SCOPUS 정보 검색 플랫폼

Chemical Reviews

Volumn 97, Issue 4, 1997, Pages 1017-1044

Cross-sectional scanning tunneling microscopy

(1) Yu, Edward T a

a UNIVERSITY OF CALIFORNIA (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0642385185 PISSN: 00092665 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.1021/cr960084n Document Type: Article

Times cited : (43)

References (144)

1
- 0000006242
- Binnig, G.; Rohrer, H. Helv. Phys. Acta 1982, 55, 726.
- (1982) Helv. Phys. Acta , vol.55 , pp. 726
- Binnig, G.¹ Rohrer, H.²

2
- 4244111185
- Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, Ch.; Weibel, E. Appl. Phys. Lett. 1982, 40, 178.
- (1982) Appl. Phys. Lett. , vol.40 , pp. 178
- Binnig, G.¹ Rohrer, H.² Gerber, Ch.³ Weibel, E.⁴

3
- 34848919386
- Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, Ch.; Weibel, E. Phys. Rev. Lett. 1982, 49, 57.
- (1982) Phys. Rev. Lett. , vol.49 , pp. 57
- Binnig, G.¹ Rohrer, H.² Gerber, Ch.³ Weibel, E.⁴

4
- 49049124137
- Binnig, G.; Rohrer, H. Surf. Sci. 1983, 126, 236.
- (1983) Surf. Sci. , vol.126 , pp. 236
- Binnig, G.¹ Rohrer, H.²

5
- 0012618901
- Binnig, G.; Quate, C. F.; Gerber, Ch. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 930.
- (1986) Phys. Rev. Lett. , vol.56 , pp. 930
- Binnig, G.¹ Quate, C.F.² Gerber, Ch.³

6
- 0000985809
- Feenstra, R. M.; Stroscio, J. A.; Tersoff, J.; Fein, A. P. Phys. Rev. Lett. 1987, 58, 1192.
- (1987) Phys. Rev. Lett. , vol.58 , pp. 1192
- Feenstra, R.M.¹ Stroscio, J.A.² Tersoff, J.³ Fein, A.P.⁴

7
- 0001379442
- Feenstra, R. M.; Stroscio, J. A. J. Vac. Sci. Technol. B 1987, 5, 923.
- (1987) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.5 , pp. 923
- Feenstra, R.M.¹ Stroscio, J.A.²

8
- 0029308527
- Lutz, M. A.; Feenstra, R. M.; Chu, J. O. Surf. Sci. 1995, 328, 215.
- (1995) Surf. Sci. , vol.328 , pp. 215
- Lutz, M.A.¹ Feenstra, R.M.² Chu, J.O.³

9
- 84986685577
- Van Loenen, E. J.; Dijkkamp, D.; Hoeven, A. J. J. Microscopy 1988, 152, 487.
- (1988) J. Microscopy , vol.152 , pp. 487
- Van Loenen, E.J.¹ Dijkkamp, D.² Hoeven, A.J.³

10
- 84957232144
- Dijkkamp, D.; Van Loenen, E. J.; Hoeven, A. J.; Dieleman, J. J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8, 218.
- (1990) J. Vac. Sci. Technol. A , vol.8 , pp. 218
- Dijkkamp, D.¹ Van Loenen, E.J.² Hoeven, A.J.³ Dieleman, J.⁴

11
- 0041552837
- Salemink, H.; Albrektsen, O. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 779.
- (1991) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.9 , pp. 779
- Salemink, H.¹ Albrektsen, O.²

12
- 0041816026
- Gomez-Rodriguez, J. M.; Baro, A. M.; Silveira, J. P.; Vazquez, M.; Gonzalez, Y.; Briones, F. Appl. Phys. Lett. 1990, 56, 36.
- (1990) Appl. Phys. Lett. , vol.56 , pp. 36
- Gomez-Rodriguez, J.M.¹ Baro, A.M.² Silveira, J.P.³ Vazquez, M.⁴ Gonzalez, Y.⁵ Briones, F.⁶

13
- 84896589254
- Unpublished results
- Lew, A. Y.; Yu, E. T. Unpublished results.
- Lew, A.Y.¹ Yu, E.T.²

14
- 0000194128
- Hamers, R. J. Annu. Rev. Phys. Chem. 1989, 40, 531.
- (1989) Annu. Rev. Phys. Chem. , vol.40 , pp. 531
- Hamers, R.J.¹

15
- 0028195541
- Feenstra, R. M. Surf. Sci. 1994, 299/300, 965.
- (1994) Surf. Sci. , vol.299-300 , pp. 965
- Feenstra, R.M.¹

16
- 0001859911
- Stroscio, J. A., Kaiser, W. J., Eds.; Academic Press: San Diego
- Stroscio, J. A.; Feenstra, R. M. In Scanning Tunneling Microscopy; Stroscio, J. A., Kaiser, W. J., Eds.; Academic Press: San Diego, 1993; p 95.
- (1993) Scanning Tunneling Microscopy , pp. 95
- Stroscio, J.A.¹ Feenstra, R.M.²

17
- 0345960143
- Feenstra, R. M.; Stroscio, J. A.; Fein, A. P. Surf. Sci. 1987, 181, 295.
- (1987) Surf. Sci. , vol.181 , pp. 295
- Feenstra, R.M.¹ Stroscio, J.A.² Fein, A.P.³

18
- 4243259886
- Hamers, R. J.; Avouris, Ph.; Bozso, F. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 2071.
- (1987) Phys. Rev. Lett. , vol.59 , pp. 2071
- Hamers, R.J.¹ Avouris, Ph.² Bozso, F.³

19
- 4143141734
- Feenstra, R. M.; Thompson, W. A.; Fein, A. P. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 608.
- (1986) Phys. Rev. Lett. , vol.56 , pp. 608
- Feenstra, R.M.¹ Thompson, W.A.² Fein, A.P.³

