Structural, optical and electronic properties of in1-xYxN thin films

Digest Journal of Nanomaterials and Biostructures

Volumn 6, Issue 4, 2011, Pages 1877-1886

  Zoita, C N ^a   Braic, M ^a   Braic, V ^a  

^a NATIONAL INSTITUTE FOR OPTOELECTRONICS   (Romania)

Author keywords

Magnetron sputtering; Thin films

Indexed keywords

EID: 83455260457     PISSN: None     EISSN: 18423582     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (51)

1. S. Strite and H. Morkoc, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1237 (1992).
2. M.E. Little, M.E. Kordesch, Appl. Phys. Lett. 78, 2891 (2001).
3. M. A. Moram, Y. Zhang, T. B. Joyce, D. Holec, P. R. Chalker, P. H. Mayrhofer, M. J. Kappers, C. J. Humphreys, J. Appl. Phys. 106, 113533 (2009). (1970).
4. C. Constantin, H. Al-Brithen, M.B. Haider, D. Ingram, A.R. Smith, Phys. Rev. B, 193309 (2004).
5. C. Constantin, M.B. Haider, D. Ingram, A.R. Smith, N. Sandler, K. Sun, P. Ordejon, J. Appl. Phys. 98, 123501 (2005)
6. J.M. Gregoire, S.D. Kirby, M.E. Turk, R.B. van Dover, Thin Solid Films 517, 1607 (2009)
7. V. Ranjan, L. Bellaiche, E. Walter, Phys. Rev. Lett. 90, 257602 (2003).
8. V. Ranjan, S. Bin-Omran, L. Bellaiche, A. Alsaad, Phys. Rev. B 71, 195302 (2005).
9. V. Ranjan, S. Bin-Omran, D. Sichuga, R. Nichols, L. Bellaiche, A. Alsaad, Phys. Rev. B 72, 085315 (2005).
10. S. Zerroug F. Ali Sahraoui N. Bouarissa, Appl Phys A 97, 345 (2009)
11. B. Saha, T. D. Sands, U. V. Waghmare, J. Appl. Phys. 109, 073720 (2011).
12. C. Stampfl, W. Mannstadt, R. Asahi, A. J. Freeman, Phys. Rev. B 63, 155106 (2001).
13. L. Tie-Yu and H. Mei-Chun, Chin. Phys. 16, 62 (2007).
14. J. P. Dismukes, W. M. Yim, J. J. Tietjem, R. E. Novak, RCA Rev. 31, 680 (1970).
15. W. De La Cruz, J. A. Diaz, L. Mancera, N. Takeuchi, and G. Soto, J. Phys. Chem. Solids 64, 2273 (2003).
16. Y. Cherchab, B. Amrani, N. Sekkal, M. Ghezalia, K. Talbi Physica E 40, 606 (2008).
17. E. I. Isaev, S. I. Simak, I. A. Abrikosov, R. Ahuja, Yu. Kh. Vekilov, M. I. Katsnelson, A. I. Lichtenstein, B. Johansson, J. Appl. Phys. 101, 123519 (2007)
18. J. M. Gregoire, S. D. Kirby, George E. Scopelianos, F. H. Lee, R. Bruce van Dover, J. Appl. Phys. 104, 074913 (2008)
19. H. Morkoc, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1237 (1992).
20. A. G. Bhuiyan, A. Hashimoto, A. Yamamoto, J. Appl.Phys. 94, 2779 (2003).
21. S. K. O'Leary, B. E. Foutz, M. S. Shur, U. V. Bhapkar, L. F. Eastman, J. Appl. Phys. 83, 826 (1998).
22. J. Wu, W. Walukiewicz, K. M. Yu, W. Shan, J. W. Ager, E. E. Haller, H. Lu, W. J. Schaff, W. K. Metzger, S. Kurtz, J. Appl. Phys. 94, 6477 (2003).
23. G. D. Chern, E. D. Readinger, H. Shen, M. Wraback, C. S. Gallinat, G. Koblmuller, J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 89, 141115 (2006).
24. C. G. Van de Walle, J. L. Lyons, and A. Janotti, Phys. Status Solidi A 207(5), 1024 (2010).
