4. A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, K. Ohtani, S. Chichibu, S. Fuke, Y. Segawa, H. Ohno, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Nat. Mater. 4, 42 (2005).
5. J. H. Lim, C. K. Kang, K. K. Kim, I. K. Park, D. K. Hwang, and S. J. Park, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 18, 2720 (2006).
6. Y. R. Ryu, S. Zhu, D. C. Look, J. M. Wrobel, H. M. Jeong, and H. W. White, J. Cryst. Growth 216, 330 (2000).
7. K. K. Kim, H. S. Kim, D. K. Hwang, J. H. Hong, and S. J. Park, Appl. Phys. Lett. 83, 63 (2003).
8. R. B. M. Cross and M. M. De Souza, Appl. Phys. Lett. 89, 263513 (2006).
9. L. G. Wang and A. Zunger, Phys. Rev. Lett. 90, 256401 (2003).
10. D. C. Look, B. Claflin, Ya. I. Alivov, and S. J. Park, Phys. Status Solidi A 10, 2203 (2004).
11. C. G. van de Walle, Phys. Rev. Lett. 85, 1012 (2000).
12. C. Kilic and Z. Zunger, Appl. Phys. Lett. 81, 73 (2002).
13. B. Theys, V. Sallet, F. Nomard, A. Lusson, J. Rommeluere, and Z. Teukam, J. Appl. Phys. 91, 3922 (2002).
14. K. Ip, M. E. Overberg, Y. W. Heo, D. P. Norton, S. J. Pearton, C. E. Stutz, B. Luo, F. Ren, D. C. Look, and J. M. Zavada, Appl. Phys. Lett. 82, 385 (2003).
15. Y. M. Strzhemechny, H. L. Mosbacker, D. C. Look, D. C. Reynold, C. W. Litton, L. Y. Garces, N. C. Giles, L. E. Halliburton, S. Niki, and L. J. Brillson, Appl. Phys. Lett. 84, 2545 (2004).
16. Z. Q. Chen, S. Yamamoto, M. Maekawa, A. Kawasuso, X. L. Yuan, and T. Sekiguchi, J. Appl. Phys. 94, 4807 (2003).
17. S. B. Zhang, S. H. Wei, and A. Zunger, Phys. Rev. B 63, 075205 (2001).
18. K. I. Hagemark, J. Solid State Chem. 16, 293 (1976).
19. K. Ogata, K. Sakurai, Sz. Fujita, and K. Matsushige, J. Cryst. Growth 214-215, 312 (2000).
20. F. Oba, S. Nishitani, S. Isotani, and H. Adachi, J. Appl. Phys. 90, 824 (2001).
21. A. Janotti and C. G. Van de Walle, Appl. Phys. Lett. 87, 122102 (2005).
22. D. C. Look, J. W. Hemsky, and J. R. Sizelove, Phys. Rev. Lett. 82, 2552 (1999).
23. G. A. Shi, M. Saboktakin, M. Stavola, and S. J. Pearton, Appl. Phys. Lett. 85, 5601 (2004).
24. B. Meyer, D. Marx, O. Dulub, U. Diebold, M. Kunat, D. Langenberg, and C. Woll, Angew. Chem., Int. Ed. 43, 6642 (2004).
25. Y. Wang, M. Muhler, and Ch. Woll, Phys. Chem. Chem. Phys. 8, 1521 (2006).
26. A. Janotti and C. G. Van de Walle, Nat. Mater. 6, 44 (2007).
27. M. G. Wardle, J. P. Goss, and P. R. Briddon, Phys. Rev. Lett. 96, 205504 (2006).
28. N. H. Nickel and K. Fleischer, Phys. Rev. Lett. 90, 197402 (2003).