20
- 22944467599
- Hamers, R. J.; Tromp, R. M.; Demuth, J. E. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 1972.
- (1986) Phys. Rev. Lett. , vol.56 , pp. 1972
- Hamers, R.J.¹ Tromp, R.M.² Demuth, J.E.³

21
- 3042890171
- Stroscio, J. A.; Feenstra, R. M.; Fein, A. P. Phys. Rev. Lett. 1986, 57, 2579.
- (1986) Phys. Rev. Lett. , vol.57 , pp. 2579
- Stroscio, J.A.¹ Feenstra, R.M.² Fein, A.P.³

22
- 18344373200
- Tersoff, J.; Hamann, D. R. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 1998.
- (1983) Phys. Rev. Lett. , vol.50 , pp. 1998
- Tersoff, J.¹ Hamann, D.R.²

23
- 33744607543
- Tersoff, J.; Hamann, D. R. Phys. Rev. B 1985, 31, 805.
- (1985) Phys. Rev. B , vol.31 , pp. 805
- Tersoff, J.¹ Hamann, D.R.²

24
- 33744572650
- Bardeen, J. Phys. Rev. Lett. 1961, 6, 57.
- (1961) Phys. Rev. Lett. , vol.6 , pp. 57
- Bardeen, J.¹

25
- 0000589240
- Selloni, A.; Carnevali, P.; Tosatti, E.; Chen, C. D. Phys. Rev. B 1985, 31, 2602.
- (1985) Phys. Rev. B , vol.31 , pp. 2602
- Selloni, A.¹ Carnevali, P.² Tosatti, E.³ Chen, C.D.⁴

26
- 26344468999
- Lang, N. D. Phys. Rev. B 1986, 34, 5947.
- (1986) Phys. Rev. B , vol.34 , pp. 5947
- Lang, N.D.¹

27
- 0042316821
- Bono, J.; Good, R. H., Jr. Surf. Sci. 1985, 151, 543.
- (1985) Surf. Sci. , vol.151 , pp. 543
- Bono, J.¹ Good Jr., R.H.²

28
- 0038497783
- Bono, J.; Good, R. H., Jr. Surf. Sci. 1986, 175, 415.
- (1986) Surf. Sci. , vol.175 , pp. 415
- Bono, J.¹ Good Jr., R.H.²

29
- 0000853321
- Mårtensson, P.; Feenstra, R. M. Phys. Rev. B 1989, 39, 7744.
- (1989) Phys. Rev. B , vol.39 , pp. 7744
- Mårtensson, P.¹ Feenstra, R.M.²

30
- 0001453511
- Feenstra, R. M. Phys. Rev. B 1995, 50, 4561.
- (1995) Phys. Rev. B , vol.50 , pp. 4561
- Feenstra, R.M.¹

31
- 84952854564
- Stroscio, J. A.; Feenstra, R. M.; Fein, A. P. J. Vac. Sci. Technol. A 1987, 5, 838.
- (1987) J. Vac. Sci. Technol. A , vol.5 , pp. 838
- Stroscio, J.A.¹ Feenstra, R.M.² Fein, A.P.³

32
- 84909762850
- Stroscio, J. A.; Feenstra, R. M.; Newns, D. M.; Fein, A. P. J. Vac. Sci. Technol. A 1988, 6, 499.
- (1988) J. Vac. Sci. Technol. A , vol.6 , pp. 499
- Stroscio, J.A.¹ Feenstra, R.M.² Newns, D.M.³ Fein, A.P.⁴

33
- 0017516777
- Van Laar, J.; Huijser, A.; Van Rooy, T. L. J. Vac. Sci. Technol. 1977, 14, 894.
- (1977) J. Vac. Sci. Technol. , vol.14 , pp. 894
- Van Laar, J.¹ Huijser, A.² Van Rooy, T.L.³

34
- 0004119329
- Academie-Verlag: Berlin, Chapter 3
- Bechstedt, F.; Enderlein, R. Semiconductor Surfaces and Interfaces; Academie-Verlag: Berlin, 1988; Chapter 3.
- (1988) Semiconductor Surfaces and Interfaces
- Bechstedt, F.¹ Enderlein, R.²

35
- 0016974595
- Gudat, W.; Eastman, D. E. J. Vac. Sci. Technol. 1976, 13, 831.
- (1976) J. Vac. Sci. Technol. , vol.13 , pp. 831
- Gudat, W.¹ Eastman, D.E.²

36
- 0042316811
- Norman, D.; McGovern, I. T.; Norris, C. Phys. Lett. A 1977, 63, 384.
- (1977) Phys. Lett. A , vol.63 , pp. 384
- Norman, D.¹ McGovern, I.T.² Norris, C.³

37
- 84913001284
- Straub, D.; Skibowski, M.; Himpsel, F. J. J. Vac. Sci. Technol. A 1985, 3, 1484.
- (1985) J. Vac. Sci. Technol. A , vol.3 , pp. 1484
- Straub, D.¹ Skibowski, M.² Himpsel, F.J.³

38
- 0006322884
- Muralt, P. Appl. Phys. Lett. 1986, 49, 1441.
- (1986) Appl. Phys. Lett. , vol.49 , pp. 1441
- Muralt, P.¹

39
- 0000508218
- Muralt, P.; Meier, H.; Pohl, D. W.; Salemink, H. W. M. Appl. Phys. Lett. 1987, 50, 1352.
- (1987) Appl. Phys. Lett. , vol.50 , pp. 1352
- Muralt, P.¹ Meier, H.² Pohl, D.W.³ Salemink, H.W.M.⁴

40
- 0022667237
- Muralt, P.; Pohl, D. W. Appl. Phys. Lett. 1986, 48, 514.
- (1986) Appl. Phys. Lett. , vol.48 , pp. 514
- Muralt, P.¹ Pohl, D.W.²

41
- 0042316814
- Salemink, H. W. M.; Meier, H. P.; Ellialtioglu, R.; Gerritsen, J. W.; Muralt, P. R. M. Appl. Phys. Lett. 1989, 54, 1112.
- (1989) Appl. Phys. Lett. , vol.54 , pp. 1112
- Salemink, H.W.M.¹ Meier, H.P.² Ellialtioglu, R.³ Gerritsen, J.W.⁴ Muralt, P.R.M.⁵

