Dynamic scanning force microscopy at low temperatures on a van der Waals surface: Graphite (0001)

Applied Surface Science

Volumn 140, Issue 3-4, 1999, Pages 247-252

  Allers, W ^a   Schwarz, A ^a   Schwarz, U D ^a   Wiesendanger, R ^a  

^a UNIVERSITY OF HAMBURG   (Germany)

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07.20.Mc; 07.79.Sp; 61.16.Ch; 81.05.Tp; APN; GK; Graphite; HOPG; Low temperature atomic force microscopy; Non contact atomic force microscopy; Van der Waals

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EID: 0000635173     PISSN: 01694332     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0169-4332(98)00535-2     Document Type: Article

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