Importance of the indium tin oxide substrate on the quality of self-assembled monolayers formed from organophosphonic acids

Langmuir

Volumn 27, Issue 6, 2011, Pages 2545-2552

  Chockalingam, Muthukumar ^a   Darwish, Nadim ^a   Le Saux, Guillaume ^a   Gooding, J Justin ^a  

^a UNIVERSITY OF NEW SOUTH WALES   (Australia)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHARGE PASSED; DEFECT MAPPING; DEFECT SITES; GRAIN EDGES; HYDROXIDE IONS; IDENTICAL CONDITIONS; IMPEDANCE SPECTROSCOPY; INDIUM TIN OXIDE; INDIUM TIN OXIDE SUBSTRATES; POLYCRYSTALLINE SURFACE; SAMS; SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY; SUBSTRATE CHARACTERISTICS; SURFACE HYDROXIDE; UNDERPOTENTIALLY DEPOSITED; XPS ANALYSIS;

AMORPHOUS MATERIALS; ANGLE MEASUREMENT; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ATOMIC SPECTROSCOPY; CONTACT ANGLE; CRYSTAL ATOMIC STRUCTURE; DEFECTS; ELECTRON ENERGY LEVELS; INDIUM; INDIUM COMPOUNDS; LEAD; ORGANIC POLYMERS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS; SUBSTRATES; SURFACE STRUCTURE; TIN; TIN OXIDES; X RAY DIFFRACTION; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

SURFACE ROUGHNESS;

INDIUM TIN OXIDE; PHOSPHONIC ACID DERIVATIVE; TIN DERIVATIVE;

ARTICLE; CHEMISTRY; PARTICLE SIZE; SURFACE PROPERTY; SYNTHESIS;

ORGANOPHOSPHONATES; PARTICLE SIZE; SURFACE PROPERTIES; TIN COMPOUNDS;

EID: 79952613158     PISSN: 07437463     EISSN: 15205827     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la104464w     Document Type: Article

References (51)

