Photochemical grafting and patterning of organic monolayers on indium tin oxide substrates

Langmuir

Volumn 28, Issue 12, 2012, Pages 5350-5359

  Li, Yan ^a   Zuilhof, Han ^a,b  

^a WAGENINGEN UNIVERSITY   (Netherlands)

^b KING ABDULAZIZ UNIVERSITY   (Saudi Arabia)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

1-ALKENES; ACTIVE INTERFACE; ATOMIC FORCE MICROSCOPIES (AFM); AZIDO GROUP; DEPROTECTION; DIRECT-PATTERNING; ELECTRONIC DEVICE; FUNCTIONALIZED; INDIUM TIN OXIDE; INDIUM TIN OXIDE SUBSTRATES; MILD REACTION CONDITIONS; ONE POT; ORGANIC LAYERS; ORGANIC MONOLAYERS; ROOM TEMPERATURE; SIMPLE APPROACH; STATIC WATER; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPIES (XPS);

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CONTACT ANGLE; GERMANIUM; INDIUM COMPOUNDS; MONOLAYERS; OLEFINS; ORGANIC CHEMICALS; TIN; TIN OXIDES; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

GRAFTING (CHEMICAL);

EID: 84859128649     PISSN: 07437463     EISSN: 15205827     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la204980f     Document Type: Article

References (57)

