An NC-AFM and KPFM study of the adsorption of a triphenylene derivative on KBr(001)

Beilstein Journal of Nanotechnology

Volumn 3, Issue 1, 2012, Pages 221-229

  Hinaut, Antoine ^a   Pujol, Adeline ^a   Chaumeton, Florian ^a   Martrou, David ^a   Gourdon, André ^a   Gauthier, Sébastien ^a  

^a CEMES CNRS   (France)

Author keywords

Atomic force microscopy; Insulating surfaces; Kelvin force probe microscopy; Molecular adsorption

Indexed keywords

ADSORPTION ENERGIES; CYANO GROUPS; INSULATING SURFACES; INTERMOLECULAR INTERACTIONS; KELVIN FORCE PROBE MICROSCOPY; KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY; MOLECULAR ADSORPTION; NON-CONTACT MODE; PROPYL CHAIN; ROOM TEMPERATURE; SURFACE DIPOLE; TRIPHENYLENE DERIVATIVES; TRIPHENYLENES;

ADSORPTION; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; MONOLAYERS; PROBES;

MOLECULES;

EID: 84858385262     PISSN: None     EISSN: 21904286     Source Type: Journal    
DOI: 10.3762/bjnano.3.25     Document Type: Article

References (40)

1. Pfeiffer, O.; Gnecco, E.; Zimmerli, L.; Maier, S.; Meyer, E.; Nony, L.; Bennewitz, R.; Diederich, F.; Fang, H.; Bonifazi, D. J. Phys.: Conf. Ser. 2005, 19, 166-174. doi:10.1088/1742-6596/19/1/027
2. Kunstmann, T.; Schlarb, A.; Fendrich, M.; Wagner, T.; Möller, R.; Hoffmann, R. Phys. Rev. B 2005, 71, 121403. doi:10.1103/PhysRevB.71.121403
3. Mativetsky, J. M.; Burke, S. A.; Fostner, S.; Grütter, P. Small 2007, 3, 818-821. doi:10.1002/smll.200600699
4. Burke, S. A.; Ji, W.; Mativetsky, J. M.; Topple, J. M.; Fostner, S.; Gao, H.-J.; Guo, H.; Grütter, P. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 186104. doi:10.1103/PhysRevLett.100.186104
5. Dienel, T.; Loppacher, C.; Mannsfeld, S. C. B.; Forker, R.; Fritz, T. Adv. Mater. 2008, 20, 959-963. doi:10.1002/adma.200701684
6. Burke, S. A.; LeDue, J. M.; Miyahara, Y.; Ji, W.; Topple, J. M.; Fostner, S.; Grütter, P. Nanotechnology 2009, 20, 264012. doi:10.1088/0957-4484/20/26/264012
7. Schütte, J.; Bechstein, R.; Rohlfing, M.; Reichling, M.; Kühnle, A. Phys. Rev. B 2009, 80, 205421. doi:10.1103/PhysRevB.80.205421
8. Glatzel, T.; Zimmerli, L.; Koch, S.; Kawai, S.; Meyer, E. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 063303. doi:10.1063/1.3080614
9. Pawlak, R.; Nony, L.; Bocquet, F.; Oison, V.; Sassi, M.; Debierre, J.-M.; Loppacher, C.; Porte, L. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 9290-9295. doi:10.1021/jp102044u
10. Such, B.; Trevethan, T.; Glatzel, T.; Kawai, S.; Zimmerli, L.; Meyer, E.; Shluger, A. L.; Amijs, C. H. M.; de Mendoza, P.; Echavarren, A. M. ACS Nano 2010, 4, 3429-3439. doi:10.1021/nn100424g
11. Trevethan, T.; Such, B.; Glatzel, T.; Kawai, S.; Shluger, A. L.; Meyer, E.; de Mendoza, P.; Echavarren, A. M. Small 2011, 7, 1264-1270. doi:10.1002/smll.201001910
12. Hinaut, A.; Lekhal, K.; Aivazian, G.; Bataillé, S.; Gourdon, A.; Martrou, D.; Gauthier, S. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 13338-13342. doi:10.1021/jp202873f
13. Kittelmann, M.; Rahe, P.; Nimmrich, M.; Hauke, C. M.; Gourdon, A.; Kühnle, A. ACS Nano 2011, 5, 8420-8425. doi:10.1021/nn2033192
14. Gross, L.; Mohn, F.; Moll, N.; Liljeroth, P.; Meyer, G. Science (Washington, DC, U. S.) 2009, 325, 1110-1114. doi:10.1126/science.1176210