25. H. Lu, W. J. Schaff, L. Eastman, and C. E. Stutz, Appl. Phys. Lett. 82, 1736 (2003).
26. R. E. Jones, S. X. Li, L. Hsu, K. M. Yu, W. Walukiewicz, Z. Lilienthal-Weber, J. W. Ager, E. E. Haller, H. Lu, W. J. Schaff, Physica B 376, 436 (2006).
27. C. S. Gallinat, G. Koblmüller, J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 95, 022103 (2009).
28. S. Limpijumnong and C. G. Van de Walle, Phys. Status Solidi B 228, 303 (2001).
29. T. L. Tansley and R. J. Egan, Phys. Rev. B 45, 10942 (1992)
30. R. E. Jones, K. M. Yu, S. X. Li, W. Walukiewicz, J.W. Ager, E. E. Haller, H. Lu, W. J. Schaff, Phys. Rev. Lett. 96, 125505 (2006).
31. R. E. Jones, S. X. Li, and E. E. Haller, H. C. M. van Genuchten, K. M. Yu, J. W. Ager, Z. Liliental-Weber, W. Walukiewicz, H. Lu, W. J. Schaff, Appl. Phys. Lett. 90, 162103 (2007)
32. J. Wu, J. Appl. Phys. 106, 011101 (2009).
33. K.S.A. Butcher, T.L. Tansley, Superlattice Microstruct. 38, 1 (2005).
34. T. S. Yeh, J. M. Wu, W. H. Lan, Thin Solid Films 517, 3204 (2009)
35. C. P. Kempter, N. H. Krikorian, and J. C. McGuire, J. Phys. Chem. 61, 1237 (1957).
36. J.B. MacChesney, P.M. Bridenbaugh, P.B. O'Connor, Mater. Res. Bull. 5, 783 (1970).
37. J.F. Moulder, W.F. Stickle, P.E. Sobol, K.D. Bomben, in: J. Chastain (Ed.), Handbook of XRay Photoelectron Spectroscopy, Perkin-Elmer, Eden Prairie MN, 1992.
38. Parala H, Devi A, Hipler F, Maile E, Birkner A, Becker HW, Fischer RA, J. Cryst. Growth 231, 68 (2001).
39. T. N. Bhat, M. K. Rajpalke, B. Roul, M. Kumar, S. B. Krupanidhi, N. Sinha, Phys. Status Solidi B, 1-4 (2011).
40. Baba Y., Sasaki T.A., Surf. Interface Anal. 6, 171 (1984).
41. I. J. Lee, J. Y. Kim, H. J. Shin, and H. K. Kim, J. Appl. Phys. 95, 5540 (2004).
42. B.R. Natarajan, A.H. Eltoukhy, J.E. Greene, Thin Solid Films 69, 217 (1980)
43. Negrila, C.C., Logofatu, C., Ghita, R.V., Cotirlan, C., Ungureanu, F., Manea, A.S., Lazarescu, M.F., J. Cryst.Growth 310, 1576 (2008).
44. M. Faur, M. Faur, D. T. Jayne, M. Goradia, and C. Goradia, Surf. Interface Anal. 15, 641 (1990).
45. Hu, H.; Zhu, C.; Lu, Y. F.; Li, M. F.; Cho, B. J. IEEE Electron Device Lett., 23, 5142002
46. Lester R. Morss, Paul P. Day, Claudia Felinto, Hermi Brito, J. Chem. Thermodynamics 25(3), 415 (1993).
47. E.H.P. Cordfunke, R.J.M. Konings, W. Ouweltjes, J. Chem. Thermodynamics 23(5), 451 (1991).
48. K. M. Yu, Z. Liliental-Weber, W. Walukiewicz, W. Shan, J. W. Ager, S. X. Li, R. E. Jones, E. E. Haller, H. Lu, W. J. Schaff, Appl. Phys. Lett. 86, 071910 (2005).
49. L. Mancera, J.A. Rodriguguez, N. Takeuchi, J. Phys: Condens. Matter 15, 2625 (2003).
50. M.A. Butler, J. Appl. Phys. 48, 1914 (1977).
51. A. Dixit, C. Sudakar, R. Naik, G. Lawes, J. S. Thakur, E. F. McCullen, G. W. Auner, V. M. Naik, Appl. Phys. Lett. 93, 142103 (2008)