1. Burroughes, J. H.; Bradley, D. D. C.; Brown, A. R.; Marks, R. N.; Mackay, K.; Friend, R. H.; Burns, P. L.; Holmes, A. B. Nature 1990, 347, 539-541
2. Sharma, A.; Kippelen, B.; Hotchkiss, P. J.; Marder, S. R. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 163308-163303
3. Tang, C. W.; VanSlyke, S. A.; Chen, C. H. J. Appl. Phys. 1989, 65, 3610-3616
4. Zhou, Y.; Cheun, H.; Potscavage, J. W. J.; Fuentes-Hernandez, C.; Kim, S.-J.; Kippelen, B. J. Mater. Chem. 2010, 20, 6189-6194
5. Asanov, A. N.; Wilson, W. W.; Oldham, P. B. Anal. Chem. 1998, 70, 1156-1163
6. Moore, E. J.; Curtin, M.; Ionita, J.; Maguire, A. R.; Ceccone, G.; Galvin, P. Anal. Chem. 2007, 79, 2050-2057
7. Kimmel, D. W.; LeBlanc, G.; Meschievitz, M. E.; Cliffel, D. E. Anal. Chem. 2011, [Online early access] DOI: 10.1021/ac202878q.
8. Simão, C.; Mas-Torrent, M.; Crivillers, N.; Lloveras, V.; Artés, J. M.; Gorostiza, P.; Veciana, J.; Rovira, C. Nat. Chem. 2011, 3, 359-364
9. Khodabakhsh, S.; Sanderson, B. M.; Nelson, J.; Jones, T. S. Adv. Funct. Mater. 2006, 16, 95-100
10. Yu, S.-Y.; Huang, D.-C.; Chen, Y.-L.; Wu, K.-Y.; Tao, Y.-T. Langmuir 2011, 28, 424-430
11. Schlapak, R.; Armitage, D.; Saucedo-Zeni, N.; Hohage, M.; Howorka, S. Langmuir 2007, 23, 10244-10253
12. Shah, S. S.; Howland, M. C.; Chen, L.-J.; Silangcruz, J.; Verkhoturov, S. V.; Schweikert, E. A.; Parikh, A. N.; Revzin, A. ACS Appl. Mater. Interfaces 2009, 1, 2592-2601
13. Chockalingam, M.; Darwish, N.; Le Saux, G.; Gooding, J. J. Langmuir 2011, 27, 2545-2552
14. Kim, B. Y.; Ratcliff, E. L.; Armstrong, N. R.; Kowalewski, T.; Pyun, J. Langmuir 2009, 26, 2083-2092
15. Sharma, A.; Haldi, A.; Potscavage, W. J., Jr; Hotchkiss, P. J.; Marder, S. R.; Kippelen, B. J. Mater. Chem. 2009, 19, 5298-5302
16. Maldonado, S.; Smith, T. J.; Williams, R. D.; Morin, S.; Barton, E.; Stevenson, K. J. Langmuir 2006, 22, 2884-2891
17. Span, A. R.; Bruner, E. L.; Bernasek, S. L.; Schwartz, J. Langmuir 2001, 17, 948-952
18. Cerruti, M.; Rhodes, C.; Losego, M.; Efremenko, A.; Maria, J.-P.; Fischer, D.; Franzen, S.; Genzer, J. J. Phys. D: Appl. Phys. 2007, 40, 4212
19. Hotchkiss, P. J.; Jones, S. C.; Paniagua, S. A.; Sharma, A.; Kippelen, B.; Armstrong, N. R.; Marder, S. R. Acc. Chem. Res. 2011, [Online early access] DOI: 10.1021/ar200119g.
20. Hanson, E. L.; Guo, J.; Koch, N.; Schwartz, J.; Bernasek, S. L. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 10058-10062
21. Losego, M. D.; Guske, J. T.; Efremenko, A.; Maria, J.-P.; Franzen, S. Langmuir 2011, 27, 11883-11888
22. Demmer, C. S.; Krogsgaard-Larsen, N.; Bunch, L. Chem. Rev. 2011, 111, 7981-8006
23. Gooding, J. J.; Ciampi, S. Chem. Soc. Rev. 2011, 40, 2704-2718
24. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533-1554
25. Sano, H.; Maeda, H.; Ichii, T.; Murase, K.; Noda, K.; Matsushige, K.; Sugimura, H. Langmuir 2009, 25, 5516-5525
26. Rosso, M.; Giesbers, M.; Arafat, A.; Schroën, K.; Zuilhof, H. Langmuir 2009, 25, 2172-2180
27. Yakimova, R.; R. M. Petoral, J.; Yazdi, G. R.; Vahlberg, C.; Spetz, A. L.; Uvdal, K. J. Phys. D: Appl. Phys. 2007, 40, 6435
28. ter Maat, J.; Regeling, R.; Yang, M.; Mullings, M. N.; Bent, S. F.; Zuilhof, H. Langmuir 2009, 25, 11592-11597
29. Vong, T.; ter Maat, J.; van Beek, T. A.; van Lagen, B.; Giesbers, M.; van Hest, J. C. M.; Zuilhof, H. Langmuir 2009, 25, 13952-13958
30. Vong, T.; Schoffelen, S.; van Dongen, S. F. M.; van Beek, T. A.; Zuilhof, H.; van Hest, J. C. M. Chem. Sci. 2011, 2, 1278-1285
31. Franking, R. A.; Landis, E. C.; Hamers, R. J. Langmuir 2009, 25, 10676-10684
32. Benson, M. C.; Ruther, R. E.; Gerken, J. B.; Rigsby, M. L.; Bishop, L. M.; Tan, Y.; Stahl, S. S.; Hamers, R. J. ACS Appl. Mater. Interfaces 2011, 3, 3110-3119
33. Wang, X.; Landis, E. C.; Franking, R.; Hamers, R. J. Acc. Chem. Res. 2010, 43, 1205-1215
34. Ruther, R. E.; Franking, R.; Huhn, A. M.; Gomez-Zayas, J.; Hamers, R. J. Langmuir 2011, 27, 10604-10614
35. Li, Y.; Wang, J.; Cai, C. Langmuir 2011, 27, 2437-2445
36. Ciampi, S.; Eggers, P. K.; Le Saux, G.; James, M.; Harper, J. B.; Gooding, J. J. Langmuir 2009, 25, 2530-2539
37. Zanoni, R.; Cattaruzza, F.; Coluzza, C.; Dalchiele, E. A.; Decker, F.; Di Santo, G.; Flamini, A.; Funari, L.; Marrani, A. G. Surf. Sci. 2005, 575, 260-272
38. Rosso, M.; Arafat, A.; Schroen, K.; Giesbers, M.; Roper, C. S.; Maboudian, R.; Zuilhof, H. Langmuir 2008, 24, 4007-4012
39. Yang, M.; Teeuwen, R. L. M.; Giesbers, M.; Baggerman, J.; Arafat, A.; de Wolf, F. A.; van Hest, J. C. M.; Zuilhof, H. Langmuir 2008, 24, 7931-7938
40. Eves, B. J.; Sun, Q.-Y.; Lopinski, G. P.; Zuilhof, H. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14318-14319
41. Sun, Q.-Y.; de Smet, L. C. P. M; van Lagen, B.; Wright, A.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 1352-1355
42. Hamers, R. J.; Chambers, S. A.; Evans, P. E.; Franking, R.; Gerbec, Z.; Gopalan, P.; Kim, H.; Landis, E. C.; Li, B.; McCoy, M. W.; Ohsawa, T.; Ruther, R. Phys. Status Solidi C 2010, 7, 200-205
43. Piper, L. F. J.; DeMasi, A.; Cho, S. W.; Smith, K. E.; Fuchs, F.; Bechstedt, F.; Korber, C.; Klein, A.; Payne, D. J.; Egdell, R. G. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 022105-022103
44. Scheres, L.; Giesbers, M.; Zuilhof, H. Langmuir 2010, 26, 4790-4795
45. Wallart, X.; Henry de Villeneuve, C.; Allongue, P. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 7871-7878
46. Franking, R.; Hamers, R. J. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 17102-17110
47. Senthilkumar, M.; Mathiyarasu, J.; Joseph, J.; Phani, K. L. N.; Yegnaraman, V. Mater. Chem. Phys. 2008, 108, 403-407
48. Ciampi, S.; Böcking, T.; Kilian, K. A.; James, M.; Harper, J. B.; Gooding, J. J. Langmuir 2007, 23, 9320-9329
49. Manova, R.; van Beek, T. A.; Zuilhof, H. Angew. Chem., Int. Ed. 2011, 50, 5428-5430
50. Campos, M. A. C.; Paulusse, J. M. J.; Zuilhof, H. Chem. Commun. 2010, 46, 5512-5514
51. Qin, G.; Santos, C.; Zhang, W.; Li, Y.; Kumar, A.; Erasquin, U. J.; Liu, K.; Muradov, P.; Trautner, B. W.; Cai, C. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 16432-16441
52. Li, Y.; Santos, C. M.; Kumar, A.; Zhao, M.; Lopez, A. I.; Qin, G.; McDermott, A. M.; Cai, C. Chem.-Eur. J. 2011, 17, 2656-2665
53. Li, Y.; Zhao, M.; Wang, J.; Liu, K.; Cai, C. Langmuir 2011, 27, 4848-4856
54. Li, Y.; Cai, C. Chem.-Asian J. 2011, 6, 2592-2605
55. Fabre, B. Acc. Chem. Res. 2010, 43, 1509-1518
56. Zigah, D.; Herrier, C.; Scheres, L.; Giesbers, M.; Fabre, B.; Hapiot, P.; Zuilhof, H. Angew. Chem., Int. Ed. 2010, 49, 3157-3160
57. Palomaki, P. K. B.; Dinolfo, P. H. ACS Appl. Mater. Interfaces 2011, 3, 4703-4713