1. Carter, C.; Brumbach, M.; Donley, C.; Hreha, R. D.; Marder, S. R.; Domercq, B.; Yoo, S.; Kippelen, B.; Armstrong, N. R. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 25191
2. Hanson, E. L.; Schwartz, J.; Nickel, B.; Koch, N.; Danisman, M. F. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 16074
3. Pulsipher, A.; Westcott, N. P.; Luo, W.; Yousaf, M. N. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 7626
4. Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kriebel, J. K.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1103
5. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533
6. Gooding, J. J.; Mearns, F.; Yang, W. R.; Liu, J. Q. Electroanalysis 2003, 15, 81
7. Templeton, A. C.; Cliffel, D. E.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 7081
8. Hu, J.; Zhang, J.; Liu, F.; Kittredge, K.; Whitesell, J. K.; Fox, M. A. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 1464
9. Mrksich, M.; Chen, C. S.; Xia, Y. N.; Dike, L. E.; Ingber, D. E.; Whitesides, G. M. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 1996, 93, 10775
10. Forster, T. Discuss. Faraday Soc. 1959, 7
11. Li, J. F.; Wang, L.; Liu, J.; Evmenenko, G.; Dutta, P.; Marks, T. J. Langmuir 2008, 24, 5755
12. Untereker, D. F.; Lennox, J. C.; Wier, L. M.; Moses, P. R.; Murray, R. W. J. Electroanal. Chem. 1977, 81, 309
13. Paniagua, S. A.; Hotchkiss, P. J.; Jones, S. C.; Marder, S. R.; Mudalige, A.; Marrikar, F. S.; Pemberton, J. E.; Armstrong, N. R. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 7809
14. Karsi, N.; Lang, P.; Chehimi, M.; Delamar, M.; Horowitz, G. Langmuir 2006, 22, 3118
15. Maldonado, S.; Smith, T. J.; Williams, R. D.; Morin, S.; Barton, E.; Stevenson, K. J. Langmuir 2006, 22, 2884
16. Gardner, T. J.; Frisbie, C. D.; Wrighton, M. S. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 6927
17. Breen, T. L.; Fryer, P. M.; Nunes, R. W.; Rothwell, M. E. Langmuir 2002, 18, 194
18. Carmichael, T. B.; Vella, S. J.; Afzali, A. Langmuir 2004, 20, 5593
19. Mutin, P. H.; Guerrero, G.; Vioux, A. J. Mater. Chem. 2005, 15, 3761
20. Li, H.; Paramonov, P.; Bredas, J. L. J. Mater. Chem. 2010, 20, 2630
21. Gao, W.; Dickinson, L.; Grozinger, C.; Morin, F. G.; Reven, L. Langmuir 1996, 12, 6429
22. Gooding, J. J.; Hibbert, D. B. TrAC, Trends Anal. Chem. 1999, 18, 525
23. Kiani, A.; Alpuche-Aviles, M. A.; Eggers, P. K.; Jones, M.; Gooding, J. J.; Paddon-Row, M. N.; Bard, A. J. Langmuir 2008, 24, 2841
24. Jalali, H.; Gates, B. D. Langmuir 2009, 25, 9078
25. Schonenberger, C.; Sondaghuethorst, J. A. M.; Jorritsma, J.; Fokkink, L. G. J. Langmuir 1994, 10, 611
26. Zhao, X. M.; Wilbur, J. L.; Whitesides, G. M. Langmuir 1996, 12, 5504
27. Losic, D.; Shapter, J. G.; Gooding, J. J. Langmuir 2001, 17, 3307
28. Preiner, M. J.; Melosh, N. A. Langmuir 2009, 25, 2585
29. Losic, D.; Shapter, J. G.; Gooding, J. J. Electrochem. Commun. 2001, 3, 722
30. Noh, J.; Nakajima, K.; Hara, M.; Lee, H.; Sasabe, H.; Knoll, W. Mol. Cryst. Liq. Cryst. A 1999, 327, 87
31. Douglass, E. F.; Driscoll, P. F.; Liu, D. L.; Burnham, N. A.; Lambert, C. R.; McGimpsey, W. G. Anal. Chem. 2008, 80, 7670
32. Chilcott, T. C.; Wong, E. L. S.; Coster, H. G. L.; Coster, A. C. F.; James, M. Electrochim. Acta 2009, 54, 3766
33. Creager, S. E.; Hockett, L. A.; Rowe, G. K. Langmuir 1992, 8, 854
34. Ishida, T.; Kobayashi, H.; Nakato, Y. J. Appl. Phys. 1993, 73, 4344
35. Mcdermott, C. A.; Mcdermott, M. T.; Green, J. B.; Porter, M. D. J. Phys. Chem. 1995, 99, 13257
36. Gannon, G.; Greer, J. C.; Larsson, J. A.; Thompson, D. ACS Nano 2010, 4, 921
37. Cerruti, M.; Rhodes, C.; Losego, M.; Efremenko, A.; Maria, J. P.; Fischer, D.; Franzen, S.; Genzer, J. J. Phys. D: Appl. Phys. 2007, 40, 4212
38. Kim, H.; Pique, A.; Horwitz, J. S.; Mattoussi, H.; Murata, H.; Kafafi, Z. H.; Chrisey, D. B. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 3444
39. Bermudez, V. M.; Berry, A. D.; Kim, H.; Pique, A. Langmuir 2006, 22, 11113
40. Paramonov, P. B.; Paniagua, S. A.; Hotchkiss, P. J.; Jones, S. C.; Armstrong, N. R.; Marder, S. R.; Bredas, J. L. Chem. Mater. 2008, 20, 5131
41. Span, A. R.; Bruner, E. L.; Bernasek, S. L.; Schwartz, J. Langmuir 2001, 17, 948
42. Thilakan, P.; Minarini, C.; Loreti, S.; Terzini, E. Thin Solid Films 2001, 388, 34
43. Jung, Y. S.; Lee, D. W.; Jeon, D. Y. Appl. Surf. Sci. 2004, 221, 136
44. Hanson, E. L.; Guo, J.; Koch, N.; Schwartz, J.; Bernasek, S. L. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 10058
45. Donley, C.; Dunphy, D.; Paine, D.; Carter, C.; Nebesny, K.; Lee, P.; Alloway, D.; Armstrong, N. R. Langmuir 2002, 18, 450
46. Purvis, K. L.; Lu, G.; Schwartz, J.; Bernasek, S. L. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 1808
47. Yan, C.; Zharnikov, M.; Golzhauser, A.; Grunze, M. Langmuir 2000, 16, 6208
48. Michael, K. E.; Vernekar, V. N.; Keselowsky, B. G.; Meredith, J. C.; Latour, R. A.; Garcia, A. J. Langmuir 2003, 19, 8033
49. Wang, M. S.; Palmer, L. B.; Schwartz, J. D.; Razatos, A. Langmuir 2004, 20, 7753
50. Vericat, C.; Vela, M. E.; Salvarezza, R. C. Phys. Chem. Chem. Phys. 2005, 7, 3258
51. Oyamatsu, D.; Nishizawa, M.; Kuwabata, S.; Yoneyama, H. Langmuir 1998, 14, 3298