Direct imaging of atomic scale structure and electronic properties of GaAs wurtzite and zinc blende nanowire surfaces

Nano Letters

Volumn 13, Issue 9, 2013, Pages 4492-4498

  Hjort, M ^a   Lehmann, S ^a   Knutsson, J ^a   Timm, R ^a   Jacobsson, D ^a   Lundgren, E ^a   Dick, K A ^a   Mikkelsen, A ^a  

^a LUND UNIVERSITY   (Sweden)

Author keywords

GaAs; III V; nanowire; STM; STS; surface

Indexed keywords

ATOMIC SCALE STRUCTURES; GAAS; III-V; LOW-INDEX SURFACES; NANOWIRE SURFACE; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY; STM; STS;

ELECTRONIC PROPERTIES; ELECTRONIC STRUCTURE; ENERGY GAP; GALLIUM ARSENIDE; NANOWIRES; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SURFACES; ZINC; ZINC SULFIDE;

SEMICONDUCTING GALLIUM;

EID: 84884268020     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl402424x     Document Type: Article

References (58)

1. Heiss, M.; Fontana, Y.; Gustafsson, A.; Wüst, G.; Magen, C.; O'Regan, D. D.; Luo, J. W.; Ketterer, B.; Conesa-Boj, S.; Kuhlmann, A. V.; Houel, J.; Russo-Averchi, E.; Morante, J. R.; Cantoni, M.; Marzari, N.; Arbiol, J.; Zunger, A.; Warburton, R. J.; Fontcuberta i Morral, A. Nat. Mater. 2013, 12, 439-444
2. Heurlin, M.; Magnusson, M. H.; Lindgren, D.; Ek, M.; Wallenberg, L. R.; Deppert, K.; Samuelson, L. Nature 2012, 492 (7427) 90-94
3. Mariani, G.; Scofield, A. C.; Hung, C.-H.; Huffaker, D. L. Nat. Commun. 2013, 4, 1497
4. Joyce, H. J.; Wong-Leung, J.; Gao, Q.; Tan, H. H.; Jagadish, C. Nano Lett. 2010, 10 (3) 908-915
5. Lehmann, S.; Jacobsson, D.; Deppert, K.; Dick, K. Nano Res. 2012, 5, 470-476
6. Algra, R. E.; Verheijen, M. A.; Borgström, M. T.; Feiner, L. F.; Immink, G.; van Enckevort, W. J. P.; Vlieg, E.; Bakkers, E. P. A. M. Nature 2008, 456 (7220) 369-372
7. Caroff, P.; Dick, K. A.; Johansson, J.; Messing, M. E.; Deppert, K.; Samuelson, L. Nat. Nanotechnol. 2009, 4 (1) 50-55
8. Dick, K. A.; Thelander, C.; Samuelson, L.; Caroff, P. Nano Lett. 2010, 10 (9) 3494-3499
9. Akopian, N.; Patriarche, G.; Liu, L.; Harmand, J. C.; Zwiller, V. Nano Lett. 2010, 10 (4) 1198-1201
10. Caroff, P.; Bolinsson, J.; Johansson, J. IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 2011, 17 (4) 829-846
11. Spirkoska, D.; Arbiol, J.; Gustafsson, A.; Conesa-Boj, S.; Glas, F.; Zardo, I.; Heigoldt, M.; Gass, M. H.; Bleloch, A. L.; Estrade, S.; Kaniber, M.; Rossler, J.; Peiro, F.; Morante, J. R.; Abstreiter, G.; Samuelson, L.; Fontcuberta i Morral, A. Phys. Rev. B 2009, 80 (24) 245325
