Scanning Nano-Raman Spectroscopy of Silicon and Other Semiconducting Materials

Tip Enhancement

Volumn , Issue , 2007, Pages 177-203

  Mehtani, D ^a   Lee, N ^a   Hartschuh, R D ^a   Kisliuk, A ^a   Foster, M D ^a   Sokolov, A P ^a   Maguire, J F ^b  

^a The University of Akron   (United States)

^b WRIGHT PATTERSON AIR FORCE BASE   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 35348884686     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Book    
DOI: 10.1016/B978-044452058-6/50007-4     Document Type: Chapter

References (60)

1. Aigouy L., Andréani F.X., Boccara A.C., Rivoal J.C., Porto J.A., Carminati R., Greffet J.J. Appl. Phys. Lett. 2000, 76:397.
2. Aigouy L., Lahrech A., Grésillon S., Cory H., Boccara A.C., Rivoal J.C. Opt. Lett. 1999, 24:187.
3. Anderson M.S., Gaimari S.D. J. Struct. Bio. 2003, 142:364.
4. Anderson M.S., Pike W.T. Rev. Sci. Instrum. 2002, 73:1198.
5. Anderson N., Hartschuh A., Cronin S., Novotny L. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127:2553.
6. Bachelot R., H'Dhili F., Barchiesi D., Lerondel G., Fikri R., Royer P. J. Appl. Phys. 2003, 94:2060.
7. Bulgarevich D.S., Futamata M. Appl. Spectrosc. 2004, 58:757.
8. Courjon D., Bainier C. Rep. Prog. Phys. 1994, 57:989.
9. Demming F., Jersch J., Dickmann K., Geshev P.I. Appl. Phys. B: Lasers Opt. 1998, 66:593.
10. Denk W., Pohl D.W. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9:510.
11. Dunn R.C. Chem. Rev. 1999, 99:2891.
12. Feng Z.C., Mascarenhas A.J., Choyke W.J., Powell J.A. J. Appl. Phys. 1988, 64:6827.
13. Festy F., Demming A., Richards D. Ultramicroscopy 2004, 100:437.
14. Furukawa H., Kawata S. Opt. Commun. 1998, 148:221.
15. Hartschuh A., Beversluis M.R., Bouhelier A., Novotny L. Phil. Trans. R. Soc. Lond. A 2004, 362:807.
16. Hartschuh A., Sanchez E.J., Xie X.S., Novotny L. Phys. Rev. Lett. 2003, 90:095503.
17. Hayazawa N., Inouye Y., Sekkat Z., Kawata S. Chem. Phys. Lett. 2001, 335:369.
18. Hayazawa N., Inouye Y., Sekkat Z., Kawata S. J. Chem. Phys. 2002, 117:1296.
19. Hayazawa N., Motohashi M., Saito Y., Kawata S. Appl. Phys. Lett. 2005, 86:263114.
20. Hecht B., Sick B., Wild U.P., Deckert V., Zenobi R., Martin O.J.F., Pohl D.W. J. Chem. Phys. 2000, 112:7761.
21. Hopkins J.B., Farrow L.A. J. Appl. Phys. 1986, 59:1103.
22. Ibe J.P., Bey P.P., Brandow S.L., Brizzolara R.A., Burnham N.A., Dilella D.P., Lee K.P., Marrian C.R.K., Colton R.J. J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8:3570.
23. Ichimura T., Hayazawa N., Hashimoto M., Inouye Y., Kawata S. Phys. Rev. Lett. 2004, 92:220801.
24. Kalkbrenner T., Hákanson U., Sandoghdar V. Nano Lett. 2004, 4:2309.
25. Kneipp K., Wang Y., Kneipp H., Perelman L.T., Itzkan I., Dasari R.R., Feld M.S. Phys. Rev. Lett. 1997, 78:1667.
