Distance dependence of force and dissipation in non-contact atomic force microscopy on Cu(100) and Al(111)

Nanotechnology

Volumn 15, Issue 2, 2004, Pages

  Pfeiffer, O ^a   Nony, L ^a   Bennewitz, R ^a   Baratoff, A ^a   Meyer, E ^a  

^a UNIVERSITY OF BASEL   (Switzerland)

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DISTANCE DEPENDENCE; NONCONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPY; VISCOELASTIC DEFORMATION;

ALUMINUM; COPPER; DAMPING; DEFORMATION; MATHEMATICAL MODELS; MOLECULAR DYNAMICS; SURFACE STRUCTURE; VACUUM APPLICATIONS; VISCOELASTICITY;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY;

EID: 1442336201     PISSN: 09574484     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0957-4484/15/2/021     Document Type: Article

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