Low-temperature noncontact atomic-force microscope with quick sample and cantilever exchange mechanism

Review of Scientific Instruments

Volumn 72, Issue 7, 2001, Pages 2971-2976

  Suehira, N ^a   Tomiyoshi, Y ^a   Sugawara, Y ^a   Morita, S ^a  

^a OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035396609     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1368854     Document Type: Article

References (28)

1. T. R. Albrecht, P. Grütter, D. Horne, and D. Rugar, J. Appl. Phys. 69, 668 (1991).
2. F. J. Giessibl, Science 267, 68 (1995).
3. S. Kitamura and M. Iwatsuki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 34, L145 (1995).
4. Y. Sugawara, M. Ohta, H. Ueyama, and S. Morita, Science 270, 1646 (1995).
5. T. Uchihasi, Y. Sugawara, T. Tsukamoto, M. Ohta, and S. Morita, Phys. Rev. B 56, 9834 (1997).
6. K. Yokoyama, T. Ochi, A. Yoshimoto, Y. Sugawara, and S. Morita, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 39, L113 (2000).
7. S. Morita, M. Abe, K. Yokoyama, and Y. Sugawara, J. Cryst. Growth 210, 408 (2000).
8. M. Bammerlin, R. Luthi, E. Meyer, A. Baratoff, J. Lü, M. Guggisberg, C. Loppacher, Ch. Gerver, L. Howald, and H. J. Güntherodt, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. A66. S293 (1998).
9. K. Fukui, H. Onishi, and Y. Iwasa, Phys. Rev. Lett. 79, 4202 (1997).
10. M. A. Lantz, H. J. Hug, P. J. A. van Schendel, R. Hoffmann, S. Martin, A. Baratoff, A. Abdurixit, H. J. Günterodt, and Ch. Gerber, Phys. Rev. Lett. 84, 2642 (2000).
11. W. Allers, A. Schwarz, U. D. Schwarz, and R. Wiesendanger, Appl. Phys. Lett. 140, 247 (1999).
12. A. Schwarz, W. Allers, U. D. Schwarz, and R. Wiesendanger, Phys. Rev. B 611, 2837 (2000).
13. H. J. Hug, B. Stiefel, P. J. A. van Schendel, A. Moser, S. Martin, and H.-J. Günterodt, Rev. Sci. Instrum. 70, 3625 (1999).
14. W. Allers, A. Schwarz, U. D. Schwarz, and R. Wiesendanger, Rev. Sci. Instrum. 69, 221 (1998).
15. K. Suzuki, M. Iwatsuki, S-i. Kitamura, and Charles B. Mooney, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 39, 3750 (2000).
16. R. Gaisch, J. K. Gimzewski, B. Reihl, R. R. Schlittier, and M. Tschudy, Ultramicroscopy 42-44, 1621 (1992).
17. G. Meyer, Rev. Sci. Instrum. 67, 2960 (1996).
18. G. Binnig and H. Rohrer, IBM J. Res. Dev. 30, 355 (1986).
19. D. Rugar, H. J. Mamin, and P. Guethner, Appl. Phys. Lett. 55, 2588 (1989).
20. G. Meyer and N. M. Amer, Appl. Phys. Lett. 57, 2089 (1990).
21. S. Watanabe and T. Fujii, Rev. Sci. Instrum. 67, 3898 (1996).
22. J. Giessibl and B. M. Trafas, Rev. Sci. Instrum. 65, 1923 (1994).
23. R. Erlandsson and L. Olsson, Rev. Sci. Instrum. 67, 1472 (1996).
24. D. W. Pohl, Rev. Sci. Instrum. 58, 54 (1986).
25. R. R. Schlittler and J. K. Gimzewski, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 827 (1996).
26. K. Yokoyama, T. Ochi, T. Uchihashi, M. Ashino, N. Suehira, Y. Sugawara, and S. Morita, Rev. Sci. Instrum. 71, 128 (2000).
27. N. Suehira, Y. Tomiyoshi, K. Sugiyama, Y. Sugawara, and S. Morita, Appl. Surf. Sci. 343-348, 157 (2000).
28. Nanosensors GmbH, IMO Building, Im Amtmann 6 D-35578 Welzlar-Blankenfeld, Germany.