42
- 0002581772
- Albrektsen, O.; Arent, D. J.; Meier, H. P.; Salemink, H. W. M. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 31.
- (1990) Appl. Phys. Lett. , vol.57 , pp. 31
- Albrektsen, O.¹ Arent, D.J.² Meier, H.P.³ Salemink, H.W.M.⁴

43
- 0000857788
- Salemink, H. W. M.; Albrektsen, O.; Koenraad, P. Phys. Rev. B 1992, 45, 6946.
- (1992) Phys. Rev. B , vol.45 , pp. 6946
- Salemink, H.W.M.¹ Albrektsen, O.² Koenraad, P.³

44
- 0042054144
- Salemink, H. W. M.; Albrektsen, O. J. Vac. Sci. Technol. B 1992, 10, 1799.
- (1992) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.10 , pp. 1799
- Salemink, H.W.M.¹ Albrektsen, O.²

45
- 0043055872
- Albrektsen, O.; Meier, H. P.; Arent, D. J.; Salemink, H. W. M. Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 2105.
- (1993) Appl. Phys. Lett. , vol.62 , pp. 2105
- Albrektsen, O.¹ Meier, H.P.² Arent, D.J.³ Salemink, H.W.M.⁴

46
- 0012758434
- Zhang, Y.-H.; Chow, D. H. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 3239.
- (1994) Appl. Phys. Lett. , vol.65 , pp. 3239
- Zhang, Y.-H.¹ Chow, D.H.²

47
- 36449009126
- Zhang, Y.-H. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 118.
- (1995) Appl. Phys. Lett. , vol.66 , pp. 118
- Zhang, Y.-H.¹

48
- 0000859536
- Reinhardt, F.; Dwir, B.; Kapon, E. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 3168.
- (1996) Appl. Phys. Lett. , vol.68 , pp. 3168
- Reinhardt, F.¹ Dwir, B.² Kapon, E.³

49
- 0024682955
- Kato, T.; Osaka, F.; Tanaka, I. Jpn. J. Appl. Phys. 1989, 28, 1050.
- (1989) Jpn. J. Appl. Phys. , vol.28 , pp. 1050
- Kato, T.¹ Osaka, F.² Tanaka, I.³

50
- 0026239326
- Salemink, H.; Albrektsen, O. Microelectron. Eng. 1991, 15, 101.
- (1991) Microelectron. Eng. , vol.15 , pp. 101
- Salemink, H.¹ Albrektsen, O.²

51
- 0040660642
- Vandenberg, J. M.; Panish, M. B.; Temkin, H.; Hamm, R. A. Appl. Phys. Lett. 1988, 53, 1920.
- (1988) Appl. Phys. Lett. , vol.53 , pp. 1920
- Vandenberg, J.M.¹ Panish, M.B.² Temkin, H.³ Hamm, R.A.⁴

52
- 0041314565
- Chang, J. C. P.; Chin, T. P.; Kavanagh, K. L.; Tu, C. W. Appl. Phys. Lett. 1991, 58, 1530.
- (1991) Appl. Phys. Lett. , vol.58 , pp. 1530
- Chang, J.C.P.¹ Chin, T.P.² Kavanagh, K.L.³ Tu, C.W.⁴

53
- 0041646089
- Ourmazd, A.; Tsang, W. T.; Rentschler, J. A.; Taylor, D. W. Appl. Phys. Lett. 1987, 50, 1417.
- (1987) Appl. Phys. Lett. , vol.50 , pp. 1417
- Ourmazd, A.¹ Tsang, W.T.² Rentschler, J.A.³ Taylor, D.W.⁴

54
- 0011199795
- Ourmazd, A.; Taylor, D. W.; Cunningham, J.; Tu, C. W. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 933.
- (1989) Phys. Rev. Lett. , vol.62 , pp. 933
- Ourmazd, A.¹ Taylor, D.W.² Cunningham, J.³ Tu, C.W.⁴

55
- 0025668776
- Ourmazd, A.; Baumann, F. H.; Bode, M.; Kim, Y. Ultramicroscopy 1990, 34, 237.
- (1990) Ultramicroscopy , vol.34 , pp. 237
- Ourmazd, A.¹ Baumann, F.H.² Bode, M.³ Kim, Y.⁴

56
- 84911267575
- Tanaka, I.; Kato, T.; Ohkouchi, S.; Osaka, F. J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8, 567.
- (1990) J. Vac. Sci. Technol. A , vol.8 , pp. 567
- Tanaka, I.¹ Kato, T.² Ohkouchi, S.³ Osaka, F.⁴

57
- 0041816026
- Gomez-Rodriguez, J. M.; Baro, A. M.; Silveira, J. P.; Vazquez, M.; Gonzalez, Y.; Briones, F. Appl. Phys. Lett. 1990, 56, 36.
- (1990) Appl. Phys. Lett. , vol.56 , pp. 36
- Gomez-Rodriguez, J.M.¹ Baro, A.M.² Silveira, J.P.³ Vazquez, M.⁴ Gonzalez, Y.⁵ Briones, F.⁶

58
- 0002581772
- Albrektsen, O.; Arent, D. J.; Meier, H. P.; Salemink, H. W. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 31.
- (1990) Appl. Phys. Lett. , vol.57 , pp. 31
- Albrektsen, O.¹ Arent, D.J.² Meier, H.P.³ Salemink, H.W.⁴

59
- 0042054144
- Salemink, H. W. M.; Albrektsen, O. J. Vac. Sci. Technol. B 1992, 10, 1799.
- (1992) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.10 , pp. 1799
- Salemink, H.W.M.¹ Albrektsen, O.²

60
- 0000321128
- Johnson, M. B.; Maier, U.; Meier, H.-P.; Salemink, H. W. M. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 1273.
- (1993) Appl. Phys. Lett. , vol.63 , pp. 1273
- Johnson, M.B.¹ Maier, U.² Meier, H.-P.³ Salemink, H.W.M.⁴

