Quantitative friction-force measurements by longitudinal atomic force microscope imaging

Langmuir

Volumn 25, Issue 11, 2009, Pages 6203-6213

  Karhu, Eric ^a,b   Gooyers, Mark ^a   Hutter, Jeffrey L ^a  

^a UNIVERSITY OF WESTERN ONTARIO   (Canada)

^b DALHOUSIE UNIVERSITY   (Canada)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ADDITIONAL EQUIPMENT; ATOMIC FORCE MICROSCOPES; FRICTIONAL EFFECTS; LONGITUDINAL IMAGING; LONGITUDINAL MODES; TORSIONAL RESPONSE; TORSIONAL SPRINGS;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ATOMS; FRICTION; TRIBOLOGY;

FORCE MEASUREMENT;

EID: 66749095484     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la900005z     Document Type: Article

References (36)

1. Mate, C. M.; McCelland, G. M.; Erlandsson, R.; Chiang, S. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 1942-1946.
2. Radmacher, M.; Tillmann, R. W.; Fritz, M.; Gaub, H. E. Science 1992, 257, 1900-1905.
3. Meyer, G.; Amer, N. M. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 2089-2091.
4. Liu, E.; Blanpain, B.; Celis, J. P. Wear 1996, 192, 141-150.
5. Bogdanovic, G.; Meurk, A.; Rutland, M. W. Colloids Surf. B 2000, 19, 397-405.
6. Feiler, A.; Attard, P.; Larson, I. Rev. Sci. Iustrum. 2000, 71, 2746-2750.
7. Ecke, S.; Raiteri, R.; Bonaccurso, E.; Reiner, C.; Deiseroth, H.-J.; Butt, H.-J. Rev. Sci. Iustrum. 2001, 72, 4164-4170.
8. Cannera, R. J.; Eglin, M.; Carpick, R. W. Rev. Sci. Iustrum. 2006, 77, 053701.
9. Schwarz, U. D.; Koster, P.; Wiesendanger, R. Rev. Sci. Iustrum. 1996, 67, 2560-2567.
10. Carpick, R. W.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 1548-1550.
11. Biggs, S.; Cain, R.; Page, N. W. J. Colloid Interface Sci. 2000, 232, 133-140.
12. Lantz, M. A.; O'Shea, S. J.; Hoole, A. C. F.; Welland, M. E. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 970-972.
13. Hazel, J. L.; Tsukruk, V. V. J. Tribol. 1999, 120, 814-819.
14. Green, C. P.; Lioe, H.; Cleveland, J. P.; Proksch, R.; Mulvaney, P.; Sader, J. E. Rev. Sci, Iustrum. 2004, 75, 1988-1996.
15. Ogletree, D. F.; Carpick, R. W.; Salmeron, M. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 3298-3306.
16. Varenberg, M.; Etsion, I.; Halperin, G. Rev. Sci. Instrum. 2003, 74, 3362-3367.
17. Tocha, E.; Schönherr, H.; Vansco, G. J. Langmuir 2006, 22, 2340-2350.
18. Choi, D.; Hwang, W.; Yoon, E. J. Microsc. 2007, 228, 190-199.
19. Morel, N.; Ramonda, M.; Tordjeman, Ph. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 163103.
20. Morel, N.; Todjeman, Ph.; Ramonda, M. J. Phys. D 2005, 38, 895-899.
21. Cain, R. G.; Biggs, S.; Page, N. W. J. Colloid Interface Sci. 2000, 227, 55-65.
22. Varenberg, M.; Etsion, I.; Halperin, G. Rev. Sci. Instrum. 2003, 74, 3569-3571.
23. Warmack, R. J.; Zheng, X.-Y.; Thundat, T.; Allison, D. P. Rev. Sci Instrum. 1994, 65, 394-399.
24. Ruan, J.-A.; Bhushan, B. I. Tribol. 1994, 116, 378-388.
25. Timoshenko S.; Gere, J. M. Mechanics of Materials, 4th ed.; PWS Publishing Company: Boston, 1997.
26. Hutter, J. L. Langmuir 2005, 21, 2630-2632.
27. Johnson, K. L.; Kendall, K.; Roberts, A. D. Proc. R. Soc. London, Ser. A 1971, 324, 301-313.
28. Derjaguin, B. V.; Muller, V. M.; Toporov, Y. P. J. Colloid Interface Sci. 1975, 53, 314-326.
29. Edwards, S. A.; Ducker, W. A.; Sader, J. E. J. Appl. Phys. 2008, 103, 064513.
30. Hutter, J. L.; Bechhoefer, J. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 1868-1873.
31. Butt, H.-J.; Jaschke, M. Nanotechnology 1995, 6, 1-7.
32. Walters, D. A.; Cleveland, J. P.; Thomson, N. H.; Hansma, P. K.; Wend-man, M. A.; Gurley, G.; Elings, V. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 3583-3590.
33. Heim, L.-O.; Kappl, M.; Butt, H.-J. Langmuir 2004, 20, 2760-2764.
34. Cleveland, J. P.; Manne, S.; Bocek, D.; Hansma, P. K. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 403-405.
35. Stiernstedt, J.; Rutland, M. W.; Attard, P. Rev. Sci. Instrum. 2005, 76, 083710.
36. Attard, P.; Stiernstedt, J.; Rutland, M. W. J. Phys. (Paris) 2007, 61, 51-55.