-
1
-
-
77952639058
-
-
Timko, B. P.; Cohen-Karni, T.; Quan, Q.; Bozhi, T.; Lieber, C. M. IEEE Trans. Nanotechnol. 2010, 9, 269-280
-
(2010)
IEEE Trans. Nanotechnol.
, vol.9
, pp. 269-280
-
-
Timko, B.P.1
Cohen-Karni, T.2
Quan, Q.3
Bozhi, T.4
Lieber, C.M.5
-
2
-
-
77953313672
-
-
Soci, C.; Zhang, A.; Bao, X.-Y.; Kim, H.; Lo, Y.; Wang, D. J. Nanosci. Nanotechnol. 2010, 10, 1430-1449
-
(2010)
J. Nanosci. Nanotechnol.
, vol.10
, pp. 1430-1449
-
-
Soci, C.1
Zhang, A.2
Bao, X.-Y.3
Kim, H.4
Lo, Y.5
Wang, D.6
-
3
-
-
33646858392
-
-
Ponzoni, A.; Comini, E.; Sberveglieri, G.; Zhou, J.; Deng, S. Z.; Xu, N. S.; Ding, Y.; Wang, Z. L. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 203101-203103
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.88
, pp. 203101-203103
-
-
Ponzoni, A.1
Comini, E.2
Sberveglieri, G.3
Zhou, J.4
Deng, S.Z.5
Xu, N.S.6
Ding, Y.7
Wang, Z.L.8
-
4
-
-
80755141898
-
-
Tomioka, K.; Tanaka, T.; Hara, S.; Hiruma, K.; Fukui, T. IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 2010, 99, 1-18
-
(2010)
IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron.
, vol.99
, pp. 1-18
-
-
Tomioka, K.1
Tanaka, T.2
Hara, S.3
Hiruma, K.4
Fukui, T.5
-
5
-
-
69249213906
-
-
Fan, Z.; Razavi, H.; Do, J.-w.; Moriwaki, A.; Ergen, O.; Chueh, Y.-L.; Leu, P. W.; Ho, J. C.; Takahashi, T.; Reichertz, L. A.; Neale, S.; Yu, K.; Wu, M.; Ager, J. W.; Javey, A. Nat. Mater. 2009, 8, 648-653
-
(2009)
Nat. Mater.
, vol.8
, pp. 648-653
-
-
Fan, Z.1
Razavi, H.2
Moriwaki, A.3
Ergen, O.4
Chueh, Y.-L.5
Leu, P.W.6
Ho, J.C.7
Takahashi, T.8
Reichertz, L.A.9
Neale, S.10
Yu, K.11
Wu, M.12
Ager, J.W.13
Javey, A.14
-
6
-
-
31944435288
-
-
Verheijen, M. A.; Immink, G.; de Smet, T.; Borgström, M. T.; Bakkers, E. P. A. M. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 1353-1359
-
(2006)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.128
, pp. 1353-1359
-
-
Verheijen, M.A.1
Immink, G.2
De Smet, T.3
Borgström, M.T.4
Bakkers, E.P.A.M.5
-
7
-
-
28144437037
-
-
Qian, F.; Gradeak, S.; Li, Y.; Wen, C.-Y.; Lieber, C. M. Nano Lett. 2005, 5, 2287-2291
-
(2005)
Nano Lett.
, vol.5
, pp. 2287-2291
-
-
Qian, F.1
Gradeak, S.2
Li, Y.3
Wen, C.-Y.4
Lieber, C.M.5
-
8
-
-
56749115775
-
-
Algra, R. E.; Verheijen, M. A.; Borgström, M. T.; Feiner, L.-F.; Immink, G.; van Enckevort, W. J. P.; Vlieg, E.; Bakkers, E. P. A. M. Nature 2008, 456, 369-372
-
(2008)
Nature
, vol.456
, pp. 369-372
-
-
Algra, R.E.1
Verheijen, M.A.2
Borgström, M.T.3
Feiner, L.-F.4
Immink, G.5
Van Enckevort, W.J.P.6
Vlieg, E.7
Bakkers, E.P.A.M.8
-
9
-
-
56849112634
-
-
Bao, X.-Y.; Soci, C.; Susac, D.; Bratvold, J.; Aplin, D. P. R.; Wei, W.; Chen, C.-Y.; Dayeh, S. A.; Kavanagh, K. L.; Wang, D. Nano Lett. 2008, 8, 3755-3760
-
(2008)
Nano Lett.