61
- 0000886001
- Smith, A. R.; Gwo, S.; Sadra, K.; Shih, Y. C.; Streetman, B. G.; Shih, C. K. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 2610.
- (1994) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.12 , pp. 2610
- Smith, A.R.¹ Gwo, S.² Sadra, K.³ Shih, Y.C.⁴ Streetman, B.G.⁵ Shih, C.K.⁶

62
- 36449005225
- Smith, A. R.; Chao, K.-J.; Shih, C. K.; Shih, Y. C.; Streetman, B. G. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 478.
- (1995) Appl. Phys. Lett. , vol.66 , pp. 478
- Smith, A.R.¹ Chao, K.-J.² Shih, C.K.³ Shih, Y.C.⁴ Streetman, B.G.⁵

63
- 0142116667
- Smith, A. R.; Chao, K.-J.; Shih, C. K.; Shih, Y. C.; Anselm, K. A.; Streetman, B. G. J. Vac. Sci. Technol. B 1995, 13, 1824.
- (1995) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.13 , pp. 1824
- Smith, A.R.¹ Chao, K.-J.² Shih, C.K.³ Shih, Y.C.⁴ Anselm, K.A.⁵ Streetman, B.G.⁶

64
- 12044259754
- Zheng, J. F.; Walker, J. D.; Salmeron, M. B.; Weber, E. R. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 2414. Zheng, J. F.; Walker, J. D.; Salmeron, M. B.; Weber, E. R. Phys. Rev. Lett. 1994, 73, 368.
- (1994) Phys. Rev. Lett. , vol.72 , pp. 2414
- Zheng, J.F.¹ Walker, J.D.² Salmeron, M.B.³ Weber, E.R.⁴

65
- 7444259094
- Zheng, J. F.; Walker, J. D.; Salmeron, M. B.; Weber, E. R. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 2414. Zheng, J. F.; Walker, J. D.; Salmeron, M. B.; Weber, E. R. Phys. Rev. Lett. 1994, 73, 368.
- (1994) Phys. Rev. Lett. , vol.73 , pp. 368
- Zheng, J.F.¹ Walker, J.D.² Salmeron, M.B.³ Weber, E.R.⁴

66
- 0001536734
- Pfister, M.; Johnson, M. B.; Alvarado, S. F.; Salemink, H. W. M.; Marti, U.; Martin, D.; Morier-Genoud, F.; Reinhart, F. K. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 1459.
- (1995) Appl. Phys. Lett. , vol.67 , pp. 1459
- Pfister, M.¹ Johnson, M.B.² Alvarado, S.F.³ Salemink, H.W.M.⁴ Marti, U.⁵ Martin, D.⁶ Morier-Genoud, F.⁷ Reinhart, F.K.⁸

67
- 0347292380
- Tuttle, G.; Kroemer, H.; English, J. H. J. Appl. Phys. 1990, 67, 3032.
- (1990) J. Appl. Phys. , vol.67 , pp. 3032
- Tuttle, G.¹ Kroemer, H.² English, J.H.³

68
- 0028443019
- Brar, B.; Ibbetson, J.; Kroemer, H.; English, J. H. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 3392.
- (1994) Appl. Phys. Lett. , vol.64 , pp. 3392
- Brar, B.¹ Ibbetson, J.² Kroemer, H.³ English, J.H.⁴

69
- 0009455553
- Chow, D. H.; Miles, R. H.; Hunter, A. T. J. Vac. Sci. Technol. B 1992, 10, 888.
- (1992) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.10 , pp. 888
- Chow, D.H.¹ Miles, R.H.² Hunter, A.T.³

70
- 12044251581
- Feenstra, R. M.; Collins, D. A.; Ting, D. Z.-Y.; Wang, M. W.; McGill, T. C. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 2749.
- (1994) Phys. Rev. Lett. , vol.72 , pp. 2749
- Feenstra, R.M.¹ Collins, D.A.² Ting, D.Z.-Y.³ Wang, M.W.⁴ McGill, T.C.⁵

71
- 0001655516
- Feenstra, R. M.; Collins, D. A.; Ting, D. Z.-Y.; Wang, M. W.; McGill, T. C. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 2592.
- (1994) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.12 , pp. 2592
- Feenstra, R.M.¹ Collins, D.A.² Ting, D.Z.-Y.³ Wang, M.W.⁴ McGill, T.C.⁵

72
- 0028712017
- Feenstra, R. M.; Collins, D. A.; McGill, T. C. Superlattices Microstruct. 1994, 15, 215.
- (1994) Superlattices Microstruct. , vol.15 , pp. 215
- Feenstra, R.M.¹ Collins, D.A.² McGill, T.C.³

73
- 0005931995
- Lew, A. Y.; Yu, E. T.; Chow, D. H.; Miles, R. H. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 201.
- (1994) Appl. Phys. Lett. , vol.65 , pp. 201
- Lew, A.Y.¹ Yu, E.T.² Chow, D.H.³ Miles, R.H.⁴

74
- 0028554814
- Lew, A. Y.; Yu, E. T.; Chow, D. H.; Miles, R. H. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 1994, 340, 237.
- (1994) Mat. Res. Soc. Symp. Proc. , vol.340 , pp. 237
- Lew, A.Y.¹ Yu, E.T.² Chow, D.H.³ Miles, R.H.⁴

75
- 0002237697
- Lew, A. Y.; Zuo, S. L.; Yu, E. T.; Miles, R. H. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 75.
- (1997) Appl. Phys. Lett. , vol.70 , pp. 75
- Lew, A.Y.¹ Zuo, S.L.² Yu, E.T.³ Miles, R.H.⁴