15. Guillermet, O.; Gauthier, S.; Joachim, C.; de Mendoza, P.; Lauterbach, T.; Echavarren, A. Chem. Phys. Lett. 2011, 511, 482-485. doi:10.1016/j.cplett.2011.06.079
16. Kitamura, S.; Iwatsuki, M. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 3154-3156. doi:10.1063/1.121577
17. Glatzel, T.; Sadewasser, S.; Lux-Steiner, M. C. Appl. Surf. Sci. 2003, 210, 84-89. doi:10.1016/S0169-4332(02)01484-8
18. Zerweck, U.; Loppacher, C.; Otto, T.; Grafström, S.; Eng, L. M. Phys. Rev. B 2005, 71, 125424. doi:10.1103/PhysRevB.71.125424
19. Barth, C.; Foster, A. S.; Henry, C. R.; Shluger, A. L. Adv. Mater. 2011, 23, 477-501. doi:10.1002/adma.201002270
20. Zerweck, U.; Loppacher, C.; Otto, T.; Grafström, S.; Eng, L. M. Nanotechnology 2007, 18, 084006. doi:10.1088/0957-4484/18/8/084006
21. Nikiforov, M. P.; Zerweck, U.; Milde, P.; Loppacher, C.; Park, T.-H.; Uyeda, H. T.; Therien, M. J.; Eng, L.; Bonnell, D. Nano Lett. 2008, 8, 110-113. doi:10.1021/nl072175d
22. Zerweck, U.; Loppacher, C.; Eng, L. M. Nanotechnology 2006, 17, S107. doi:10.1088/0957-4484/17/7/S02
23. Léoni, T.; Guillermet, O.; Walch, H.; Langlais, V.; Scheuermann, A.; Bonvoisin, J.; Gauthier, S. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 216103. doi:10.1103/PhysRevLett.106.216103
24. Barth, C.; Henry, C. R. Nanotechnology 2006, 17, S155. doi:10.1088/0957-4484/17/7/S09
25. Barth, C.; Henry, C. R. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 136804. doi:10.1103/PhysRevLett.98.136804
26. Egberts, P.; Filleter, T.; Bennewitz, R. Nanotechnology 2009, 20, 264005. doi:10.1088/0957-4484/20/26/264005
27. Sadewasser, S.; Lux-Steiner, M. C. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 266101. doi:10.1103/PhysRevLett.91.266101
28. Terris, B. D.; Stern, J. E.; Rugar, D.; Mamin, H. J. Phys. Rev. Lett. 1989, 63, 2669-2672. doi:10.1103/PhysRevLett.63.2669
29. Stomp, R.; Miyahara, Y.; Schaer, S.; Sun, Q.; Guo, H.; Grütter, P.; Studenikin, S.; Poole, P.; Sachrajda, A. Phys. Rev. Lett. 2005, 94, 056802. doi:10.1103/PhysRevLett.94.056802
30. Azuma, Y.; Kanehara, M.; Teranishi, T.; Majima, Y. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 016108. doi:10.1103/PhysRevLett.96.016108
31. Barth, C.; Hynninen, T.; Bieletzki, M.; Henry, C. R.; Foster, A. S.; Esch, F.; Heiz, U. New J. Phys. 2010, 12, 093024. doi:10.1088/1367-2630/12/9/093024
32. Watkins, M.; Trevethan, T.; Sushko, M. L.; Shluger, A. L. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 4226-4231. doi:10.1021/jp077680d
33. Giessibl, F. J. Phys. Rev. B 1997, 56, 16010. doi:10.1103/PhysRevB.56.16010
34. Krebs, F. C.; Schiødt, N. C.; Batsberg, W.; Bechgaard, K. Synthesis 1997, 11, 1285-1290. doi:10.1055/s-1997-3188
35. Materials Studio, v5.5.0.0; Accelrys Software, Inc.: San Diego, CA, USA, 2010.
36. COMPASS - Accelrys. http://accelrys.com/products/datasheets/compass.pdf (accessed Feb 3, 2012).
37. Sun, H. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7338-7364. doi:10.1021/jp980939v
38. Zhao, L.; Liu, L.; Sun, H. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 10610-10617. doi:10.1021/jp071775y
39. Trevethan, T.; Shluger, A. L. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 15375-15381. doi:10.1021/jp072857p
40. Horcas, I.; Fernández, R.; Gómez-Rodríguez, J. M.; Colchero, J.; Gómez-Herrero, J.; Baro, A. M. Rev. Sci. Instrum. 2007, 78, 013705. doi:10.1063/1.2432410