, vol.8
, pp. 3755-3760
-
-
Bao, X.-Y.1
Soci, C.2
Susac, D.3
Bratvold, J.4
Aplin, D.P.R.5
Wei, W.6
Chen, C.-Y.7
Dayeh, S.A.8
Kavanagh, K.L.9
Wang, D.10
-
10
-
-
33847049888
-
-
Dayeh, S. A.; Aplin, D. P. R.; Zhou, X.; Yu, P. K. L.; Yu, E. T.; Wang, D. Small 2007, 3, 326-332
-
(2007)
Small
, vol.3
, pp. 326-332
-
-
Dayeh, S.A.1
Aplin, D.P.R.2
Zhou, X.3
Yu, P.K.L.4
Yu, E.T.5
Wang, D.6
-
11
-
-
75249087404
-
-
Van Tilburg, J. W. W.; Algra, R. E.; Immink, W. G. G.; Verheijen, M.; Bakkers, E. P. A. M.; Kouwenhoven, L. P. Semicond. Sci. Technol. 2010, 25, 024011
-
(2010)
Semicond. Sci. Technol.
, vol.25
, pp. 024011
-
-
Van Tilburg, J.W.W.1
Algra, R.E.2
Immink, W.G.G.3
Verheijen, M.4
Bakkers, E.P.A.M.5
Kouwenhoven, L.P.6
-
12
-
-
80755166284
-
-
Wernersson, L. E.; Bryllert, T.; Lind, E.; Samuelson, L. IEEE Int. Electron Devices Meet., Tech. Dig., 50th 2005, 273-276
-
(2005)
IEEE Int. Electron Devices Meet., Tech. Dig., 50th
, pp. 273-276
-
-
Wernersson, L.E.1
Bryllert, T.2
Lind, E.3
Samuelson, L.4
-
14
-
-
5144234021
-
-
Whang, D.; Jin, S.; Lieber, C. M. Jpn. J. Appl. Phys. 2004, 43, 4465-4470
-
(2004)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.43
, pp. 4465-4470
-
-
Whang, D.1
Jin, S.2
Lieber, C.M.3
-
16
-
-
0001768907
-
-
Molares, M. E. T.; Buschmann, V.; Dobrev, D.; Neumann, R.; Scholz, R.; Schuchert, I. U.; Vetter, J. Adv. Mater. 2001, 13, 62-65
-
(2001)
Adv. Mater.
, vol.13
, pp. 62-65
-
-
Molares, M.E.T.1
Buschmann, V.2
Dobrev, D.3
Neumann, R.4
Scholz, R.5
Schuchert, I.U.6
Vetter, J.7
-
17
-
-
2342530489
-
-
Mårtensson, T.; Carlberg, P.; Borgström, M.; Montelius, L.; Seifert, W.; Samuelson, L. Nano Lett. 2004, 4, 699-702
-
(2004)
Nano Lett.
, vol.4
, pp. 699-702
-
-
Mårtensson, T.1
Carlberg, P.2
Borgström, M.3
Montelius, L.4
Seifert, W.5
Samuelson, L.6
-
18
-
-
33749840221
-
-
Ji, R.; Lee, W.; Scholz, R.; Gösele, U.; Nielsch, K. Adv. Mater. 2006, 18, 2593-2596
-
(2006)
Adv. Mater.
, vol.18
, pp. 2593-2596
-
-
Ji, R.1
Lee, W.2
Scholz, R.3
Gösele, U.4
Nielsch, K.5
-
21
-
-
42549148036
-
-
Liu, J.; Lee, S.; Lee, K.; Ahn, Y. H.; Park, J.-Y.; Koh, K. H. Nanotechnology 2008, 19, 185607
-
(2008)
Nanotechnology
, vol.19
, pp. 185607
-
-
Liu, J.1
Lee, S.2
Lee, K.3
Ahn, Y.H.4
Park, J.-Y.5
Koh, K.H.6
-
22
-
-
79957862865
-
-
Plissard, S.; Larrieu, G.; Wallart, X.; Caroff, P. Nanotechnology 2011, 22, 275602
-
(2011)
Nanotechnology
, vol.22
, pp. 275602
-
-
Plissard, S.1
Larrieu, G.2
Wallart, X.3
Caroff, P.4
-
23
-
-
61649111140
-
-
Soci, C.; Bao, X.-Y.; Aplin, D. P. R.; Wang, D. Nano Lett. 2008, 8, 4275-4282
-
(2008)
Nano Lett.