76
- 0001275769
- Goodnick, S. M.; Ferry, D. K.; Wilmsen, C. W.; Liliental, Z.; Fathy, D.; Krivanek, O. Phys. Rev. B 1985, 32, 8171.
- (1985) Phys. Rev. B , vol.32 , pp. 8171
- Goodnick, S.M.¹ Ferry, D.K.² Wilmsen, C.W.³ Liliental, Z.⁴ Fathy, D.⁵ Krivanek, O.⁶

77
- 21544479170
- Pashley, M. D.; Haberern, K. W.; Gaines, J. M. Appl. Phys. Lett. 1991, 58, 406.
- (1991) Appl. Phys. Lett. , vol.58 , pp. 406
- Pashley, M.D.¹ Haberern, K.W.² Gaines, J.M.³

78
- 3643145580
- Sudijono, J.; Johnson, M. D.; Snyder, C. W.; Elowitz, M. B.; Orr, B. G. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 2811.
- (1992) Phys. Rev. Lett. , vol.69 , pp. 2811
- Sudijono, J.¹ Johnson, M.D.² Snyder, C.W.³ Elowitz, M.B.⁴ Orr, B.G.⁵

79
- 0000591740
- Heller, E. J.; Lagally, M. G. Appl. Phys. Lett. 1992, 60, 2675.
- (1992) Appl. Phys. Lett. , vol.60 , pp. 2675
- Heller, E.J.¹ Lagally, M.G.²

80
- 0042010285
- Pond, K.; Maboudian, R.; Bressler-Hill, V.; Leonard, D.; Wang, X.-S.; Self, K.; Weinberg, W. H.; Petroff, P. M. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 11, 1374.
- (1993) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.11 , pp. 1374
- Pond, K.¹ Maboudian, R.² Bressler-Hill, V.³ Leonard, D.⁴ Wang, X.-S.⁵ Self, K.⁶ Weinberg, W.H.⁷ Petroff, P.M.⁸

81
- 0026900115
- Tanimoto, M.; Osaka, J.; Takigami, T.; Hirono, S.; Kanisawa, K. Ultramicroscopy 1992, 42, 1275.
- (1992) Ultramicroscopy , vol.42 , pp. 1275
- Tanimoto, M.¹ Osaka, J.² Takigami, T.³ Hirono, S.⁴ Kanisawa, K.⁵

82
- 0027146838
- Miles, R. H.; Schulman, J. N.; Chow, D. H.; McGill, T. C. Semicond. Sci. Technol. 1993, 8, S102.
- (1993) Semicond. Sci. Technol. , vol.8
- Miles, R.H.¹ Schulman, J.N.² Chow, D.H.³ McGill, T.C.⁴

83
- 0000500662
- Wang, M. W.; Collins, D. A.; McGill, T. C.; Grant, R. W. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 11, 1418.
- (1993) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.11 , pp. 1418
- Wang, M.W.¹ Collins, D.A.² McGill, T.C.³ Grant, R.W.⁴

84
- 0009359089
- Collins, D. A.; Wang, M. W.; Grant, R. W.; McGill, T. C. J. Appl. Phys. 1994, 75, 259.
- (1994) J. Appl. Phys. , vol.75 , pp. 259
- Collins, D.A.¹ Wang, M.W.² Grant, R.W.³ McGill, T.C.⁴

85
- 0001717377
- Miles, R. H.; Chow, D. H.; Hamilton, W. J. J. Appl. Phys. 1992, 71, 211.
- (1992) J. Appl. Phys. , vol.71 , pp. 211
- Miles, R.H.¹ Chow, D.H.² Hamilton, W.J.³

86
- 4143138259
- Lew, A. Y.; Yu, E. T.; Zhang, Y.-H. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 2940.
- (1996) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.14 , pp. 2940
- Lew, A.Y.¹ Yu, E.T.² Zhang, Y.-H.³

87
- 0024036118
- Osaka, F.; Tanaka, I.; Kato, T.; Katayama, Y. Jpn. J. Appl. Phys. 1988, 27, L1193.
- (1988) Jpn. J. Appl. Phys. , vol.27
- Osaka, F.¹ Tanaka, I.² Kato, T.³ Katayama, Y.⁴

88
- 0042316807
- Osaka, F.; Kato, T. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 11, 1697.
- (1993) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.11 , pp. 1697
- Osaka, F.¹ Kato, T.²

89
- 0001539203
- Salemink, H. W. M.; Albrektsen, O. Phys. Rev. B 1993, 47, 16044.
- (1993) Phys. Rev. B , vol.47 , pp. 16044
- Salemink, H.W.M.¹ Albrektsen, O.²

90
- 0029277570
- Skala, S. L.; Wu, W.; Tucker, J. R.; Lyding, J. W.; Seabaugh, A.; Beam, E. A., III; Jovanovic, D. J. Vac. Sci. Technol. B 1995, 13, 660.
- (1995) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.13 , pp. 660
- Skala, S.L.¹ Wu, W.² Tucker, J.R.³ Lyding, J.W.⁴ Seabaugh, A.⁵ Beam III, E.A.⁶ Jovanovic, D.⁷

91
- 21844494490
- Wu, W.; Skala, S. L.; Tucker, J. R.; Lyding, J. W.; Seabaugh, A.; Beam, E. A., III; Jovanovic, D. J. Vac. Sci. Technol. A 1995, 13, 602.
- (1995) J. Vac. Sci. Technol. A , vol.13 , pp. 602
- Wu, W.¹ Skala, S.L.² Tucker, J.R.³ Lyding, J.W.⁴ Seabaugh, A.⁵ Beam III, E.A.⁶ Jovanovic, D.⁷

92
- 0041680360
- Lew, A. Y.; Yan, C. H.; Tu, C. W.; Yu, E. T. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 932.
- (1995) Appl. Phys. Lett. , vol.67 , pp. 932
- Lew, A.Y.¹ Yan, C.H.² Tu, C.W.³ Yu, E.T.⁴