12. Kim, D. C.; Dheeraj, D. L.; Fimland, B. O.; Weman, H. Appl. Phys. Lett. 2013, 102 (14) 142107-5
13. Heiss, M.; Conesa-Boj, S.; Ren, J.; Tseng, H.-H.; Gali, A.; Rudolph, A.; Uccelli, E.; Peiró, F.; Morante, J. R.; Schuh, D.; Reiger, E.; Kaxiras, E.; Arbiol, J.; Fontcuberta i Morral, A. Phys. Rev. B 2011, 83 (4) 045303
14. Hoang, T. B.; Moses, A. F.; Zhou, H. L.; Dheeraj, D. L.; Fimland, B. O.; Weman, H. Appl. Phys. Lett. 2009, 94 (13) 133105-3
15. Ketterer, B.; Heiss, M.; Uccelli, E.; Arbiol, J.; Fontcuberta i Morral, A. ACS Nano 2011, 5 (9) 7585-7592
16. Ahtapodov, L.; Todorovic, J.; Olk, P.; MjaÌŠland, T.; SlaÌŠttnes, P.; Dheeraj, D. L.; van Helvoort, A. T. J.; Fimland, B.-O.; Weman, H. Nano Lett. 2012, 12 (12) 6090-6095
17. Zanolli, Z.; Fuchs, F.; Furthmüller, J.; von Barth, U.; Bechstedt, F. Phys. Rev. B 2007, 75 (24) 245121
18. Murayama, M.; Nakayama, T. Phys. Rev. B 1994, 49 (7) 4710-4724
19. Yeh, C.-Y.; Wei, S.-H.; Zunger, A. Phys. Rev. B 1994, 50 (4) 2715-2718
20. De, A.; Pryor, C. E. Phys. Rev. B 2010, 81 (15) 155210
21. Belabbes, A.; Panse, C.; Furthmüller, J.; Bechstedt, F. Phys. Rev. B 2012, 86 (7) 075208
22. Xu, T.; Dick, K. A.; Plissard, S.; Nguyen, T. H.; Makoudi, Y.; Berthe, M.; Nys, J. P.; Wallart, X.; Grandidier, B.; Caroff, P. Nanotechnology 2012, 23, 095702
23. Hilner, E.; HaÌŠkanson, U.; Fröberg, L. E.; Karlsson, M.; Kratzer, P.; Lundgren, E.; Samuelson, L.; Mikkelsen, A. Nano Lett. 2008, 8 (11) 3978-3982
24. Hjort, M.; Wallentin, J.; Timm, R.; Zakharov, A. A.; HaÌŠ kanson, U.; Andersen, J. N.; Lundgren, E.; Samuelson, L.; Borgström, M. T.; Mikkelsen, A. AcS Nano 2012, 6, 9679
25. Yu, E. T. Chem. Rev. 1997, 97 (4) 1017-1044
26. Mikkelsen, A.; Lundgren, E. Prog. Surf. Sci. 2005, 80 (1-2) 1-25
27. Feenstra, R. M. Semicond. Sci. Technol. 1994, 9 (12) 2157
28. Timm, R.; Eisele, H.; Lenz, A.; Ivanova, L.; Vosseburger, V.; Warming, T.; Bimberg, D.; Farrer, I.; Ritchie, D. A.; Dähne, M. Nano Lett. 2010, 10 (10) 3972-3977
29. Pankoke, V.; Kratzer, P.; Sakong, S. Phys. Rev. B 2011, 84 (7) 075455
30. Ghalamestani, S. G.; Heurlin, M.; Wernersson, L.-E.; Lehmann, S.; Dick, K. A. Nanotechnology 2012, 23 (28) 285601
31. Lehmann, S. Nano Lett. 2013, 10.1021/nl401554w
32. Magnusson, M. H.; Deppert, K.; Malm, J.-O.; Bovin, J.-O.; Samuelson, L. Nanostruct. Mater. 1999, 12 (1-4) 45-48
33. Feenstra, R. M. Phys. Rev. B 1994, 50 (7) 4561-4570
34. Martensson, P.; Feenstra, R. M. Phys. Rev. B 1989, 39 (11) 7744-7753