, vol.8
, pp. 4275-4282
-
-
Soci, C.1
Bao, X.-Y.2
Aplin, D.P.R.3
Wang, D.4
-
24
-
-
77949435323
-
-
Joyce, H. J.; Wong-Leung, J.; Gao, Q.; Tan, H. H.; Jagadish, C. Nano Lett. 2010, 10, 908-915
-
(2010)
Nano Lett.
, vol.10
, pp. 908-915
-
-
Joyce, H.J.1
Wong-Leung, J.2
Gao, Q.3
Tan, H.H.4
Jagadish, C.5
-
25
-
-
67650641975
-
-
Dayeh, S. A.; Soci, C.; Bao, X.-Y.; Wang, D. Nano Today 2009, 4, 347-358
-
(2009)
Nano Today
, vol.4
, pp. 347-358
-
-
Dayeh, S.A.1
Soci, C.2
Bao, X.-Y.3
Wang, D.4
-
26
-
-
4544377143
-
-
Bhunia, S.; Kawamura, T.; Fujikawa, S.; Nakashima, H.; Furukawa, K.; Torimitsu, K.; Watanabe, Y. Thin Solid Films 2004, 464-465, 244-247
-
(2004)
Thin Solid Films
, vol.464-465
, pp. 244-247
-
-
Bhunia, S.1
Kawamura, T.2
Fujikawa, S.3
Nakashima, H.4
Furukawa, K.5
Torimitsu, K.6
Watanabe, Y.7
-
27
-
-
0344287200
-
-
Geelhaar, L.; Márquez, J.; Jacobi, K.; Kley, A.; Ruggerone, P.; Scheffler, M. Microelectron. J. 1999, 30, 393-396.
-
(1999)
Microelectron. J.
, vol.30
, pp. 393-396
-
-
Geelhaar, L.1
Márquez, J.2
Jacobi, K.3
Kley, A.4
Ruggerone, P.5
Scheffler, M.6
-
28
-
-
80054029084
-
-
DOI: 10.1021/nl202126q
-
Dayeh, S. A.; Wang, J.; Li, N.; Huang, J. Y.; Gin, A. V.; Picraux, S. T. Nano Lett. 2011, DOI: 10.1021/nl202126q.
-
(2011)
Nano Lett.
-
-
Dayeh, S.A.1
Wang, J.2
Li, N.3
Huang, J.Y.4
Gin, A.V.5
Picraux, S.T.6
-
29
-
-
77956626754
-
-
Hill, J. J.; Haller, K.; Gelfand, B.; Ziegler, K. J. ACS Appl. Mater. Interfaces 2010, 2, 1992-1998
-
(2010)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.2
, pp. 1992-1998
-
-
Hill, J.J.1
Haller, K.2
Gelfand, B.3
Ziegler, K.J.4
-
30
-
-
0004246716
-
-
3rd ed. McGraw-Hill: Boston, MA
-
Beer, F. P.; Johnston, E. R.; DeWolf, J. T. Mechanics of materials, 3rd ed.; McGraw-Hill: Boston, MA, 2004.
-
(2004)
Mechanics of Materials
-
-
Beer, F.P.1
Johnston, E.R.2
Dewolf, J.T.3
-
31
-
-
79952673376
-
-
Wang, Y.-B.; Wang, L.-F.; Joyce, H. J.; Gao, Q.; Liao, X.-Z.; Mai, Y.-W.; Tan, H. H.; Zou, J.; Ringer, S. P.; Gao, H.-J.; Jagadish, C. Adv. Mater. 2011, 23, 1356-1360
-
(2011)
Adv. Mater.
