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Volumn 481, Issue 1-2, 2009, Pages

GaN Schottky barrier photodiode on Si (1 1 1) with low-temperature-grown cap layer

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AlN; GaN; Photodiode; Schottky barrier height; Thermal annealing

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EID: 67649252103     PISSN: 09258388     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.jallcom.2009.02.151     Document Type: Letter
Times cited : (19)

References (22)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.