35. Lang, N. D. Phys. Rev. B 1986, 34 (8) 5947-5950
36. Feenstra, R. M.; Stroscio, J. A.; Fein, A. P. Surf. Sci. 1987, 181 (1-2) 295-306
37. Thornton, J. M. C.; Woolf, D. A.; Weightman, P. Appl. Surf. Sci. 1998, 123-124 (0) 115-119
38. Knutsson, J.; Lehmann, S.; Hjort, M.; Timm, R.; Dick, K. A.; Mikkelsen, A. Lund University, Lund, Sweden. Unpublished work, 2013.
39. Jenichen, A.; Engler, C.; Rauschenbach, B. Surf. Sci. 2013, 613, 74-79
40. Ugeda, M. M.; Brihuega, I.; Guinea, F.; Gómez-Rodríguez, J. M. Phys. Rev. Lett. 2010, 104 (9) 096804
41. Heinrich, M.; Domke, C.; Ebert, P.; Urban, K. Phys. Rev. B 1996, 53 (16) 10894-10897
42. Gaan, S.; Feenstra, R. M.; Ebert, P.; Dunin-Borkowski, R. E.; Walker, J.; Towe, E. Surf. Sci. 2012, 606 (1-2) 28-33
43. Siemens, B.; Domke, C.; Ebert, P.; Urban, K. Phys. Rev. B 1999, 59 (4) 3000-3007
44. Ebert, P.; Engels, B.; Richard, P.; Schroeder, K.; Blügel, S.; Domke, C.; Heinrich, M.; Urban, K. Phys. Rev. Lett. 1996, 77 (14) 2997-3000
45. de Raad, G. J.; Bruls, D. M.; Koenraad, P. M.; Wolter, J. H. Phys Rev B 2002, 66 (19) 195306
46. Jäger, N. D.; Ebert, P.; Urban, K.; Krause-Rehberg, R.; Weber, E. R. Phys Rev B 2002, 65 (19) 195318
47. Heinrich, A. J.; Wenderoth, M.; Rosentreter, M. A.; Schneider, M. A.; Ulbrich, R. G. Appl. Phys. Lett. 1997, 70 (4) 449-451
48. de Raad, G. J.; Bruls, D. M.; Koenraad, P. M.; Wolter, J. H. Phys. Rev. B 2001, 64 (7) 075314
49. Feenstra, R. M.; Stroscio, J. A.; Tersoff, J.; Fein, A. P. Phys. Rev. Lett. 1987, 58 (12) 1192-1195
50. Martelli, F.; Piccin, M.; Bais, G.; Jabeen, F.; Ambrosini, S.; Rubini, S.; Franciosi, A. Nanotechnology 2007, 18 (12) 125603
51. Timm, R.; Feenstra, R. M.; Eisele, H.; Lenz, A.; Ivanova, L.; Lenz, E.; Dähne, M. J. Appl. Phys. 2009, 105, 093718
52. Feenstra, R. M.; Dong, Y.; Semtsiv, M. P.; Masselink, W. T. Nanotechnology 2007, 18 (4) 044015
53. Regolin, I.; Gutsche, C.; Lysov, A.; Blekker, K.; Li, Z.-A.; Spasova, M.; Prost, W.; Tegude, F. J. J. Cryst. Growth 2011, 315 (1) 143-147
54. Jäger, N. D.; Urban, K.; Weber, E. R.; Ebert, P. Appl. Phys. Lett. 2003, 82 (16) 2700-2702
55. Feenstra, R. M.; Meyer, G.; Moresco, F.; Rieder, K. H. Phys Rev B 2002, 66, 165204
56. SEMITIP software. http://www.andrew.cmu.edu/user/feenstra/semitip-v6/ (accessed April 1, 2013).
57. Feenstra, R. M.; Lee, J. Y.; Kang, M. H.; Meyer, G.; Rieder, K. H. Phys Rev B 2006, 73, 035310
58. Feenstra, R. M.; Stroscio, J. A. J. Vac. Sci. Technol., B 1987, 5 (4) 923-929