Quantifying surface charge density by using an electric force microscope with a referential structure

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 113, Issue 1, 2009, Pages 204-207

  Guicun, Qi ^a   Yanlian, Yang ^a   Hao, Yan ^a   Li, Guan ^a   Yibao, Li ^a   Xiaohui, Qiu ^a   Chen, Wang ^a  

^a NATIONAL CENTER FOR NANOSCIENCE AND TECHNOLOGY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

APPLIED VOLTAGES; CHARACTERISTIC CURVES; CHARGE REFERENCES; COMPARATIVE METHODS; COULOMBIC FORCES; ELECTRIC FORCES; ELECTROSTATIC INTERACTIONS; FRESHLY CLEAVED MICAS; IRREGULAR SHAPES; LINEAR TERMS; NANO-METER SCALE; QUANTITATIVE ANALYSIS; SAMPLE SURFACES; SURFACE CHARGE DENSITIES;

CHARGED PARTICLES; MICA; PROBES; SILICATE MINERALS; SPHERES; SURFACE CHARGE;

CHARGE DENSITY;

EID: 65249085557     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp806667h     Document Type: Article

References (35)

1. Klein, L.; Williams, C. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 1828.
2. Bussmann, E.; Kim, D. J.; Williams, C. C. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 2538.
3. Parthasarathy, R.; Lin, X. M.; Elteto, K.; Rosenbaum, T. F.; Jaeger, H. M. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 076801.
4. Fan, H.; Yang, K.; Boye, D. M.; Sigmon, T.; Malloy, K. J.; Xu, H.; Lopez, G. P.; Brinker, C. J. Science 2004, 304, 567.
5. Likharev, K. K. Proc. IEEE 1999, 87, 606.
6. Nakakima, A.; Ito, Y.; Yokoyama, S. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 733.
7. Boer, E. A.; Bell, L. D.; Brongersma, M. L.; Atwater, H. A. J. Appl. Phys. 2001, 90, 2764.
8. Gordon, M. J.; Baron, T. Phys. Rev. B 2005, 72, 165420.
9. Mélin, T.; Diesinger, H.; Deresmes, D.; Stiévenard, D. Phys. Rev. B 2004, 69, 035321.
10. Diesinger, H.; Mélin, T.; Deresmes, D.; Stiévenard, D. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 3546.
11. Boer, E. A.; Brongersma, M. L.; Atwater, H. A.; Flagan, R. C.; Bell, L. D. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 791.
12. Boer, E. A.; Bell, L. D.; Brongersma, M. L.; Atwater, H. A. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 3133.
13. Bachtold, A.; Fuhrer, M. S.; Plyasunov, S.; Forero, M.; Anderson, E. H.; Zettl, A.; McEuen, P. L. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 6082.
14. Liang, Y.; Bonnel, D. A.; Goodhue, W. D.; Rathman, D. D.; Bozler, C. O. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 1147.
15. Hassenkam, T.; Greve, D. R.; Bjørnholm, T. Adv. Mater. 2001, 13, 631.
16. Jiang, J.; Krauss, T. D.; Brus, L. E. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 11936.
17. Huey, B. D.; Bonnell, D. A. Solid State Ionics 2000, 131, 51.
18. Kalinin, S. V.; Bonnell, D. A. Phys. Rev. B 2000, 62, 10419.
19. Krauss, T. D.; Brus, L. E. Mater. Sci. Eng., B 2000, 289, 69.
20. Krauss, T. D.; O'Brien, S.; Brus, L. E. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 1725.
21. Terris, B. D.; Stern, J. E.; Rugar, D.; Mamin, H. J. Phys. Rev. Lett. 1989, 63, 2669.
22. Schaadt, D. M.; Yu, E. T.; Sankar, S.; Berkowitz, A. E. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 472.
23. Krauss, T. D.; Brus, L. E. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 4840.
24. Dianoux, R.; Martins, F.; Marchi, F.; Alandi, C.; Comin, F.; Chevrier, J. Phys. Rev. B 2003, 68, 045403.
25. Mélin, T.; Deresmes, D.; Stiévenard, D. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 5054.
26. Mélin, T.; Diesinger, H.; Deresmes, D.; Stiévenard, D. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 166101.
27. Belaidi, S.; Girard, P.; Leveque, G. J. Appl. Phys. 1997, 81, 1023.
28. Cherniavskaya, O.; Chen, L. W.; Weng, V.; Yuditsky, L.; Brus, L. E. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 1525.
29. Qi, G. C.; Yan, H.; Guan, L.; Yang, Y. L.; Qiu, X. H.; Wang, C.; Li, Y. B.; Jiang, Y. P. J. Appl. Phys. 2008, 103, 114311.
30. Radmacher, M.; Fritz, M.; Hansma, H. G.; Hansma, P. K. Science 1994, 265, 1577.
31. Dunlap, D. D.; Maggi, A.; Soria, M. R.; Monaco, L. Nucleic Acids Res. 1997, 25, 3095.
32. Lyubchenko, Y. L.; Shlyakhtenko, L. S. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 1997, 94, 496.
33. Odelius, M.; Bernasconi, M.; Parrinello, M. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 2855.
34. Ewing, G. E. Chem. Rev. 2006, 106, 1511.
35. Xu, L.; Lio, A.; Hu, J.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 541.