26. Knoll B., Kielmann F. Nature 1999, 399:134.
27. Kolb G., Salbert Th., Abstreiter G.J. Appl. Phys. 1991, 69:3387.
28. Kottmann J.P., Martin O.J.F. Phys. Rev. B 2001, 64:235402.
29. Kottmann J.P., Martin O.J.F., Smith D.R., Shultz S. J. Microsc. 2001, 202:60.
30. Li K., Li X., Stockman M.I., Bergman D.J. Phys. Rev. B 2005, 71:115409.
31. Martin O.J.F., Girard C. Appl. Phys. Lett. 1997, 70:705.
32. Mehtani D., Lee N., Hartschuh R.D., Kisliuk A., Foster M.D., Sokolov A.P., Maguire J.F. J. Raman Spectrosc. 2005, 36:1068.
33. Mehtani D., Lee N., Hartschuh R.D., Kisliuk A., Foster M.D., Sokolov A.P., Tsukerman I. J Opt. A: App. Pure Opt. 2006, 5927:S183-S190.
34. Moskovits M. Rev. Mod. Phys. 1985, 57:783.
35. Nakashima S., Mizoguchi K. J. Appl. Phys. 1989, 65:2583.
36. Neacsu C.C., Steudle G.A., Raschke M.B. Appl. Phys. B 2004, 80:295.
37. Nie S., Emory S.R. Science 1997, 275:1102.
38. Novotny L., Bian R.X., Xie X.S. Phys. Rev. Lett. 1997, 79:645.
39. Novotny L., Sánchez E.J., Xie X.S. Ultramicroscopy 1998, 71:21.
40. Patanè S., Gucciardi P.G., Labardi M., Allegrini M. Rivista Del Nuovo Cimento 2004, 27:1.
41. Pettinger B., Ren B., Picardi G., Schuster R., Ertl G. Phys. Rev. Lett. 2004, 92:096101.
42. Poborchii V., Tada T., Kanayama T. Japn. J. Appl. Phys. 2005, 44:L202.
43. Porto J.A., Johansson P., Apell S.P., López-Rios T. Phys. Rev. B 2003, 67:085409.
44. Raschke M.B., Lienau C. Appl. Phys. Lett. 2003, 83:5089.
45. Ren B., Picardi G., Pettinger B. Rev. Sci. Instrum. 2004, 75:837.
46. Sanchez E.J., Novotny L., Xie X.S. Phys. Rev. Lett. 1999, 42:4014.
47. Sönnichsen C., Geier S., Hecker N.E., Plessen G., Feldmann J., Ditlbacher H., Lamprecht B., Krenn J.R., Aussenegg F.R., Chan V.Z.-H., Spatz J.P., Möller M. Appl. Phys. Lett. 2000, 77:2949.
48. Stockle R., Suh Y.D., Deckert V., Zenobi R. Chem. Phys. Lett. 2000, 318:131.
49. Sun W.X., Shen Z.X. Mater. Phys. Mech. 2001, 4:17.
50. Sun W.X., Shen Z.X. Rev. Sci. Instrum. 2002, 73:2942.
51. Sun W.X., Shen Z.X. J. Raman Spectrosc. 2003, 34:668.
52. Xun W.X., Shen Z.X. Ultramicroscopy 2003, 94:237.
53. Thio T., Lezec H.J., Ebbesen T.W., Pellerin K.M., Lewen G.D., Nahata A., Linke R.A. Nanotechnology 2002, 13:429.
54. Wang J.J., Smith D.A., Batchelder D.N., Saito Y., Kirkham J., Robinson C., Baldwin K., Li G., Bennett B. J. Microsc. 2003, 210:330.
55. Webster S., Batchelder D.N., Smith D.A. Appl. Phys. Lett. 1998, 72:1478.
56. Wessel J.J. Opt. Soc. Am. B 1985, 2:1538.
57. Wolf IDe. Semicond. Sci. Technol. 1996, 11:139.
58. Zayats A.V. Opt. Commun. 1999, 161:156.
59. Zayats A.V., Sandoghdar V. J. Microscopy 2001, 202:94.
60. Zenhausern F., O'Boyle M.P., Wickramasinghe H.K. Appl. Phys. Lett. 1994, 63:1623.