93
- 84896587719
- in press
- Lew, A. Y.; Yan, C. H.; Welstand, R. B.; Zhu, J. T.; Tu, C. W.; Yu, E. T.; Yu, P. K. L. J. Electron. Mater. 1997, in press.
- (1997) J. Electron. Mater.
- Lew, A.Y.¹ Yan, C.H.² Welstand, R.B.³ Zhu, J.T.⁴ Tu, C.W.⁵ Yu, E.T.⁶ Yu, P.K.L.⁷

94
- 0017518859
- Harrison, W. A. J. Vac. Sci. Technol. 1977, 14, 1016.
- (1977) J. Vac. Sci. Technol. , vol.14 , pp. 1016
- Harrison, W.A.¹

95
- 84896589795
- Unpublished results
- Lew, A. Y.; Yu, E. T. Unpublished results.
- Lew, A.Y.¹ Yu, E.T.²

96
- 0003539448
- J. Wiley and Sons: New York
- Adachi, S. Physical Properties of III-V Semiconductor Compounds; J. Wiley and Sons: New York, 1992.
- (1992) Physical Properties of III-V Semiconductor Compounds
- Adachi, S.¹

97
- 0003395029
- Springer: New York, New Series III
- Madelung, O., Ed. Landolt-Börnstein: Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology; Springer: New York, 1982; New Series III, Vol. 17. O. Madelung, ed., Landolt-Börnstein: Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology; Springer: New York, 1987; New Series III, Vol 22.
- (1982) Landolt-Börnstein: Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology , vol.17
- Madelung, O.¹

98
- 0003395029
- Springer: New York, New Series III
- Madelung, O., Ed. Landolt-Börnstein: Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology; Springer: New York, 1982; New Series III, Vol. 17. O. Madelung, ed., Landolt-Börnstein: Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology; Springer: New York, 1987; New Series III, Vol 22.
- (1987) Landolt-Börnstein: Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology , vol.22
- Madelung, O.¹

99
- 33750668607
- Van de Walle, C. G. Phys. Rev. B 1989, 39, 1871.
- (1989) Phys. Rev. B , vol.39 , pp. 1871
- Van De Walle, C.G.¹

100
- 4244003334
- Gwo, S.; Chao, K. J.; Shih, C. K.; Sadra, K.; Streetman, B. G. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 1883.
- (1993) Phys. Rev. Lett. , vol.71 , pp. 1883
- Gwo, S.¹ Chao, K.J.² Shih, C.K.³ Sadra, K.⁴ Streetman, B.G.⁵

101
- 0041315484
- Pinnington, T.; Patitsas, S. N.; Lavoie, C.; Sanderson, A.; Tiedje, T. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 11, 908.
- (1993) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.11 , pp. 908
- Pinnington, T.¹ Patitsas, S.N.² Lavoie, C.³ Sanderson, A.⁴ Tiedje, T.⁵

102
- 0000519736
- Feenstra, R. M.; Yu, E. T.; Woodall, J. M.; Kirchner, P. D.; Lin, C. L.; Pettit, G. D. Appl. Phys. Lett. 1992, 61, 795.
- (1992) Appl. Phys. Lett. , vol.61 , pp. 795
- Feenstra, R.M.¹ Yu, E.T.² Woodall, J.M.³ Kirchner, P.D.⁴ Lin, C.L.⁵ Pettit, G.D.⁶

103
- 0009345170
- Gwo, S.; Smith, A. R.; Shih, C. K.; Sadra, K.; Streetman, B. G. Appl. Phys. Lett. 1992, 61, 1104.
- (1992) Appl. Phys. Lett. , vol.61 , pp. 1104
- Gwo, S.¹ Smith, A.R.² Shih, C.K.³ Sadra, K.⁴ Streetman, B.G.⁵

104
- 0001550576
- Salemink, H. W. M., Pashley, M. D., Eds.; Kluwer Academic Publishers: Dordrecht
- Feenstra, R. M.; Vaterlaus, A.; Yu, E. T.; Kirchner, P. D.; Lin, C. L.; Woodall, J. M.; Pettit, G. D. In Salemink, H. W. M., Pashley, M. D., Eds.; Semiconductor Interfaces at the Sub-Nanometer Scale; Kluwer Academic Publishers: Dordrecht, 1993; p. 127.
- (1993) Semiconductor Interfaces at the Sub-Nanometer Scale , pp. 127
- Feenstra, R.M.¹ Vaterlaus, A.² Yu, E.T.³ Kirchner, P.D.⁴ Lin, C.L.⁵ Woodall, J.M.⁶ Pettit, G.D.⁷

105
- 0000644448
- Vaterlaus, A.; Feenstra, R. M.; Kirchner, P. D.; Woodall, J. M.; Pettit, G. D. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 11, 1502.
- (1993) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.11 , pp. 1502
- Vaterlaus, A.¹ Feenstra, R.M.² Kirchner, P.D.³ Woodall, J.M.⁴ Pettit, G.D.⁵

106
- 0038160241
- Tseng, W. F.; Dagata, J. A.; Silver, R. M.; Fu, J.; Lowney, J. R. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 373.
- (1994) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.12 , pp. 373
- Tseng, W.F.¹ Dagata, J.A.² Silver, R.M.³ Fu, J.⁴ Lowney, J.R.⁵

107
- 26144470793
- Johnson, M. B.; Albrektsen, O.; Feenstra, R. M.; Salemink, H. W. M. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 2923.
- (1993) Appl. Phys. Lett. , vol.63 , pp. 2923
- Johnson, M.B.¹ Albrektsen, O.² Feenstra, R.M.³ Salemink, H.W.M.⁴

108
- 0001123583
- Johnson, M. B.; Albrektsen, O.; Feenstra, R. M.; Salemink, H. W. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 1454.
- (1994) Appl. Phys. Lett. , vol.64 , pp. 1454
- Johnson, M.B.¹ Albrektsen, O.² Feenstra, R.M.³ Salemink, H.W.⁴

109
- 0001029776
- Johnson, M. B.; Meier, H. P.; Salemink, H. W. M. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 3636.
- (1993) Appl. Phys. Lett. , vol.63 , pp. 3636
- Johnson, M.B.¹ Meier, H.P.² Salemink, H.W.M.³