, vol.23
, pp. 1356-1360
-
-
Wang, Y.-B.1
Wang, L.-F.2
Joyce, H.J.3
Gao, Q.4
Liao, X.-Z.5
Mai, Y.-W.6
Tan, H.H.7
Zou, J.8
Ringer, S.P.9
Gao, H.-J.10
Jagadish, C.11
-
33
-
-
0642275027
-
-
Bernardini, F.; Fiorentini, V.; Vanderbilt, D. Phys. Rev. B 1997, 56, R10024
-
(1997)
Phys. Rev. B
, vol.56
, pp. 10024
-
-
Bernardini, F.1
Fiorentini, V.2
Vanderbilt, D.3
-
34
-
-
67650489522
-
-
Dayeh, S. A.; Susac, D.; Kavanagh, K. L.; Yu, E. T.; Wang, D. Adv. Funct. Mater. 2009, 19, 2102-2108
-
(2009)
Adv. Funct. Mater.
, vol.19
, pp. 2102-2108
-
-
Dayeh, S.A.1
Susac, D.2
Kavanagh, K.L.3
Yu, E.T.4
Wang, D.5
-
35
-
-
19944379818
-
-
Schmidt, V.; Senz, S.; Gösele, U. Nano Lett. 2005, 5, 931-935
-
(2005)
Nano Lett.
, vol.5
, pp. 931-935
-
-
Schmidt, V.1
Senz, S.2
Gösele, U.3
-
36
-
-
79955408966
-
-
Dayeh, S. A.; Gin, A. V.; Picraux, S. T. Appl. Phys. Lett. 2011, 98, 163112
-
(2011)
Appl. Phys. Lett.
, vol.98
, pp. 163112
-
-
Dayeh, S.A.1
Gin, A.V.2
Picraux, S.T.3
-
37
-
-
2642585470
-
-
Wang, D.; Qian, F.; Yang, C.; Zhong, Z.; Lieber, C. M. Nano Lett. 2004, 4, 871-874
-
(2004)
Nano Lett.
, vol.4
, pp. 871-874
-
-
Wang, D.1
Qian, F.2
Yang, C.3
Zhong, Z.4
Lieber, C.M.5
-
38
-
-
70350663024
-
-
Cheng, C.; Liu, B.; Yang, H.; Zhou, W.; Sun, L.; Chen, R.; Yu, S. F.; Zhang, J.; Gong, H.; Sun, H.; Fan, H. J. ACS Nano 2009, 3, 3069-3076
-
(2009)
ACS Nano
, vol.3
, pp. 3069-3076
-
-
Cheng, C.1
Liu, B.2
Yang, H.3
Zhou, W.4
Sun, L.5
Chen, R.6
Yu, S.F.7
Zhang, J.8
Gong, H.9
Sun, H.10
Fan, H.J.11
-
39
-
-
80755166282
-
-
Cuilan, W.; Xiaozhou, L.; Jianghua, C. Nanotechnology 2010, 21, 405303
-
(2010)
Nanotechnology
, vol.21
, pp. 405303
-
-
Cuilan, W.1
Xiaozhou, L.2
Jianghua, C.3
-
40
-
-
34548387138
-
-
Borgström, M. T.; Immink, G.; Ketelaars, B.; Algra, R.; Bakkers, E. P. A. M. Nat. Nanotechnol. 2007, 2, 541-544
-
(2007)
Nat. Nanotechnol.
, vol.2
, pp. 541-544
-
-
Borgström, M.T.1
Immink, G.2
Ketelaars, B.3
Algra, R.4
Bakkers, E.P.A.M.5
-
41
-
-
33751503417
-
-
Do-Hyun, K.; Jun, H.; Rao, B. K.; Wonbong, C. IEEE Trans. Nanotechnol. 2006, 5, 731-736
-
(2006)
IEEE Trans. Nanotechnol.
, vol.5
, pp. 731-736
-
-
Do-Hyun, K.1
Jun, H.2
Rao, B.K.3
Wonbong, C.4
-
42
-
-
0037175876
-
-
Chen, S.; Trauzettel, B.; Egger, R. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 226404
-
(2002)
Phys. Rev. Lett.
, vol.89
, pp. 226404
-
-
Chen, S.1
Trauzettel, B.2
Egger, R.3
-
43
-
-
77955600944
-
-
Tian, B.; Cohen-Karni, T.; Qing, Q.; Duan, X.; Xie, P.; Lieber, C. M. Science 2010, 329, 830-834
-
(2010)
Science
, vol.329
, pp. 830-834
-
-
Tian, B.1
Cohen-Karni, T.2
Qing, Q.3
Duan, X.4
Xie, P.5
Lieber, C.M.6
|