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Volumn 2, Issue 9, 2014, Pages

Microscopic origin of low frequency noise in MoS2 field-effect transistors

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EID: 84907483828     PISSN: None     EISSN: 2166532X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4895955     Document Type: Article
Times cited : (70)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.