110
- 0000141341
- Johnson, M. B.; Koenraad, P. M.; van der Vleuten, W. C.; Salemink, H. W. M.; Wolter, J. H. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 1606.
- (1995) Phys. Rev. Lett. , vol.75 , pp. 1606
- Johnson, M.B.¹ Koenraad, P.M.² Van Der Vleuten, W.C.³ Salemink, H.W.M.⁴ Wolter, J.H.⁵

111
- 0001089046
- Zheng, J. F.; Liu, X.; Weber, E. R.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 2104.
- (1994) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.12 , pp. 2104
- Zheng, J.F.¹ Liu, X.² Weber, E.R.³ Ogletree, D.F.⁴ Salmeron, M.⁵

112
- 0001123584
- Zheng, Z. F.; Salmeron, M. B.; Weber, E. R. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 1836.
- (1994) Appl. Phys. Lett. , vol.64 , pp. 1836
- Zheng, Z.F.¹ Salmeron, M.B.² Weber, E.R.³

113
- 0001299246
- Feenstra, R. M.; Woodall, J. M.; Pettit, G. D. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 1176.
- (1993) Phys. Rev. Lett. , vol.71 , pp. 1176
- Feenstra, R.M.¹ Woodall, J.M.² Pettit, G.D.³

114
- 21544442937
- Feenstra, R. M.; Vaterlaus, A.; Woodall, J. M.; Pettit, G. D. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 2528.
- (1993) Appl. Phys. Lett. , vol.63 , pp. 2528
- Feenstra, R.M.¹ Vaterlaus, A.² Woodall, J.M.³ Pettit, G.D.⁴

115
- 0022080294
- Sakaki, H.; Tanaka, M.; Yoshino, J. Jpn. J. Appl. Phys. 1985, 24, L417.
- (1985) Jpn. J. Appl. Phys. , vol.24
- Sakaki, H.¹ Tanaka, M.² Yoshino, J.³

116
- 0022667422
- Tanaka, M.; Sakaki, H. J. Cryst. Growth 1987, 81, 153.
- (1987) J. Cryst. Growth , vol.81 , pp. 153
- Tanaka, M.¹ Sakaki, H.²

117
- 22244461409
- Abraham, D. L.; Veider, A.; Schönenberger, Ch.; Meier, H. P.; Arent, D. J.; Alvarado, S. F. Appl. Phys. Lett. 1990, 56, 1564.
- (1990) Appl. Phys. Lett. , vol.56 , pp. 1564
- Abraham, D.L.¹ Veider, A.² Schönenberger, Ch.³ Meier, H.P.⁴ Arent, D.J.⁵ Alvarado, S.F.⁶

118
- 0001413796
- Alvarado, S. F.; Renaud, Ph.; Abraham, D. L.; Schönenberger, Ch.; Arent, D. J.; Meier, H. P. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 409.
- (1991) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.9 , pp. 409
- Alvarado, S.F.¹ Renaud, Ph.² Abraham, D.L.³ Schönenberger, Ch.⁴ Arent, D.J.⁵ Meier, H.P.⁶

119
- 0001621734
- Renaud, Ph.; Alvarado, S. F. Phys. Rev. B 1991, 44, 6340.
- (1991) Phys. Rev. B , vol.44 , pp. 6340
- Renaud, Ph.¹ Alvarado, S.F.²

120
- 0029308527
- Lutz, M. A.; Feenstra, R. M.; Chu, J. O. Surf. Sci. 1995, 328, 215.
- (1995) Surf. Sci. , vol.328 , pp. 215
- Lutz, M.A.¹ Feenstra, R.M.² Chu, J.O.³

121
- 0000333809
- Johnson, M. B.; Halbout, J.-M. J. Vac. Sci. Technol. B 1992, 10, 508.
- (1992) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.10 , pp. 508
- Johnson, M.B.¹ Halbout, J.-M.²

122
- 0000675572
- Yu, E. T.; Johnson, M. B.; Halbout, J.-M. Appl. Phys. Lett. 1992, 61, 201.
- (1992) Appl. Phys. Lett. , vol.61 , pp. 201
- Yu, E.T.¹ Johnson, M.B.² Halbout, J.-M.³

123
- 36449002884
- Yu, E. T.; Halbout, J.-M.; Powell, A. R.; Iyer, S. S. Appl. Phys. Lett. 1992, 61, 3166.
- (1992) Appl. Phys. Lett. , vol.61 , pp. 3166
- Yu, E.T.¹ Halbout, J.-M.² Powell, A.R.³ Iyer, S.S.⁴

124
- 0000984787
- Yu, E. T.; Barmak, K.; Ronsheim, P.; Johnson, M. B.; McFarland, P.; Halbout, J.-M. J. Appl. Phys. 1996, 79, 2115.
- (1996) J. Appl. Phys. , vol.79 , pp. 2115
- Yu, E.T.¹ Barmak, K.² Ronsheim, P.³ Johnson, M.B.⁴ McFarland, P.⁵ Halbout, J.-M.⁶

125
- 0003601176
- Pinnington, T.; Sanderson, A.; Tiedje, T.; Pearsall, T. P.; Kasper, E.; Presting, H. Thin Solid Films 1992, 222, 259.
- (1992) Thin Solid Films , vol.222 , pp. 259
- Pinnington, T.¹ Sanderson, A.² Tiedje, T.³ Pearsall, T.P.⁴ Kasper, E.⁵ Presting, H.⁶

126
- 0041815103
- Yu, E. T.; Johnson, M. B.; Powell, A. R.; Halbout, J.-M.; Iyer, S. S. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 11, 1149.
- (1993) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.11 , pp. 1149
- Yu, E.T.¹ Johnson, M.B.² Powell, A.R.³ Halbout, J.-M.⁴ Iyer, S.S.⁵

127
- 21544460483
- Higashi, G. S.; Becker, R. S.; Chabal, Y. J.; Becker, A. J. Appl. Phys. Lett. 1991, 58, 1656.
- (1991) Appl. Phys. Lett. , vol.58 , pp. 1656
- Higashi, G.S.¹ Becker, R.S.² Chabal, Y.J.³ Becker, A.J.⁴

128
- 36549100702
- Williams, C. C.; Slinkman, J.; Hough, W. P.; Wickramasinghe, H. K. Appl. Phys. Lett. 1989, 55, 1662.
- (1989) Appl. Phys. Lett. , vol.55 , pp. 1662
- Williams, C.C.¹ Slinkman, J.² Hough, W.P.³ Wickramasinghe, H.K.⁴

129
- 84955042058
- Williams, C. C.; Slinkman, J.; Hough, W. P.; Wickramasinghe, H. K. J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8, 895.
- (1990) J. Vac. Sci. Technol. A , vol.8 , pp. 895
- Williams, C.C.¹ Slinkman, J.² Hough, W.P.³ Wickramasinghe, H.K.⁴

130
- 36449008512
- Huang, Y.; Williams, C. C.; Slinkman, J. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 344.
- (1995) Appl. Phys. Lett. , vol.66 , pp. 344
- Huang, Y.¹ Williams, C.C.² Slinkman, J.³

131
- 0001352949
- Huang, Y.; Williams, C. C.; Smith, H. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 433.
- (1996) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.14 , pp. 433
- Huang, Y.¹ Williams, C.C.² Smith, H.³

132
- 0000849397
- Neubauer, G.; Erickson, A.; Williams, C. C.; Kopanski, J. J.; Rodgers, M.; Adderton, D. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 426.
- (1996) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.14 , pp. 426
- Neubauer, G.¹ Erickson, A.² Williams, C.C.³ Kopanski, J.J.⁴ Rodgers, M.⁵ Adderton, D.⁶

133
- 36449005867
- Shafai, C.; Thomson, D. J.; Simard-Normandin, M.; Mattiussi, G.; Scanlon, P. J. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 342.
- (1994) Appl. Phys. Lett. , vol.64 , pp. 342
- Shafai, C.¹ Thomson, D.J.² Simard-Normandin, M.³ Mattiussi, G.⁴ Scanlon, P.J.⁵

134
- 0000025526
- Shafai, C.; Thomson, D. J.; Simard-Normandin, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 378.
- (1994) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.12 , pp. 378
- Shafai, C.¹ Thomson, D.J.² Simard-Normandin, M.³

135
- 0010836634
- DeWolf, P.; Clarysse, T.; Vandervorst, W.; Snauwaert, J.; Hellemans, L. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 380.
- (1996) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.14 , pp. 380
- DeWolf, P.¹ Clarysse, T.² Vandervorst, W.³ Snauwaert, J.⁴ Hellemans, L.⁵

136
- 0026896885
- Nonnenmacher, M.; O'Boyle, M.; Wickramasinghe, H. K. Ultramicroscopy 1992, 42-44, 268.
- (1992) Ultramicroscopy , vol.42-44 , pp. 268
- Nonnenmacher, M.¹ O'Boyle, M.² Wickramasinghe, H.K.³

137
- 36448999364
- Henning, A. K.; Hochwitz, T.; Slinkman, J.; Never, J.; Hoffman, S.; Kaszuba, P.; Daghlian, C. J. Appl. Phys. 1995, 77, 1888.
- (1995) J. Appl. Phys. , vol.77 , pp. 1888
- Henning, A.K.¹ Hochwitz, T.² Slinkman, J.³ Never, J.⁴ Hoffman, S.⁵ Kaszuba, P.⁶ Daghlian, C.⁷

138
- 69749102494
- Kikukawa, A.; Hosaka, S.; Imura, R. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 3510.
- (1995) Appl. Phys. Lett. , vol.66 , pp. 3510
- Kikukawa, A.¹ Hosaka, S.² Imura, R.³

139
- 0009333287
- Hochwitz, T.; Henning, A. K.; Levey, C.; Daghlian, C.; Slinkman, J.; Never, J.; Kaszuba, P.; Gluck, R.; Wells, R.; Pekarik, J.; Finch, R. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 440.
- (1996) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.14 , pp. 440
- Hochwitz, T.¹ Henning, A.K.² Levey, C.³ Daghlian, C.⁴ Slinkman, J.⁵ Never, J.⁶ Kaszuba, P.⁷ Gluck, R.⁸ Wells, R.⁹ Pekarik, J.¹⁰ Finch, R.¹¹

140
- 0001680985
- Abraham, D. W.; Williams, C.; Slinkman, J.; Wickramasinghe, H. K. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 703.
- (1991) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.9 , pp. 703
- Abraham, D.W.¹ Williams, C.² Slinkman, J.³ Wickramasinghe, H.K.⁴

141
- 0003065153
- Weaver, J. M. R.; Wickramasinghe, H. K. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 1562.
- (1991) J. Vac. Sci. Technol. B , vol.9 , pp. 1562
- Weaver, J.M.R.¹ Wickramasinghe, H.K.²

142
- 0000420415
- Bourgoin, J.-P.; Johnson, M. B.; Michel, B. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 2045.
- (1994) Appl. Phys. Lett. , vol.65 , pp. 2045
- Bourgoin, J.-P.¹ Johnson, M.B.² Michel, B.³

143
- 0013435571
- Kordic, S.; Van Loenen, E. J.; Dijkkamp, D.; Hoeven A. J.; Moraal, H. K. J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8, 549.
- (1990) J. Vac. Sci. Technol. A , vol.8 , pp. 549
- Kordic, S.¹ Van Loenen, E.J.² Dijkkamp, D.³ Hoeven, A.J.⁴ Moraal, H.K.⁵

144
- 0001105121
- Kordic, S.; Van Loenen, E. J.; Walker, A. J. Appl. Phys. Lett. 1991, 59, 3154.
- (1991) Appl. Phys. Lett. , vol.59 , pp. 3154
- Kordic, S.¹ Van Loenen, E.J.² Walker, A.J.³

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.